光学检测设备制造技术

本实用新型专利技术提供了一种光学检测设备，包括：透明圆盘、进料机构、检测机构以及排料机构；所述进料机构、所述检测机构以及所述排料机构依次设置在所述透明圆盘的圆周内侧或外侧；所述检测机构包括光学检测器件、支架以及双轴俯仰台，所述光学检测器件通过所述双轴俯仰台连接在所述支架上，所述双轴俯仰台包括：第一俯仰块、第二俯仰块以及第三俯仰块，所述第一俯仰块的上侧与所述第二俯仰块的下侧之间通过第一连接轴连接，所述第二俯仰块的上侧与所述第三俯仰块的下侧之间通过第二连接轴连接，所述第一连接轴的轴向和所述第二连接轴的轴向垂直。本实用新型专利技术结构简单，成本低廉，圆环形的结构结合多个工位，整体运行高效、稳定。

Optical testing equipment

The utility model provides an optical testing device, which comprises a transparent disc, a feeding mechanism, a testing mechanism and a discharging mechanism; the feeding mechanism, the testing mechanism and the discharging mechanism are arranged in turn on the inside or outside of the circumference of the transparent disc; the testing mechanism comprises an optical detecting device, a bracket and a biaxial pitching table through which the optical detecting device is connected. The two-axis elevation platform is connected to the bracket through the first connecting axis. The two-axis elevation platform includes the first elevation block, the second elevation block and the third elevation block. The upper side of the first elevation block and the lower side of the second elevation block are connected by the second connecting axis. The first one is connected by the second connecting axis between the upper side of the second elevation block and the lower side of the third elevation block. The axis of the connecting shaft is perpendicular to the axis of the second connecting shaft. The utility model has the advantages of simple structure, low cost, and a circular structure combined with a plurality of work stations, so that the overall operation is efficient and stable.

【技术实现步骤摘要】
光学检测设备
本技术涉及机床结构领域，具体地，涉及光学检测设备。
技术介绍
光学检测主要是通过光学器件对物料进行尺寸、外观的检测，传统的光学检测设备普遍存在检测效率低下的问题，同时光学器件的位置、角度调节不便甚至无法调节，从而对于不同形状、尺寸的物料的监测受到了限制。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本技术的目的是提供一种光学检测设备。根据本技术提供的一种光学检测设备，包括：透明圆盘、进料机构、检测机构以及排料机构；所述进料机构、所述检测机构以及所述排料机构依次设置在所述透明圆盘的圆周内侧或外侧；所述检测机构包括光学检测器件、支架以及双轴俯仰台，所述光学检测器件通过所述双轴俯仰台连接在所述支架上，所述双轴俯仰台包括：第一俯仰块、第二俯仰块以及第三俯仰块，所述第一俯仰块的上侧与所述第二俯仰块的下侧之间通过第一连接轴连接，所述第二俯仰块的上侧与所述第三俯仰块的下侧之间通过第二连接轴连接，所述第一连接轴的轴向和所述第二连接轴的轴向垂直。较佳的，所述第一连接轴两侧的所述第一俯仰块上分别开设有螺孔，所述第二连接轴两侧的所述第三俯仰块上分别开设有螺孔，所述螺孔内连接有调节螺杆。较佳的，所述双轴俯仰台本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学检测设备，其特征在于，包括：透明圆盘、进料机构、检测机构以及排料机构；所述进料机构、所述检测机构以及所述排料机构依次设置在所述透明圆盘的圆周内侧或外侧；所述检测机构包括光学检测器件、支架以及双轴俯仰台，所述光学检测器件通过所述双轴俯仰台连接在所述支架上，所述双轴俯仰台包括：第一俯仰块、第二俯仰块以及第三俯仰块，所述第一俯仰块的上侧与所述第二俯仰块的下侧之间通过第一连接轴连接，所述第二俯仰块的上侧与所述第三俯仰块的下侧之间通过第二连接轴连接，所述第一连接轴的轴向和所述第二连接轴的轴向垂直。

【技术特征摘要】
1.一种光学检测设备，其特征在于，包括：透明圆盘、进料机构、检测机构以及排料机构；所述进料机构、所述检测机构以及所述排料机构依次设置在所述透明圆盘的圆周内侧或外侧；所述检测机构包括光学检测器件、支架以及双轴俯仰台，所述光学检测器件通过所述双轴俯仰台连接在所述支架上，所述双轴俯仰台包括：第一俯仰块、第二俯仰块以及第三俯仰块，所述第一俯仰块的上侧与所述第二俯仰块的下侧之间通过第一连接轴连接，所述第二俯仰块的上侧与所述第三俯仰块的下侧之间通过第二连接轴连接，所述第一连接轴的轴向和所述第二连接轴的轴向垂直。2.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述第一连接轴两侧的所述第一俯仰块上分别开设有螺孔，所述第二连接轴两侧的所述第三俯仰块上分别开设有螺孔，所述螺孔内连接有调节螺杆。3.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述双轴俯仰台还包括锁紧片，所述锁紧片上开设有圆孔以及腰型孔，分别通过螺杆连接在所述第一俯仰块和所述第二俯仰块的同侧，以及连接在所述第二俯仰块和所述第三俯仰块的同侧。4.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特征在于，所述第一俯仰块、所述第二俯仰块、所述第三俯仰块、所述第一连接轴以及所述第二连接轴为一体成型。5.根据权利要求1所述的光学检测设备，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：张权，吕明高，刘开先，杜国徽，
申请(专利权)人：上海安稷实业有限公司，
类型：新型
国别省市：上海,31