一种测量折射率的设备及方法技术

本申请提供了一种用于测量折射率的设备和方法，该设备包括：光束入射装置，用于发出垂直入射到岩石薄片表面的第一光束和第二光束，其中，第一光束和第二光束为相干光束，第二光束穿过岩石薄片中的目标矿物得到第三光束；光束处理装置，用于对第一光束和第三光束叠加并滤波后输出目标光束；样品台，设置于光束入射装置和光束处理装置之间，用于放置岩石薄片；数据处理装置，其与光束处理装置连接，用于检测目标光束并根据目标光束计算目标矿物的折射率。通过该设备和方法，能够快速且准确地测出岩石薄片薄片中目标矿物的折射率。

【技术实现步骤摘要】
一种测量折射率的设备及方法
本专利技术涉及地学和石油地质研究领域，并且更具体地，涉及一种用于测量岩石薄片中目标矿物折射率的设备及方法。
技术介绍
在矿物学中，矿物折射率是反映矿物成分、晶体结构的非常重要的常数之一，是矿物种属鉴别的可靠依据。自然界绝大多数目标矿物的折射率介于1.4～2.0之间。在地质研究中通常将岩石或矿物磨制成厚度约0.03mm的薄片，在偏光显微镜下观察矿物的光学性质和测定光学常数，为准确识别矿物并为岩石命名提供依据。对于在岩石薄片中直接测定目标矿物折射率，目前一共有三种方法：(1)有经验的鉴定人员主要通过一系列矿物界面之间的光学现象来判别矿物和树胶之间或邻近矿物之间的相对折射率高低，这些现象包括糙面、突起和贝克线等。(2)ThomasE.Laskowski和DavidM.Scotford(1981)提出一种利用色散油浸法在岩石薄片中测定目标矿物折射率的方法，原理为当白色平行光束射到液体-颗粒边界时，会色散呈不同波长的光线，其中大部分光线会在液体边界上发生偏离并在射到物镜后焦平面时被阻，只有一束光方向不变并可以通过矿物到达物象面，因此颗粒将呈现有色边缘，而颜色即表示液本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量折射率的设备，其特征在于，包括：光束入射装置，用于发出垂直入射到岩石薄片表面的第一光束和第二光束，其中，所述第一光束和所述第二光束为相干光束，所述第二光束穿过所述岩石薄片中的目标矿物以得到第三光束；光束处理装置，用于对所述第一光束和所述第三光束叠加并滤波后输出目标光束；样品台，设置于所述光束入射装置和所述光束处理装置之间，用于放置所述岩石薄片；数据处理装置，其与所述光束处理装置连接，用于检测所述目标光束并根据所述目标光束计算所述目标矿物的折射率。

【技术特征摘要】
1.一种测量折射率的设备，其特征在于，包括：光束入射装置，用于发出垂直入射到岩石薄片表面的第一光束和第二光束，其中，所述第一光束和所述第二光束为相干光束，所述第二光束穿过所述岩石薄片中的目标矿物以得到第三光束；光束处理装置，用于对所述第一光束和所述第三光束叠加并滤波后输出目标光束；样品台，设置于所述光束入射装置和所述光束处理装置之间，用于放置所述岩石薄片；数据处理装置，其与所述光束处理装置连接，用于检测所述目标光束并根据所述目标光束计算所述目标矿物的折射率。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述光束入射装置包括：光源，用于发出入射光束；第一光纤耦合器，用于将所述入射光束分路为所述第一光束和所述第二光束。3.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，所述光束处理装置包括：第二光纤耦合器，用于将所述第一光束和所述第三光束叠加以产生干涉并获得叠加光束；差分电路，其与所述数据处理装置连接，用于对所述叠加光束进行差分和滤波处理并输出所述目标光束。4.根据权利要求1或2所述的设备，其特征在于，所述数据处理装置包括：检测器，其与所述差分电路相连，用于检测所述目标光束并生成目标光束信号；图像处理单元，与所述检测器相连，用于接收所述检测器发送的所述目标光束信号，并根据所述目标光束信号计算所述目标矿物的折射率。5.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述光束入射装置还包括：偏...

【专利技术属性】
技术研发人员：余晓露，蒋宏，马中良，席斌斌，鲍芳，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：北京,11