The invention provides a composite buffer layer epitaxy structure for improving the production efficiency of LED. The epitaxy structure is a cascade structure consisting of sapphire substrate, composite buffer layer, unintentionally doped high temperature GaN layer, n-type GaN layer, InGaN/GaN multi-quantum well layer, p-type AlGaN layer and p-type GaN layer. The epitaxial structure of the invention has no low temperature GaN buffer layer between sapphire substrate and unintentionally doped high temperature GaN layer, only a composite buffer layer, and the composite buffer layer is Al2O3/AlN periodic structure prepared by non-MOCVD method. This structure can not only improve the luminous efficiency of GaN-based LED, but also improve the production efficiency and reduce the production cost.
【技术实现步骤摘要】
一种提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构
本专利技术属于GaN基LED生产领域,具体涉及一种提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构。
技术介绍
在GaN基LED的大规模生产中,外延生产是关键环节之一。外延生产中关键技术的采用推动了GaN基LED大规模应用,GaN基LED的大规模应用同时也促进了外延生产中关键技术的提高,它们是相辅相成,缺一不可的。在众多外延关键技术中,缓冲层技术发挥巨大作用。由于GaN与蓝宝石晶格失配严重,在GaN基LED的大规模外延生产中需要采用低温GaN缓冲层技术,以降低应力,提高GaN材料的晶体质量。为进一步提高GaN材料的晶体质量,中国专利CN106206897A提出一种GaN基LED外延结构的制造方法,该制造方法包括以下步骤:提供一平面型蓝宝石衬底,通过物理镀膜方式在蓝宝石衬底上沉积形成AlN缓冲层,将沉积AlN缓冲层的蓝宝石衬底置于MOCVD反应腔中,升温对AlN缓冲层进行退火,通过控制气氛及温度使AlN缓冲层形成局部富铝的金属态,然后在残余的AlN缓冲层上生长u-GaN层,最后在u-GaN层上依次生长n-GaN层、多量子阱发光层和p-GaN层。该方法仅采用AlN作为缓冲层,没有采用Al2O3缓冲层,GaN材料晶体质量还不够高。
技术实现思路
本专利技术针对现有生产技术存在的不足,提出一种提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构,该外延结构能够提高GaN基LED发光效率,提高生产效率,降低生产成本。本专利技术的目的通过以下技术方案来实现:一种提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构,其特征在于,所述的外延结构为由蓝宝石衬底、复合缓冲层 ...
【技术保护点】
1.一种提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构,其特征在于,所述的外延结构为由蓝宝石衬底、复合缓冲层、非故意掺杂高温GaN层、n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱层、p型AlGaN层和p型GaN层依次层叠的层叠结构,所述的复合缓冲层为Al2O3/AlN周期性结构,且该周期性结构通过蒸发、溅射、原子层沉积中的一种或多种组合制备。
【技术特征摘要】
1.一种提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构,其特征在于,所述的外延结构为由蓝宝石衬底、复合缓冲层、非故意掺杂高温GaN层、n型GaN层、InGaN/GaN多量子阱层、p型AlGaN层和p型GaN层依次层叠的层叠结构,所述的复合缓冲层为Al2O3/AlN周期性结构,且该周期性结构通过蒸发、溅射、原子层沉积中的一种或多种组合制备。2.根据权利要求1所述的提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构,其特征在于,所述的Al2O3/AlN周期性结构的周期数为m,2≤m≤100。3.根据权利要求1所述的提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构,其特征在于,所述的蓝宝石衬底为蓝宝石平面衬底或蓝宝石图形衬底。4.根据权利要求1所述的提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构,其特征在于,所述的复合缓冲层Al2O3/AlN周期性结构中Al2O3层和AlN层的厚度分别为α和β,0<α<50nm,0<β<50nm。5.根据权利要求1所述的提高LED生产效率的复合缓冲层外延结构,其特征在于,该外延结构通过如下步骤制成:(1)首先在蓝宝石衬底上采用原子层沉积方法制备Al2O3/AlN周期性结构,制备Al2O3层时,以三甲基铝和水为反应源,三甲基铝、吹扫、水和再吹扫的通入时间分别为0.2-0.5s、1-10s、0.1-0.5s、1-5s,生长温度为200-350℃,厚度为4-5nm;制备AlN层时,以三甲基铝和氨气为反应源,三甲基铝、吹扫、氨气和再吹扫的通入时间分别为0.2-0.5s、1-8s、0.1-0.5s、1-5s,生长温度为300-400℃,厚度为3.5-4.5nm,Al2O3/AlN周期性结构的周期数为2-5;待生长完成后,将...
【专利技术属性】
技术研发人员:孙一军,程志渊,盛况,周强,孙颖,
申请(专利权)人:浙江大学,
类型:发明
国别省市:浙江,33
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