一种超长使用寿命的射频测试头制造技术

本实用新型专利技术公开一种超长使用寿命的射频测试头，包括测试头连接座、测试头安装座、测试头保护套外壳体、测试头保护套、限位固定环、射频检测探针和测试头保护套内壳体，所述测试头连接座的顶部焊接有测试头安装座，所述测试头安装座的顶部表面上连接有测试头保护套外壳体，所述测试头连接座、测试头安装座和测试头保护套外壳体同轴线设置，所述测试头保护套外壳体的内部设置有测试头保护套内壳体，测试头保护套内壳体与测试头保护套外壳体同轴线设置，本实用新型专利技术在原本外露的射频检测探针的外部包裹设置有可以伸缩的测试头保护套，进而对射频检测探针提供保护，避免射频检测探针折断，从而延长射频测试头的使用寿命。

A Radio Frequency Testing Head with Extra Long Service Life

The utility model discloses an ultra-long service life radio frequency test head, which comprises a test head connecting seat, a test head mounting seat, a test head protective cover shell, a test head protective cover, a limit fixing ring, a radio frequency detection probe and an inner shell of the test head protective cover. The top of the test head connecting seat is welded with a test head mounting seat, and the top surface of the test head mounting seat is connected with a test head mounting seat. The outer shell of the protective cover of the test head is provided with a coaxial line of the connection seat of the test head, the installation seat of the test head and the outer shell of the protective cover of the test head. The inner shell of the protective cover of the test head is provided with an inner shell of the protective cover of the test head, and the inner shell of the protective cover of the test head and the outer shell of the protective cover of the protective cover of the test head are arranged with a coaxial line. The utility model is provided with an outer package of It is equipped with a retractable protective cover for the test head, which provides protection for the radio frequency detection probe, avoids the breakage of the radio frequency detection probe, and thus prolongs the service life of the radio frequency test head.

【技术实现步骤摘要】
一种超长使用寿命的射频测试头
本技术涉及测试头
，具体是一种超长使用寿命的射频测试头。
技术介绍
目前在智能手机测试中，通常都是用射频测试头与手机主板上的射频开关连接，射频测试头金属内芯深入射频开关内部与射频开关内金属簧片(或板端连接器金属内芯)连接导通。现有的射频测试头的射频检测探针一般位于射频测试头主体的外部，在测试过程中虽然方便检测，但是也常会因为操作不当造成射频检测探针折断的情况发生。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种超长使用寿命的射频测试头，以解决现有技术中的射频测试头的射频检测探针容易折断的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种超长使用寿命的射频测试头，包括测试头连接座、测试头安装座、测试头保护套外壳体、测试头保护套、限位固定环、射频检测探针和测试头保护套内壳体，所述测试头连接座的顶部焊接有测试头安装座，所述测试头安装座的顶部表面上连接有测试头保护套外壳体，所述测试头连接座、测试头安装座和测试头保护套外壳体同轴线设置，所述测试头保护套外壳体的内部设置有测试头保护套内壳体，测试头保护套内壳体与测试头保护套外壳体同轴线设置，且测试头保护套内壳体与测试头保护套外本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种超长使用寿命的射频测试头，包括测试头连接座(1)、测试头安装座(2)、测试头保护套外壳体(3)、测试头保护套(4)、限位固定环(8)、射频检测探针(11)和测试头保护套内壳体(6)，其特征在于：所述测试头连接座(1)的顶部焊接有测试头安装座(2)，所述测试头安装座(2)的顶部表面上连接有测试头保护套外壳体(3)，所述测试头连接座(1)、测试头安装座(2)和测试头保护套外壳体(3)同轴线设置，所述测试头保护套外壳体(3)的内部设置有测试头保护套内壳体(6)，测试头保护套内壳体(6)与测试头保护套外壳体(3)同轴线设置，且测试头保护套内壳体(6)与测试头保护套外壳体(3)一体成型，所述测试...

【技术特征摘要】
1.一种超长使用寿命的射频测试头，包括测试头连接座(1)、测试头安装座(2)、测试头保护套外壳体(3)、测试头保护套(4)、限位固定环(8)、射频检测探针(11)和测试头保护套内壳体(6)，其特征在于：所述测试头连接座(1)的顶部焊接有测试头安装座(2)，所述测试头安装座(2)的顶部表面上连接有测试头保护套外壳体(3)，所述测试头连接座(1)、测试头安装座(2)和测试头保护套外壳体(3)同轴线设置，所述测试头保护套外壳体(3)的内部设置有测试头保护套内壳体(6)，测试头保护套内壳体(6)与测试头保护套外壳体(3)同轴线设置，且测试头保护套内壳体(6)与测试头保护套外壳体(3)一体成型，所述测试头保护套内壳体(6)的外部表面与测试头保护套外壳体(3)的内部表面之间设置有弹簧安装槽(12)，所述弹簧安装槽(12)的内部安装有弹簧件(10)，所述测试头保护套(4)的底部设置有挤压环(5)，测试头保护套(4)安插在弹簧安装槽(12)的内部，挤压环(5)抵在弹簧件(10)的顶部表面上，测试头保护套(4)设置为空...

【专利技术属性】
技术研发人员：傅依常，傅玉荣，黄鑫，
申请(专利权)人：谷连精密机械深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44