一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板制造技术

本实用新型专利技术涉及到一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板。其包括金刚石晶体镀膜、硒化锌晶体板和高分子材料固定座；所述金刚石晶体镀膜为金刚石晶体镀在硒化锌晶体板上表面形成的膜；所述硒化锌晶体板呈梯形，固定在高分子材料固定座上。与现有技术相比，本实用新型专利技术将金刚石晶体镀于硒化锌晶体表面作为红外光谱用反射元件，可避免硒化锌晶体表面涂覆高温、腐蚀性样品时造成的划痕、对实验结果造成影响这一缺陷，使反射元件的使用寿命大大提高，价格大大降低；红外辐射束投射到此复合梯形反射元件上，经过20～50次全内反射，在样品中的总穿透深度大大增加，可以获得令人满意的谱图，更有利于类似于沥青等特殊样品的红外光谱技术研究。

【技术实现步骤摘要】
一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板
本技术属分析仪器
，具体来说，涉及到一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板。
技术介绍
红外光谱仪作为分析研究物质结构组成的手段，应用非常广泛，其各种拓展应用的测量附件也为数众多。其中衰减全反射附件(以下称为ATR附件)在实际应用中，从一开始便显示出其独特的优势和广阔的应用前景。由于其并不需要透过样品的信号，而是通过样品表面的反射信号获得样品表层有机成分的结构信息，不但简化了样品的制作过程，而且极大地扩大了红外光谱法的应用范围，使许多采用传统透过法无法制样、或者样品制备过程十分复杂、难度大、而效果又不理想的实验成为可能。因此，被广泛应用于塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成分分析。红外光在样品表面的探测深度与附件晶体的折射率相关，且探测深度越深，检测信号越强。目前常用的ATR晶体材料有：KSR-5、锗(Ge)、氯化银(AgCl)、溴化银(AgBr)、硅(Si)等，根据反射次数的不同又有单点衰减全反射附件和多重衰减全反射附件。经过一次衰减全反射即单点衰减全反射，光透入样品深度有限，样品对光吸收较少，因此光束能量变化也很小，所得本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板，其特征在于，包括金刚石晶体镀膜(1)、硒化锌晶体板(2)和高分子材料固定座(3)；所述金刚石晶体镀膜(1)为金刚石晶体镀在硒化锌晶体板(2)上表面形成的膜；所述硒化锌晶体板(2)呈梯形，固定在高分子材料固定座(3)上。

【技术特征摘要】
1.一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板，其特征在于，包括金刚石晶体镀膜(1)、硒化锌晶体板(2)和高分子材料固定座(3)；所述金刚石晶体镀膜(1)为金刚石晶体镀在硒化锌晶体板(2)上表面形成的膜；所述硒化锌晶体板(2)呈梯形，固定在高分子材料固定座(3)上。2.根据权利要求1所述的一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板，其特征在于，所述金刚石晶体镀膜(1)的厚度为120-200纳米。3.根据权利要求1所述的一种红外光谱用耐磨型衰减全反射晶体板，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨喜英，陈梦，史文秀，周亚军，张帅，刘鹏飞，胡国鹏，张瑞斌，
申请(专利权)人：山西省交通科学研究院，
类型：新型
国别省市：山西,14