一种LED灯条点亮测试机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种LED灯条点亮测试机构，包括下模和设于下模上的电路板，还包括上模、设于上模上方的拍摄装置，电路板上平行排布有若干组测试单元，每组测试单元均包括多个LED发光灯，电路板上对应于每组测试单元均设有至少两个触点，触点包括分别设于每组测试单元中对应两侧LED发光灯外侧的主触点，上模包括上模座，上模座上对应于每组测试单元均设有分别用于与对应主触点相接触导电的正极探针和负极探针，上模座上穿设固定有与各LED发光灯一一对应设置的若干导光片并藉由导光片将LED发光灯发出的光源导至拍摄装置。本实用新型专利技术能够同时对多组测试单元进行检测，提升检测效率，检测过程中无需人工手动操作，节约时间成本，检测精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种LED灯条点亮测试机构
本技术涉及一种LED灯条点亮测试机构。
技术介绍
在LED灯条的生产加工过程中，通常需要对电路板上的LED发光灯进行点亮测试环节，通过检测LED发光灯能否全部正常点亮从而判断LED灯条的出厂质量是否合格。现有技术中，通常利用两根分别连接有电源的正负测试探针逐条检测LED灯条，正测试探针连接电路板的正极，负测试探针连接电路板的负极，观察LED灯条上的LED发光灯是否全部正常点亮，但是实际测试过程中，逐条的对LED灯条进行检测会极大的限制检测效率，增加时间成本，而且检测精度低。
技术实现思路
本技术解决的技术问题是提供一种LED灯条点亮测试机构。本技术的技术方案是：一种LED灯条点亮测试机构，包括下模和设于所述下模上的电路板，还包括与所述下模相配合使用的上模、以及设于所述上模上方的拍摄装置，所述电路板上平行排布有若干组测试单元，每组所述测试单元均包括多个横向间隔分布的LED发光灯，所述电路板上对应于每组测试单元均设有至少两个触点，所述触点包括分别设于每组测试单元中对应两侧LED发光灯外侧的主触点，所述上模包括上模座，所述上模座上对应于每组测试单元均设有分别用于与对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED灯条点亮测试机构，包括下模（1）和设于所述下模（1）上的电路板（3），其特征在于：还包括与所述下模（1）相配合使用的上模（2）、以及设于所述上模（2）上方的拍摄装置，所述电路板（3）上平行排布有若干组测试单元，每组所述测试单元均包括多个横向间隔分布的LED发光灯（4），所述电路板（3）上对应于每组测试单元均设有至少两个触点，所述触点包括分别设于每组测试单元中对应两侧LED发光灯（4）外侧的主触点（5），所述上模（2）包括上模座（21），所述上模座（21）上对应于每组测试单元均设有分别用于与对应主触点（5）相接触导电的正极探针（6）和负极探针（7），所述上模座（21）上穿设固定有与...

【技术特征摘要】
1.一种LED灯条点亮测试机构，包括下模（1）和设于所述下模（1）上的电路板（3），其特征在于：还包括与所述下模（1）相配合使用的上模（2）、以及设于所述上模（2）上方的拍摄装置，所述电路板（3）上平行排布有若干组测试单元，每组所述测试单元均包括多个横向间隔分布的LED发光灯（4），所述电路板（3）上对应于每组测试单元均设有至少两个触点，所述触点包括分别设于每组测试单元中对应两侧LED发光灯（4）外侧的主触点（5），所述上模（2）包括上模座（21），所述上模座（21）上对应于每组测试单元均设有分别用于与对应主触点（5）相接触导电的正极探针（6）和负极探针（7），所述上模座（21）上穿设固定有与各LED发光灯（4）一一对应设置的若干导光片（8）并藉由所述导光片（8）将所述LED发光灯（4）发出的光源导至所述拍摄装置。2.根据权利要求1所述的一种LED灯条点亮测试机构，其特征在于：所述触点还包括分别设于每组测试单元中任意两个相邻的LED发光灯（4）之间的辅触点（9）。3.根据权利要求2所述的一种LED灯条点亮测试机构，其特征在于：所述上模座（...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢钰峰，覃福正，
申请(专利权)人：苏州日和科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32