用于清洁测量探头的探针的设备制造技术

本发明专利技术涉及一种用于清洁测量探头(2)的探针(1)的设备，所述设备包括：清洁室(4)，其用于在清洁处理期间容纳所述探针(1)，所述清洁室(4)包括开口(5)，所述开口用于将所述探针(1)引入所述清洁室(4)中、以及从所述清洁室中移除所述探针；供给装置(7)，其用于将诸如清洁液体或气雾剂的清洁剂和/或诸如空气的干燥剂供给到用于清洁和/或干燥所述探针(1)的所述清洁室(4)中。本发明专利技术还涉及这种设备和测量机的组件。

【技术实现步骤摘要】
用于清洁测量探头的探针的设备本申请为申请号201480060322.3、申请日2014年10月29日的名为“用于清洁测量探头的探针的设备”的专利申请的分案申请。
本专利技术涉及一种用于清洁测量探头的探针的设备。
技术介绍
为了测量物体而会使用测量机，该测量机包括具有探针的测量探头。测量设备可以是任意类型的测量设备，例如3D测量设备。尤其，该测量设备可以是处理机的用于测量处理机的工具的部分。如果测量探头的探针被污染，例如如果灰尘或其他颗粒附着到测量探头的探针上，则测量可能不会被精确地进行。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于清洁测量探头的探针的设备。尤其，本专利技术的目的在于提供一种用于在测量处理期间清洁所述探针的设备。通过根据前序部分所述的设备来实现该目的，所述设备包括：-清洁室，其用于在清洁处理期间容纳所述探针，所述清洁室包括开口，所述开口用于将所述探针引入所述清洁室中、以及用于从所述清洁室中移除所述探针；以及-供给装置，其用于将诸如清洁液体或气雾剂的清洁剂和/或诸如空气的干燥剂供给到用于清洁和/或干燥所述探针的所述清洁室中。根据本专利技术的所述设备提供清洁室，在所述清洁室本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测量探头探针清洁设备，用于清洁测量探头的探针，所述设备包括：‑清洁室，所述清洁室用于在清洁处理期间容纳所述探针，所述清洁室包括开口，所述开口用于将所述探针引入所述清洁室中、以及用于从所述清洁室中移除所述探针；‑供给装置，所述供给装置用于将诸如清洁液体或气雾剂的清洁剂和/或诸如空气的干燥剂供给到用于清洁和/或干燥所述探针的所述清洁室中。

【技术特征摘要】
2013.10.31 NL 20117101.一种测量探头探针清洁设备，用于清洁测量探头的探针，所述设备包括：-清洁室，所述清洁室用于在清洁处理期间容纳所述探针，所述清洁室包括开口，所述开口用于将所述探针引入所述清洁室中、以及用于从所述清洁室中移除所述探针；-供给装置，所述供给装置用于将诸如清洁液体或气雾剂的清洁剂和/或诸如空气的干燥剂供给到用于清洁和/或干燥所述探针的所述清洁室中。2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述供给装置包括向所述清洁室中排放的至少三个供给开口或喷嘴，以将所述清洁剂和/或所述干燥剂供给到所述清洁室中。3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述供给开口或喷嘴以基本相等的角距离间隔开，并且被布置为将所述清洁剂和/或所述干燥剂供给到一公共位置，所述探针能够在清洁和/或干燥期间位于该公共位置。4.根据前述权利要求2至3中任一项所述的设备，其中，所述供给开口或所述喷嘴的排出开口的最大直径为4mm，优选地为1mm，更优选地为0.5mm，甚至更优选地所述喷嘴的排出开口具有近似0.2mm的直径。5.根据前述权利要求中任一项所述的设备，所述设备包括以下部件中的至少一个：-压力调节器，所述压力调...

【专利技术属性】
技术研发人员：格哈杜斯·亨德里克斯·阿尔贝图斯·绍普曼，
申请(专利权)人：FGJ拉姆汀克管理有限公司，
类型：发明
国别省市：荷兰,NL