盆式绝缘子表面电荷快速测量方法、装置和计算机设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种盆式绝缘子表面电荷快速测量方法、装置和计算机设备，其方法包括：从弧面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；从斜面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；当完成一条路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；重复以上步骤直至完成所述盆式绝缘子表面电荷的测量。采用该技术方案能够完成盆式绝缘子等大面积不规则形状结构表面电荷的快速测量。

【技术实现步骤摘要】
盆式绝缘子表面电荷快速测量方法、装置和计算机设备
本专利技术涉及高电压设备、绝缘材料和静电测量
，具体而言，涉及一种盆式绝缘子表面电荷快速测量方法、装置和计算机设备。
技术介绍
绝缘材料表面电荷的测量属于静电测量的范畴，不能用传统的电工仪表进行测量。目前，表面电荷的测量方法主要包括粉尘图法，基于Pockels效应的光学测量方法和静电探头法。粉尘图法最初由Lichtenberg于1778年提出，其原理是利用某些带电的有色固体(如带正电的红色的Pb3O4，带负电的白黄色的S)，会与绝缘子表面的电荷发生吸附效应，比如负电荷会吸附带正电的Pb3O4，正电荷会吸附带负电的S。当将这些特殊的固体粉末喷洒在介质表面时，可以根据介质表面的这些固体粉末的颜色分布来判断介质表面的电荷极性及电荷分布。其优点是方便、直观，缺点是不能定量表征表面电荷，且在喷洒粉尘过程中，可能改变介质表面的电荷分布。Pockels效应光学测量方法即线性电光效应法，对于不具有对称中心的晶体来说，当其处在电场中时，其折射率的变化与所加的电场强度成正比关系，即在电场不太强时已经表现得比较明显,因而可以通过测量电场作用下晶体折射率的变化来反映电场的变化，但此方法只适用于透明薄膜，对盆式绝缘子固体表面并不适合。GIS盆式绝缘子表面为不规则形状，包括弧面部分与斜面部分，需设置两个探头进行表面电荷的测量。盆式绝缘子表面积较大，如果进行逐一电荷测量，短时间内难以完成，而表面电荷在长时间测量过程中的电荷消散亦会对测量结果的准确性带来影响。综上所述，对GIS盆式绝缘子等大面积不规则形状来说，亟待提出一种表面电荷的快速测量方法，降低表面电荷的测量时间，减小电荷消散对于表面电荷测量结果准确性的影响。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供盆式绝缘子表面电荷快速测量方法及装置，能够完成盆式绝缘子等大面积不规则形状结构表面电荷的快速测量。本专利技术实施例提供的盆式绝缘子表面电荷快速测量方法，包括：从弧面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；从斜面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；当完成一条路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；定位到下一测量路径后，在弧面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；在斜面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点表面电荷的测量；当完成所述路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；循环操作直至完成所述盆式绝缘子表面电荷的测量。可选地，所述弧面部分及斜面部分的起始测量点为弧面部分和斜面部分距离高压电极最远的测量点。可选地，所述弧面探头与斜面探头之间相对位置为180°。可选地，所述斜面探头与弧面探头沿绝缘子径向方向运动为分时运动，沿绝缘子表面圆周方向运动预设角度为同时运动。可选地，通过探头操控机构同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径。可选地，还包括，根据所述盆式绝缘子的形状、尺寸，确定表面径向电荷测量路径及各个路径之间的预设角度间隔。可选地，在每一条径向测量路径上设置测量点，并确定各个径向测量点之间的间距，形成测量点矩阵。本专利技术还提供了一种盆式绝缘子表面电荷快速测量装置，包括弧面探头，斜面探头和探头操控机构，所述弧面探头用于沿弧面部分径向测量路径移动完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；所述斜面探头用于沿斜面部分径向测量路径移动完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；当完成一条路径的电荷测量后，所述探头操控机构用于同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径。在一个实施中，一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：从弧面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；从斜面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；当完成一条路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；定位到下一测量路径后，在弧面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；在斜面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点表面电荷的测量；当完成所述路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；循环操作直至完成所述盆式绝缘子表面电荷的测量。在一个实施例中，一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤；从弧面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；从斜面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；当完成一条路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；定位到下一测量路径后，在弧面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；在斜面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点表面电荷的测量；当完成所述路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；循环操作直至完成所述盆式绝缘子表面电荷的测量。由上可见，应用本实施例技术方案，由于采用表面电荷的测量起始点为距离高压电极距离最远的位置，有效的避免了该位置表面电荷消散过快对于测量结果带来的影响。同时采用圆周方向表面电荷感应探头的运动形式为同步运动，沿绝缘子径向探头测量轨迹为“S型”，能够有效的减小探头移动带来的额外的测量时间。附图说明图1为本专利技术提供的一种盆式绝缘子表面电荷快速测量方法流程图；图2为本专利技术提供的一种盆式绝缘子表面电荷快速测量示意图；图3为本专利技术提供的一种盆式绝缘子表面电荷快速测量装置框图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。本专利技术实施例提供的盆式绝缘子表面电荷快速测量方法，如图1所示，包括：S100、从弧面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；S200、从斜面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；S300、当完成一条路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；S400、定位到下一测量路径后，在弧面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；S500、在斜面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点表面电荷的测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种盆式绝缘子表面电荷快速测量方法，其特征在于，包括：从弧面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；从斜面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；当完成一条路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；定位到下一测量路径后，在弧面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；在斜面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点表面电荷的测量；当完成所述路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；循环操作直至完成所述盆式绝缘子表面电荷的测量。

【技术特征摘要】
1.一种盆式绝缘子表面电荷快速测量方法，其特征在于，包括：从弧面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；从斜面部分起始径向测量路径的起始测量点开始向高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；当完成一条路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；定位到下一测量路径后，在弧面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动弧面探头完成既定路径测量点位置处表面电荷测量；在斜面部分沿绝缘子表面径向远离高压电极侧移动斜面探头完成既定路径测量点表面电荷的测量；当完成所述路径的电荷测量后，同时移动弧面探头和斜面探头沿圆周方向运动预设角度，定位到下一测量路径；循环操作直至完成所述盆式绝缘子表面电荷的测量。2.如权利要求1所述的盆式绝缘子表面电荷快速测量方法，其特征在于，所述弧面部分及斜面部分的起始测量点为弧面部分和斜面部分距离高压电极最远的测量点。3.如权利要求1或2所述的盆式绝缘子表面电荷快速测量方法，其特征在于，所述弧面探头与斜面探头之间相对位置为180°。4.如权利要求3所述的盆式绝缘子表面电荷快速测量方法，其特征在于，所述斜面探头与弧面探头沿绝缘子径向方向运动为分时运动，沿绝缘子表面圆周方向运动预设角度为同时运动。...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈勉之，李晓，高春嘉，齐波，王伟，庞志开，蔡汉贤，张梦慧，郭倩雯，卢学容，罗伟良，黄飞强，郑方晴，
申请(专利权)人：广州供电局有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44