控制器及其操作方法技术

技术编号:20007214 阅读:45 留言:0更新日期:2019-01-05 18:44
本发明专利技术公开一种控制器,其控制包括多个存储块的半导体存储器装置。控制器可以包括控制器控制单元和存储单元。控制器控制单元将多个存储块中的原始存储块的读取的次数与预定的复制生成参考值进行比较,确定是否要生成存储在原始存储块中的原始数据的复制数据,并生成对应于确定的命令。存储单元存储复制生成参考值和关于原始存储块的地址信息。

Controller and its operation method

The invention discloses a controller which controls a semiconductor memory device comprising a plurality of memory blocks. The controller may include a controller control unit and a storage unit. The controller control unit compares the reading times of the original storage blocks in the multiple storage blocks with the predetermined replication generation reference values, determines whether the replication data of the original data stored in the original storage blocks should be generated, and generates the corresponding commands. The storage unit stores replication to generate reference values and address information about the original storage block.

【技术实现步骤摘要】
控制器及其操作方法相关申请的交叉引用本申请要求于2017年6月27日提交的申请号为10-2017-0081376的韩国专利申请的优先权,其整体通过引用被并入本文。
本公开的各个示例性实施例总体涉及一种电子装置。特别地,各个示例性实施例涉及一种控制半导体存储器装置的控制器及其操作方法。
技术介绍
存储器装置可以形成为其中串被水平地布置在半导体衬底上的二维(2D)结构,或者其中串被竖直地堆叠在半导体衬底上的三维(3D)结构。3D存储器装置是为了解决2D存储器装置的集成限制而构思的存储器装置,并且3D存储器装置可以包括竖直地堆叠在半导体衬底上的多个存储器单元。
技术实现思路
本公开提供一种控制半导体存储器装置、从而使得半导体存储器装置被更可靠地操作的控制器。本公开提供一种控制半导体存储器装置、从而使得半导体存储器装置被更可靠地操作的控制器的操作方法。本公开的示例性实施例提供一种控制器,该控制器控制包括多个存储块的半导体存储器装置。控制器可以包括控制器控制单元和存储单元。控制器控制单元将对多个存储块中的原始存储块进行读取的读取计数值与预定的复制生成参考值进行比较,确定是否要生成存储在原始存储块中本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种控制包括多个存储块的半导体存储器装置的控制器,所述控制器包括:控制器控制单元,其被配置成将所述多个存储块中的原始存储块的读取计数值与预定的复制生成参考值进行比较,确定是否要生成存储在所述原始存储块中的原始数据的复制数据,并生成对应于所述确定的命令;以及存储单元,其被配置成存储所述复制生成参考值和关于所述原始存储块的地址信息。

【技术特征摘要】
2017.06.27 KR 10-2017-00813761.一种控制包括多个存储块的半导体存储器装置的控制器,所述控制器包括:控制器控制单元,其被配置成将所述多个存储块中的原始存储块的读取计数值与预定的复制生成参考值进行比较,确定是否要生成存储在所述原始存储块中的原始数据的复制数据,并生成对应于所述确定的命令;以及存储单元,其被配置成存储所述复制生成参考值和关于所述原始存储块的地址信息。2.根据权利要求1所述的控制器,其中所述存储单元可以包括:参考值存储单元,其被配置成存储所述复制生成参考值;读取计数存储单元,其被配置成存储所述原始存储块的所述读取计数值;以及映射表,其被配置成存储关于所述原始存储块的所述地址信息。3.根据权利要求2所述的控制器,其中所述控制器控制单元可以包括:读取计数比较单元,其被配置成从所述参考值存储单元接收所述复制生成参考值,从所述读取计数存储单元接收所述读取计数值,并且将所述复制生成参考值与所述读取计数值进行比较;映射表控制单元,其被配置成将所述地址信息存储在所述映射表中并且更新所述地址信息;以及命令生成单元,其被配置成生成命令,所述命令基于所述读取计数比较单元的比较结果生成所述复制数据。4.根据权利要求3所述的控制器,其中当所述命令生成单元生成用于生成所述复制数据的所述命令时,所述映射表控制单元将关于其中存储所述复制数据的复制存储块的地址信息存储在所述映射表中。5.根据权利要求4所述的控制器,其中响应于所述原始存储块的所述地址信息,所述复制存储块的所述地址信息被另外地存储。6.根据权利要求3所述的控制器,其中所述读取计数比较单元将所述原始存储块的所述读取计数值与预定的第一参考值进行比较,以及其中基于所述比较结果,所述映射表控制单元更新所述映射表以指向其中存储所述复制数据的所述复制存储块。7.根据权利要求6所述的控制器,其中所述读取计数比较单元将所述复制存储块的所述读取计数值与所述预定的第一参考值进行比较,以及其中基于所述比较结果,所述映射表控制单元更新所述映射表以指向其中存储所述原始数据的所述原始存储块。8.一种控制半导体存储器装置的控制器的操作方法,所述方法包括:控制所述半导体存储器装置读取第一块的数据,并且更新所述第一块的读取计数值;当所述第一块的所述读取计数值达到预定的复制生成参考值时,控制所述半导体存储器装置将所述第一块的数据复制到第二块;当所述第一块的所述读取计数值达到第一参考值时,控制所述半导体存储器装置读取所述第二块的数据;以及当所述第二块的读取计数值达到所述第一参考值时,控制所述半导体存储器装置读取所述第一块的数据。9...

【专利技术属性】
技术研发人员:李奎林金荣均
申请(专利权)人:爱思开海力士有限公司
类型:发明
国别省市:韩国,KR

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