一种带吸尘装置的分析天平制造方法及图纸

技术编号:19840986 阅读:28 留言:0更新日期:2018-12-21 22:39
本实用新型专利技术涉及一种带吸尘装置的分析天平,包括底座,底座上方设置有称台,底座与称台之间置有重力传感器,称台上方设有封闭罩,称台上方的封闭罩设有遥控控制吸尘装置,能够吸取在分析天平称台以及周边的粉尘以及使用分析天平时称取物品时洒落在称台周边的杂物,能够有效防止杂物对分析天平重力传感器的影响,提高称重准确度。通过吸尘装置,可以有效的清除称台上以及周边称量时洒落的杂物以及空气中的粉尘,能够有效的防止杂物以及粉尘对称中传感的影响,同时可以避免用毛刷清理杂物时刮花称量台而导致称量误差,从而提高称量的准确度。

【技术实现步骤摘要】
一种带吸尘装置的分析天平
本技术涉及一种带吸尘装置的分析天平。
技术介绍
目前实验室所用的分析天平在称量物品时,由于人为因素失误将所称量物品洒落以及长时间使用导致空气中的粉尘堆积在称台以及周边位置,从而会对电子分析天平的称重传感器产生影响,同时使用毛刷等清理杂物时刮花称量台和重力传感器而导致称量误差,继而影响称量准确度。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有的技术缺陷,提供一种带有吸尘装置的分析天平,可以清除称量时洒向称台以及周边的杂物以及长时间使用而导致在称台上堆积的空气中的粉尘。从而防止对称重传感器的干扰和影响。为实现上述目的,本技术的技术方案是提供一种带吸尘装置的分析天平,包括底座,底座上方设有称台,所述的底座以及称台中间设有称重传感器,底座上方设有操作面板,所述的称台上设有封闭罩,称台上方的封闭罩下设有遥控控制吸尘装置,所述的吸尘装置还配有遥控器。进一步的,所述的吸尘装置通过挂钩方式固定于封闭罩内。进一步的,所述的吸尘装置的为充电式吸尘装置。进一步的,所述的吸尘装置配有遥控装置,以便于清除称台以及周边的杂物。本带吸尘装置的分析天平,其有益效果在于:通过吸尘装置,可以有效的清除称台上以及周边称量时洒落的杂物以及空气中的粉尘,能够有效的防止杂物以及粉尘对称中传感的影响,同时可以避免用毛刷清理杂物时刮花称量台而导致称量误差,从而提高称量的准确度。附图说明图1为本技术的示意图。图中:挂钩1、吸尘装置2、封闭罩3、操作面板4、滚轮5、底座6、称重传感器7、扣扭8、称量台9。具体实施方式下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步描述。如图1所示,一种带吸尘装置的分析天平,包括底座6,底座6上方设置有称台9,所述底座6与称台9之间置有重力传感器7,所述称台9上方设有封闭罩3,称台9上方的封闭罩3设有遥控控制吸尘装置2,封闭罩上设有挂钩1,吸尘装置2通过挂钩1固定在封闭罩3内。使用时,先用遥控器打开吸尘装置2,将称台9以及周围的杂物跟粉尘清理干净,以便于使用电子分析天平称量时更为准确,待电量耗尽后,从挂钩1上去下扣扭8,将吸尘装置2去下清洗以及进行充电,以便于继续使用。如图1所示,吸尘装置电量耗尽后可取下吸尘装置进行充电,进而持续使用。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带吸尘装置的分析天平,其特征在于:包括底座,底座上方设置有称台,所述底座与称台之间置有重力传感器,所述称台上方设有封闭罩,称台上方的封闭罩设有遥控控制吸尘装置,能够吸取在分析天平称台以及周边的粉尘以及使用分析天平时称取物品时洒落在称台周边的杂物,能够有效防止杂物对分析天平重力传感器的影响,提高称重准确度。

【技术特征摘要】
1.一种带吸尘装置的分析天平,其特征在于:包括底座,底座上方设置有称台,所述底座与称台之间置有重力传感器,所述称台上方设有封闭罩,称台上方的封闭罩设有遥控控制吸尘装置,能够吸取在分析天平称台以及周边的粉尘以及使用分析天平时称取物品时洒落在称台周边的杂物,能够有效防止杂物对分析天平重力传感器的影响,提高称重准确度。2.如权利要求1所述的带吸尘装置的分析天平,其特征在于:所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:尧章伟方建军代宗张琳赵敏捷张玲郑润浩刘丽娟
申请(专利权)人:昆明理工大学
类型:新型
国别省市:云南,53

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