一种含灰质地层的电阻率曲线校正方法技术

本发明专利技术公开了一种含灰质地层的电阻率曲线校正方法，包括以下步骤：利用薄片分析数据与对灰质响应较为敏感的测井曲线响应值建立相应的数学模型，计算灰质含量；再分析岩心分析灰质含量与logRT增大倍数的交会图，通过回归分析建立电阻率灰质含量校正模型，对电阻率进行灰质校正。本发明专利技术的含灰质地层的电阻率曲线校正方法，利用岩心分析的灰质含量和电阻率等曲线建立模型求取灰质含量，并针对复杂砂砾岩储层的特点及测井响应特征，合理建立模型校正电阻率。

【技术实现步骤摘要】
一种含灰质地层的电阻率曲线校正方法
本专利技术属于地球物理勘探领域，尤其是涉及一种含灰质地层的电阻率曲线校正方法。
技术介绍
岩石电阻率的大小是岩石矿物的电阻率、矿物的含量分布、含水饱和度、孔隙度、地层水矿化度、温度等诸多因素综合影响的结果。一般岩石骨架矿物不导电，导电物质主要是地层水，而传导通路主要是孔隙和孔喉通道。在碎屑岩储层中，灰质多以钙质胶结物的形式存在，钙质电阻率高，并且容易堵塞孔喉通道，所测的电阻率一般高于地层真实电阻率，难以有效反映地层岩性的真实情况。钙质储层容易定性识别，在常规测井上呈现“三低两高”(低声波时差、低密度、低自然伽马、高补偿中子、高电阻率)的响应特征。对于钙质含量的确定和钙质校正，国内外学者也进行了大量研究：张宇晓等(1995)利用相对电阻率法得到储层的钙质校正系数，进行电阻率钙质校正。诸葛月英等(2006)和张建荣(2006)分别利用自然伽马和三孔隙度曲线和岩心分析的钙质含量，建立了特定地区储层钙质含量计算模型，并在实现了对储层电阻率进行了钙质校正。王敏等(2009)在钙质模型的基础上，采用截距法来校正钙质含量对电阻率的影响。上述学者都采用特定的方法对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种含灰质地层的电阻率曲线校正方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、利用薄片分析数据与对灰质响应较为敏感的测井曲线响应值建立相应的数学模型，计算灰质含量；S2、再分析岩心分析灰质含量与logRT增大倍数的交会图，通过回归分析建立电阻率灰质含量校正模型，对电阻率进行灰质校正。

【技术特征摘要】
1.一种含灰质地层的电阻率曲线校正方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、利用薄片分析数据与对灰质响应较为敏感的测井曲线响应值建立相应的数学模型，计算灰质含量；S2、再分析岩心分析灰质含量与logRT增大倍数的交会图，通过回归分析建立电阻率灰质含量校正模型，对电阻率进行灰质校正。2.根据权利要求1所述的含灰质地层的电阻率曲线校正方法，其特征在于：所述步骤S1中灰质含量计算的具体过程为：S10、研究含钙储层的测井响应特征，挑选出对灰质含量敏感的测井曲线(AC、RT)；S11、利用薄片分析试验数据(VCa)与对灰质响应较为敏感的声波时差(AC)、深侧向电阻率(RT)曲线和岩心孔隙度(POR)建立灰质含量求取模型，即建立(VCa/POR)和归一化后的logRT/AC)的交会图，根据如下回归方程计算灰质含量：式中：V(C...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵军，覃建华，曹刚，王英伟，李维，袁松珊，王菲菲，
申请(专利权)人：西南石油大学，
类型：发明
国别省市：四川,51