【技术实现步骤摘要】
一种双T型栅及制作方法和应用
本专利技术属于微电子器件制造领域,尤其涉及一种双T型栅及制作方法和应用。
技术介绍
在砷化镓/氮化镓射频毫米波单片集成电路上,栅长是影响微波器件性能的一个重要参数,在一定条件下,栅长与器件频率直接相关,减小栅长能够大幅提高器件的频率和增益性能。T型栅是为了减小栅电阻而普遍采用的一种栅形状,如中国专利CN201611237056.4中揭示的T型栅,从其附图可以看出,T型栅包括栅足和栅帽,栅足生长在AlGaN/GaN外延层上,栅帽直接覆盖在介质钝化层上。又如中国专利CN201410005454中揭示的T型栅,从其附图中可以看出,T型栅包括栅足和栅帽,栅足穿过介质钝化层,栅足生长在AlGaN/GaN外延层上,栅帽悬空,不与介质钝化层接触。缩小栅长是提升性能的最直接办法,但是随着栅长尺寸的不断减小,栅极金属易脱落,T型栅的成品质量不断下降,因此,采用何种工艺方法制作T型栅是十分重要的。在T型栅制备的工艺上,常用的方法是:采用复合胶工艺以及电子束直写曝光方式,采用多次曝光的方法,并利用不同显影液对胶的显影速度的差别,形成T型栅。为了获得更高的截 ...
【技术保护点】
1.一种双T型栅,生长在具有介质钝化层的衬底上,其特征在于:包括栅足、栅根和栅帽,栅足和栅根形成第一级T型栅,栅根和栅帽形成第二级T型栅,栅帽悬空,栅足穿过介质钝化层生长在衬底上。
【技术特征摘要】
1.一种双T型栅,生长在具有介质钝化层的衬底上,其特征在于:包括栅足、栅根和栅帽,栅足和栅根形成第一级T型栅,栅根和栅帽形成第二级T型栅,栅帽悬空,栅足穿过介质钝化层生长在衬底上。2.根据权利要求1所述的一种双T型栅,其特征在于:栅足的线宽为70~150nm。3.根据权利要求1所述的一种双T型栅,其特征在于:栅帽与介质钝化层的距离为100~350nm。4.根据权利要求1所述的一种双T型栅,其特征在于:栅帽为等腰梯形,栅根和栅足为方形。5.根据权利要求1所述的一种双T型栅,其特征在于:介质钝化层的厚度为50~100nm。6.根据权利要求1所述的一种双T型栅,其特征在于:第二级T型栅为Γ形。7.一种双T型栅的制作方法,其特征在于:包括以下步骤:1)提供一衬底,于衬底上沉积一介质钝化层;2)于介质钝化层上涂布PMMA电子束光刻胶并烘烤,在PMMA电子束光刻胶上涂布I-Line负型光刻胶或DUV光刻胶并烘烤;3)I-Line负型光刻胶或DUV光刻胶曝光与显影,用氧气等离子体处理,去除PMMA电子束光刻胶与I-Line负型光刻胶之间的互溶层或与DUV光刻胶之间的互溶层,形成栅帽的图形;4)电子束曝光及PMMA电子束光刻胶的显影,形成栅根的图形;5)介质钝化层的干法蚀刻层,形成栅足的图形,以露出衬底;6)氧气等离子体处理,扩展栅根...
【专利技术属性】
技术研发人员:何先良,卢青,蔡文必,王文平,
申请(专利权)人:厦门市三安集成电路有限公司,
类型:发明
国别省市:福建,35
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