一种坏块标记的方法以及相关装置制造方法及图纸

技术编号:19820672 阅读:45 留言:0更新日期:2018-12-19 14:18
本发明专利技术实施例公开了一种坏块处理的方法,包括:当第一目标数据处理错误时,对所述第一目标数据进行软解码操作;若所述第一目标数据软解码成功,则判断所述第一目标数据的损坏数据量是否大于第一预设阈值;若所述损坏数据量大于所述第一预设阈值,则判断目标物理块出现数据处理失败的次数是否达到第二预设阈值;若所述目标物理块出现数据处理失败的次数达到所述第二预设阈值,则标记所述目标物理块为坏块。本发明专利技术实施例还公开了一种坏块处理装置。本发明专利技术实施例根据判断坏块标记的时机,有效地平衡固态硬盘的使用寿命和读写效率之间的关系,提升了系统的抗错误能力以及可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种坏块标记的方法以及相关装置
本专利技术涉及数据处理
,尤其涉及一种坏块标记的方法以及相关装置。
技术介绍
随着互联网、云计算、物联网以及大数据等技术的发展及广泛应用,每时每刻都需要对海量数据进行处理和存储,因此,对存储系统的性能提出了更高的要求。而固态硬盘(SolidStateDrives,SSD)因为其具有读写速度快以及能耗低等特点,被广泛的应用。SSD由主控芯片以及闪存芯片组成,通常闪存芯片的类型为与非型闪存(nandflash),主控芯片负责SSD内部的管理,闪存芯片负责存储数据。SSD中的主控芯片具有一项数据处理的功能,错误检查和纠正机制(errorcorrectingcode,ECC)。目前ECC中常用的纠错编码为低密度奇偶校验码(low-densityparitycheck,LDPC),ECC采用LDPC进行纠错,纠错的机制可分为软解码(softdecoding)以及硬解码(harddecoding),其中硬解码为正常读操作中必要的步骤,软解码为当正常读操作出现失败时进行的步骤,用于降低数据错误率。在ECC机制中,主控芯片可以通过电压仿真指令调节闪存芯片中读取电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种坏块标记的方法,其特征在于,包括:当第一目标数据处理错误时,对所述第一目标数据进行软解码操作;若所述第一目标数据软解码成功,则判断所述第一目标数据的损坏数据量是否大于第一预设阈值;若所述损坏数据量大于所述第一预设阈值,则判断目标物理块出现数据处理失败的次数是否达到第二预设阈值,所述目标物理块用于存储所述第一目标数据;若所述目标物理块出现数据处理失败的次数达到所述第二预设阈值,则标记所述目标物理块为坏块。

【技术特征摘要】
1.一种坏块标记的方法,其特征在于,包括:当第一目标数据处理错误时,对所述第一目标数据进行软解码操作;若所述第一目标数据软解码成功,则判断所述第一目标数据的损坏数据量是否大于第一预设阈值;若所述损坏数据量大于所述第一预设阈值,则判断目标物理块出现数据处理失败的次数是否达到第二预设阈值,所述目标物理块用于存储所述第一目标数据;若所述目标物理块出现数据处理失败的次数达到所述第二预设阈值,则标记所述目标物理块为坏块。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第一目标数据进行软解码操作之后,所述方法还包括:若所述第一目标数据软解码失败,则标记所述目标物理块为坏块。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述判断所述第一目标数据的损坏数据量是否大于第一预设阈值之后,所述方法还包括:若所述损坏数据量小于或等于所述第一预设阈值,则确定所述第一目标数据处理正确,并返回所述第一目标数据至主控芯片。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述判断当前存储所述第一目标数据的物理块出现数据处理失败的次数是否达到第二预设阈值之后,所述方法还包括:若所述目标物理块出现数据处理失败的次数未达到所述第二预设阈值,则向闪存芯片发送电压仿真指令,所述电压仿真指令用于指示所述闪存芯片调节读电压后从所述目标物理块中读取数据。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,向所述闪存芯片所述发送电压仿真指令之后,所述方法还包括:接收所述闪存芯片发送的第二目标数据,所述第二目标数据为所述闪存芯片根据所述电压仿真指令调节读电压后从所述目标物理块中读取的数据;使用所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员:吕玉彬戚勇
申请(专利权)人:浪潮电子信息产业股份有限公司
类型:发明
国别省市:山东,37

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