光照强度测量系统技术方案

本发明专利技术提供的一种光照强度测量系统，包括：光电转换系统以及控制系统；光电转换系统包括光衰减模块以及光探测模块；其中，光衰减模块用于对光电转换系统接收到的待测光进行衰减；光探测模块用于接收经光衰减模块衰减后的衰减光，生成电信号，将电信号传输至控制系统；控制系统用于根据电信号确定待测光的强度参数。通过光衰减模块对待测光的衰减，使光照强度测量系统可测量的待测光的强度参数范围增大。

Illumination intensity measurement system

The light intensity measurement system provided by the invention includes: photoelectric conversion system and control system; photoelectric conversion system includes optical attenuation module and optical detection module; in which the optical attenuation module is used to attenuate the light received by the photoelectric conversion system; and the optical detection module is used to receive attenuated light attenuated by the optical attenuation module to generate electrical signals and to attenuate the electrical signals. Transmission to the control system; the control system is used to determine the intensity parameters of the light to be measured according to the electrical signals. By using the light attenuation module to deal with the attenuation of the photometry, the range of the intensity parameters to be measured by the illumination intensity measurement system is enlarged.

【技术实现步骤摘要】
光照强度测量系统
本专利技术涉及光学
，具体而言，涉及一种光照强度测量系统。
技术介绍
无论是公共场所的光照标定、农业植物光照探测，还是军用夜视试验、逆反射材料试验、车灯故障检测或者实验研究等方面，照度计都具有重要的应用价值。目前，市场上的照度计测量范围较小，无法实现大范围的测量。
技术实现思路
本专利技术提供一种光照强度测量系统，以解决无法测量大范围微弱散射光照强度的问题。为了实现上述目的，本专利技术实施例所提供的技术方案如下所示：本专利技术实施例提供一种光照强度测量系统，包括：光电转换系统以及控制系统；所述光电转换系统包括光衰减模块以及光探测模块；其中，所述光衰减模块用于对所述光电转换系统接收到的待测光进行衰减；所述光探测模块用于接收经所述光衰减模块衰减后的衰减光，生成电信号，将所述电信号传输至所述控制系统；所述控制系统用于根据所述电信号确定所述待测光的强度参数。在本专利技术的可选实施例中，所述光衰减模块包括至少一个衰减片、与每一所述衰减片对应连接的电机以及与所述电机对应连接的驱动器；所述驱动器用于接收控制信号，根据所述控制信号驱动所述电机，以使所述电机将所述衰减片调整至目标位置。在本专利技术的可选实施例中，所述控制系统还用于根据所述电信号生成所述控制信号；所述驱动器用于从所述控制系统接收所述控制信号。在本专利技术的可选实施例中，所述光探测模块为光电倍增管；所述衰减光从所述光电倍增管的阴极射入，并转换为电信号从所述光电倍增管的阳极输出。在本专利技术的可选实施例中，所述控制系统包括控制器、信号处理模块以及存储模块；所述信号处理模块用于接收所述光电倍增管的阳极输出的所述电信号，对所述电信号进行处理，将处理后的电信号传输至所述控制器；所述控制器用于根据所述处理后的电信号确定所述待测光的所述强度参数，并将所述待测光的所述强度参数存储于所述存储模块中。在本专利技术的可选实施例中，所述控制器根据所述处理后的电信号确定所述待测光的所述强度参数，包括：根据所述光电倍增管的阳极光照灵敏度Sp以及所述光电倍增管的阳极输出电流Ip计算得到所述光电倍增管的阴极接收光通量φv：根据所述光电倍增管的所述阴极接收光通量φv以及所述光电倍增管的阴极表面单位面积A计算得到所述光电倍增管的阴极照度Ev：和/或根据所述光电倍增管的所述阴极接收光通量φv以及所述光电倍增管的阴极光照灵敏度Sk计算得出所述光电倍增管的阴极输出电流Ik：在本专利技术的可选实施例中，所述控制器根据所述电信号确定所述待测光的所述强度参数，还包括：根据所述光电倍增管的所述阴极输出电流Ik以及所述光电倍增管的阴极辐射灵敏度Se计算得出所述光电倍增管的阴极辐射光通量φe：在本专利技术的可选实施例中，所述信号处理模块包括：放大电路以及模数转换电路；所述放大电路用于放大所述光电倍增管的所述阳极输出的所述电信号；所述模数转换电路用于将放大后的电信号转换为数字信号，并将所述数字信号传输至所述控制器。在本专利技术的可选实施例中，所述控制系统还包括：显示模块；所述显示模块包括显示子模块以及按键控制子模块；所述显示子模块用于输出所述待测光的所述强度参数，所述按键控制子模块用于控制所述显示子模块。在本专利技术的可选实施例中，所述系统还包括：暗盒；所述暗盒内设置有所述衰减片以及所述光探测模块；所述暗盒一端开设通孔，所述待测光从所述通孔射入，经过所述衰减片的衰减后射入所述光探测模块。本专利技术实施例提供的一种光照强度测量系统，包括：光电转换系统以及控制系统；所述光电转换系统包括光衰减模块以及光探测模块；其中，所述光衰减模块用于对所述光电转换系统接收到的待测光进行衰减；所述光探测模块用于接收经所述光衰减模块衰减后的衰减光，生成电信号，将所述电信号传输至所述控制系统；所述控制系统用于根据所述电信号确定所述待测光的强度参数。通过所述光衰减模块对所述待测光的衰减，使所述光照强度测量系统可测量的所述待测光的强度参数范围增大。为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本专利技术实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种光照强度测量系统的结构框图；图2为本专利技术实施例提供的另一种光照强度测量系统的结构框图；图3为本专利技术实施例提供的光衰减模块的结构框图；图4为本专利技术实施例提供的一种光照强度测量装置的示意图；图5为本专利技术实施例提供的一种光照强度测量装置的示意图。图标：10-光照强度测量系统；100-光电转换系统；110-光衰减模块；111-衰减片；112-电机；113-驱动器；120-光探测模块；121-光电倍增管；200-控制系统；210-控制器；220-信号处理模块；230-存储模块；240-显示模块；241-显示子模块；242-按键控制子模块；250-电源模块；251-电源插孔；310-遮光筒；320-通孔。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中”、“上”、“下”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接。可以是机械连接，也可以是电性连接。可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。下面结合附图，对本专利技术的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。本专利技术实施例提供一种光照强度测量系统10，请参照图1和图2，图1为本专利技术实施例提供的一种光照强度测量系统的结构框图，图2为本专利技术实施本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光照强度测量系统，其特征在于，包括：光电转换系统以及控制系统；所述光电转换系统包括光衰减模块以及光探测模块；其中，所述光衰减模块用于对所述光电转换系统接收到的待测光进行衰减；所述光探测模块用于接收经所述光衰减模块衰减后的衰减光，生成电信号，将所述电信号传输至所述控制系统；所述控制系统用于根据所述电信号确定所述待测光的强度参数。

【技术特征摘要】
1.一种光照强度测量系统，其特征在于，包括：光电转换系统以及控制系统；所述光电转换系统包括光衰减模块以及光探测模块；其中，所述光衰减模块用于对所述光电转换系统接收到的待测光进行衰减；所述光探测模块用于接收经所述光衰减模块衰减后的衰减光，生成电信号，将所述电信号传输至所述控制系统；所述控制系统用于根据所述电信号确定所述待测光的强度参数。2.根据权利要求1所述的光照强度测量系统，其特征在于，所述光衰减模块包括至少一个衰减片、与每一所述衰减片对应连接的电机以及与所述电机对应连接的驱动器；所述驱动器用于接收控制信号，根据所述控制信号驱动所述电机，以使所述电机将所述衰减片调整至目标位置。3.根据权利要求2所述的光照强度测量系统，其特征在于，所述控制系统还用于根据所述电信号生成所述控制信号；所述驱动器用于从所述控制系统接收所述控制信号。4.根据权利要求1-3任一项所述的光照强度测量系统，其特征在于，所述光探测模块为光电倍增管；所述衰减光从所述光电倍增管的阴极射入，并转换为电信号从所述光电倍增管的阳极输出。5.根据权利要求4所述的光照强度测量系统，其特征在于，所述控制系统包括控制器、信号处理模块以及存储模块；所述信号处理模块用于接收所述光电倍增管的阳极输出的所述电信号，对所述电信号进行处理，将处理后的电信号传输至所述控制器；所述控制器用于根据所述处理后的电信号确定所述待测光的所述强度参数，并将所述待测光的所述强度参数存储于所述存储模块中。6.根据权利要求5所述的光照强度测量系统，其特征在于，所述控制器根据所述处理后的电...

【专利技术属性】
技术研发人员：高飞，华灯鑫，辛文辉，汪丽，袁芳苗，南恒帅，
申请(专利权)人：西安理工大学，
类型：发明
国别省市：陕西,61