一种验证SDRAM的随机测试用例的生成方法技术

本发明专利技术公开了一种验证SDRAM的随机测试用例的生成方法，以被验证SDRAM的特征参数和验证需求为程序生成入口限制条件，根据SDRAM的状态机跳变图约束限制指令的组合生成随机测试程序方法，保证了测试验证程序的有效性和高效性，对提高SDRAM测试覆盖率具有重要意义；本发明专利技术的方法以单指令模板库和固定指令组合库作为生成测试程序的基础，在被验证对象SDRAM的技术升级换代后，只要对指令库进行更新，根据被验证的SDRAM进行参数约束就可适应新的测试验证需求，无需进行大量的数据库更新维护，适用范围广泛。

【技术实现步骤摘要】
一种验证SDRAM的随机测试用例的生成方法
本专利技术属于存储器设计分析验证
，涉及一种验证SDRAM的随机测试用例的生成方法。
技术介绍
同步动态随机存储器(SynchronousDynamicRandomAccessMemory，简称SDRAM)具有存取速度快、存储密度高、单位存储单元成本低的优势，广泛应用于计算机的主存。SDRAM技术飞速发展，已经由第一代的SDR经由DDR、DDR2、DDR3发展到了DDR4和DDR5。目前，DDR3已广泛的应用于各类计算机中，DDR4产品已经推向市场，内存厂商已开始进行DDR5产品的开发。JEDEC对每一代SDRAM产品标准的制定，为SDRAM成功应用起到了重要作用，进行SDRAM设计分析、验证都要遵循JEDEC制定的SDRAM标准。由内部功能划分，SDRAM的结构主要是由地址控制、逻辑控制、数据传输控制和存储阵列四大功能部分组成。除了工艺尺寸的不断缩小，单MOS管和数据存储电容作为SDRAM的存储阵列单元结构没有变化；其它三个功能部分则随着SDRAM技术的更新换代不断更新变化。针对地址、数据粘连、固“0”、固“1”等不同故障模型而开发本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种验证SDRAM的随机测试用例的生成方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：建立SDRAM操作指令模板，将操作指令分为单指令和固定组合指令，生成单指令库和固定指令组合库，用于指令的随机调用，以构建测试命令组合生成测试程序；步骤2：提取被验证SDRAM的特征参数，以限制命令的随机组合间的时钟周期间隔，避免生成超标的测试验证程序，使操作指令序列间的时钟周期间隔满足SDRAM工作指标要求；步骤3：设定被验证SDRAM的允许工作模式，以确定SDRAM的工作状态；确定模式寄存器和扩展模式寄存器操作指令的操作数遍历范围，对逻辑功能验证相关的参数范围进行设定；步骤4：根据验证要重点覆盖功能模块，对生成...

【技术特征摘要】
1.一种验证SDRAM的随机测试用例的生成方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：建立SDRAM操作指令模板，将操作指令分为单指令和固定组合指令，生成单指令库和固定指令组合库，用于指令的随机调用，以构建测试命令组合生成测试程序；步骤2：提取被验证SDRAM的特征参数，以限制命令的随机组合间的时钟周期间隔，避免生成超标的测试验证程序，使操作指令序列间的时钟周期间隔满足SDRAM工作指标要求；步骤3：设定被验证SDRAM的允许工作模式，以确定SDRAM的工作状态；确定模式寄存器和扩展模式寄存器操作指令的操作数遍历范围，对逻辑功能验证相关的参数范围进行设定；步骤4：根据验证要重点覆盖功能模块，对生成随机测试程序附加限制条件，以提高生成测试程序的执行效率；步骤5：根据前述4个步骤的限制条件，对测试指令进行合成；根据生成的指令对SRRAM的状态进行更新，进行随机指令序列组合的合法性过滤选择，滤除非法指令序列，生成有效的测试程序；对随机指令序列组合进行导向性限制，保证测试程序的高效性，提高随机测试程序的质量。2.根据权利要求1所述的验证SDRAM的随机测试用例的生成方法，其特征在于，步骤1的具体方法如下：步骤1.1：以被验证SDRAM数据手册中的命令真值表为依据，用TCL语言建立SDRAM允许的所有操作指令模板；步骤1.2：将单指令模板分为两类；根据SDRAM的状态机转换图，将独立执行就能够改变SDRAM状态的指令模板组成独立操作指令库；将必须通过固定顺序组合对SDRAM进行操作才具有实际意义的指令模型按照固定顺序组合，构成固定组合操作指令库。3.根据权利要求1所述的验证SDRAM的随机测试用例的生成方法，其特征在于，步骤2的具体方法如下：步骤2.1：对于同一种SDRAM内存颗粒的设计，Bank地址和行地址相同，而列地址和数据线I/O范围相关；根据SDRAM存储阵列结构，确定Bank地址、行地址、列地址和数据线I/O的范围；步骤2.2：时间参数的数值化处理，根据完成预充电时间tRP、行列地址锁存时间tRC、读写时间tRCD等绝对的时间参数和SDRAM的时钟周期tCK大小，绝对时间参数除以时钟周期，在能够整除的情况下，直接取商作为数值化结果；在有余数的情况下，不论余数的大小均进行进位。4.根据权利要求1所述的验证SDRAM的随机测试用例的生成方法，其特征在于，步骤3的具体方法如下：步骤3.1：模式寄存器操作数范围设定：0/1选择读写突发长度BL为4或8；0/1选择突发类型BT为串行或间隔；000～111对应选择列地址选通后数据等待2～9个时钟周期；0/1选择是否允许数字逻辑锁定复位；步骤3.2：扩展模式寄存器操作数范围设定：0/1选择是否使能数字逻辑锁定功能；0/1选择单端/差分数据采集模式；0/1选择8位I/O数据线结构时输出数据获取模式；0/1选择输出数据和数据采集功能使能/不使能；000～111对应选择列地址选通附加数据等待2～...

【专利技术属性】
技术研发人员：李春，张晓敏，王会敏，
申请(专利权)人：西安微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：陕西,61