一种新型原子荧光光度计制造技术

技术编号:19816657 阅读:38 留言:0更新日期:2018-12-19 13:00
本发明专利技术属于光度计技术领域,尤其涉及一种新型原子荧光光度计,包括原子荧光光度计主体,设置在所述原子荧光光度计主体上的取样开槽,以及设置在所述取样开槽上的样针,还包括设置在所述取样开槽上的限位杆,套接设置在所述限位杆上且位于所述样针下方位置处的样品架,设置在所述样品架下表面上的永磁铁片,以及设置在所述取样开槽上并通过通电后电生磁方式以用于向上排斥顶起所述样品架进而完成所述样针伸入取样操作的磁力顶起单元。本发明专利技术具有取样结构简单有效,取样操作方便快捷、灵活高效,以及光度计使用效果好的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种新型原子荧光光度计
本专利技术属于光度计
,尤其涉及一种新型原子荧光光度计。
技术介绍
原子荧光光度计,利用硼氢化钾或硼氢化钠作为还原剂,将样品溶液中的待分析元素还原为挥发性共价气态氢化物(或原子蒸汽),然后借助载气将其导入原子化器,在氩-氢火焰中原子化而形成基态原子,而基态原子吸收光源的能量变成激发态,激发态原子在去活化过程中将吸收的能量以荧光的形式释放出来,此荧光信号的强弱与样品中待测元素的含量成线性关系,因此通过测量荧光强度就可以确定样品中被测元素的含量。原子荧光光度计与原子吸收分光光度计略有不同,后者根据物质基态原子蒸汽对特征辐射吸收的作用来进行金属元素分析,两者在元素含量分析过程中可以相互配合,补充使用。现有的原子荧光光度计一般包括光路系统、原子化器以及分析系统三部分,其中分析系统从样品架和样针开始,还包括后续的气液处理结构,其中样品架在放置样品管后需要样针伸入取样,存在操作繁复的问题,所以市场上急需一款方便取样的原子荧光光度计。专利公告号为CN206248549U,公告日为2017.06.13的中国技术专利公开了一种原子荧光光度计,包括机架、样品架、还原剂瓶、对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种新型原子荧光光度计,包括原子荧光光度计主体(1),设置在所述原子荧光光度计主体(1)上的取样开槽(2),以及设置在所述取样开槽(2)上的样针(3),其特征在于:还包括设置在所述取样开槽(2)上的限位杆(4),套接设置在所述限位杆(4)上且位于所述样针(3)下方位置处的样品架(5),设置在所述样品架(5)下表面上的永磁铁片(6),以及设置在所述取样开槽(2)上并通过通电后电生磁方式以用于向上排斥顶起所述样品架(5)进而完成所述样针(3)伸入取样操作的磁力顶起单元(7)。

【技术特征摘要】
1.一种新型原子荧光光度计,包括原子荧光光度计主体(1),设置在所述原子荧光光度计主体(1)上的取样开槽(2),以及设置在所述取样开槽(2)上的样针(3),其特征在于:还包括设置在所述取样开槽(2)上的限位杆(4),套接设置在所述限位杆(4)上且位于所述样针(3)下方位置处的样品架(5),设置在所述样品架(5)下表面上的永磁铁片(6),以及设置在所述取样开槽(2)上并通过通电后电生磁方式以用于向上排斥顶起所述样品架(5)进而完成所述样针(3)伸入取样操作的磁力顶起单元(7)。2.根据权利要求1所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述限位杆(4)上设有支撑板(8),所述样品架(5)包括设置在所述支撑板(8)上的架体底板(501),设置在所述架体底板(501)上的安装柱(502),设置在所述安装柱(502)上的上板(503),以及设置在所述架体底板(501)和所述上板(503)上的样品管槽孔(504),所述永磁铁片(6)为环状,设置在所述架体底板(501)下表面上。3.根据权利要求1所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述磁力顶起单元(7)包括设置在所述取样开槽(2)上的电磁铁部(701),用于向所述电磁铁部(701)供电的直流干电池(702),以及用于控制所述电磁铁部(701)电路通断的电力控制部(703),所述电磁铁部(701)、直流干电池(702)以及电力控制部(703)通过连接导线串联。4.根据权利要求3所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述电磁铁部(701)的数量为5-8个,按均匀圆周排列方式设置在所述取样开槽(2)上,所述电磁铁部(701)之间相互串联。5.根据权利要求3所述的一种新型原子荧光光度计,其特征在于:所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:周玲慧廖桂陶冯琴琴倪晓芳
申请(专利权)人:湖州中一检测研究院有限公司
类型:发明
国别省市:浙江,33

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