【技术实现步骤摘要】
一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置
本专利技术涉及望远镜光学系统装调以及整机系统性能测试中收发同轴的配准，特别适用于反射式望远镜装调过程中，望远镜光学系统光轴与标准平面镜法线的配准与实时监测。还适用于标定相对的两块反射镜面的夹角、两块光学平板的夹角等其他光校领域。
技术介绍
激光测高测距仪、激光雷达等空间反射式空间相机光学系统载荷，对于光轴指向要求越来越高，必然导致光学系统在光校过程中，对于光轴配准要求越来越高。空间相机载荷在自准直光校过程中，经常采用大口径标准平面镜作为参考，将光学系统光轴与标准平面镜法线标定为平行。传统标定方法是采用经纬仪或者全站仪。首先，与光学系统光轴调至平行；然后，将经纬仪光轴旋转180度，调节平面镜，使得其法线与经纬仪光轴平行。这样建立基准将会引入多种误差，经纬仪的固定误差，调节经纬仪水平的零位误差，旋转经纬仪引入的旋转误差等，其过程繁琐，重复精度不高，难以实现光校过程光轴的实时监测。因此，在光校过程中，如何提高光学系统光轴基准与标准平面镜法线的平行度，提高二者配准的重复精度，实现实时监测，是光学装校领域需要解决的问题。专利技术...
【技术保护点】
1.一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置，包括一号激光二极管(1)，二号激光二极管(2)，一号准直透镜(3)，二号准直透镜(4)，一号平行平板(5)，二号平行平板(6)，立方棱镜(7)，辅助装置光电自准直仪(8)，其特征在于：所述的立方棱镜光校装置位于望远镜测试装置光路中间，左侧为带有光轴基准镜的反射式或透射式望远镜，右侧为参考平面镜，分别位于一号准直透镜(3)和二号准直透镜(4)焦面位置的一号激光二极管(1)和二号激光二极管(2)出射准直激光到立方棱镜(7)的A和B面上，透射一号平行平板(5)和二号平行平板(6)，形成异向的接近180度的两束激光，分别到达望远镜光...
【技术特征摘要】
1.一种用于瞄准监测望远镜光轴的立方棱镜光校装置，包括一号激光二极管(1)，二号激光二极管(2)，一号准直透镜(3)，二号准直透镜(4)，一号平行平板(5)，二号平行平板(6)，立方棱镜(7)，辅助装置光电自准直仪(8)，其特征在于：所述的立方棱镜光校装置位于望远镜测试装置光路中间，左侧为带有光轴基准镜的反射式或透射式望远镜，右侧为参考平面镜，分别位于一号准直透镜(3)和二号准直透镜(4)焦面位置的一号激光二极管(1)和二号激光二极管(2)出射准直激光到立方棱镜(7)的A和B面上，透射一号平行平板(5)和二号平行平板(6)，形成异向的接近180度的两束激光，分别到达望远镜光学系统的光轴基准镜上与测试参考平面镜上，调整本装置的角度，使到光学系统的光轴基准镜的激光光束原路返回到号激光二极管(1)出射口，再调整测试参考平面镜，使得入射至参考平面镜的激光光束反射后原路返回二号激光二极管(2)出射口；辅助测试设备光电自准直仪(8)出射十字叉丝激光，同时入射到立方棱镜(7)的D和C面上，反射后分别透射过平行度优于3秒的一号平行平板(5)和二号平行平板(6)，形成180度的两束平行光，分别到达望远镜光学系统的光轴基准镜与测试参...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘强，王欣，窦永昊，黄庚华，何志平，舒嵘，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：上海,31
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