一种检测光栅贴合偏移的方法、系统及存储介质技术方案

本发明专利技术涉及一种检测光栅贴合偏移的方法、系统及存储介质，该检测方法包括：获取待检测装置的当前显示图像；获取当前显示图像的非正常显示区域，根据当前显示图像的非正常显示区域计算待检测装置光栅贴合的水平偏移量或角度偏移量。本发明专利技术实施例获取待检测装置当前显示图像，并获取当前显示图像中的非正常显示区域，根据非正常显示区域的参数确认该待检测装置的光栅的贴合情况，本发明专利技术实施例实现了快速确认光栅贴合是否出现偏移，并对偏移量进行计算，方便用户根据计算结果对光栅贴合进行调整，保证每一个待检测装置的显示效果。

【技术实现步骤摘要】
一种检测光栅贴合偏移的方法、系统及存储介质
本专利技术涉及光栅领域，尤其涉及一种检测光栅贴合偏移的方法、系统及存储介质。
技术介绍
目前，对于竖直贴合(角度为90°)的光栅结构，如果贴合过程中的水平偏移过大(超过合理的范围，一般为1/10的光栅结构长度)会造成左右图像的偏移，进而在屏幕中央的3D图像会出现较大程度的串扰，影响到显示的效果。倾斜设计的光栅结构在一定程度上是为了减弱摩尔纹，但在实际的工艺过程中，尤其是在贴合的过程中贴合的角度容易出现偏差，一旦检测到光栅的贴合角度超出合理的范围，合理的范围一般为±0.1°，这样会造成摩尔纹出现进而影响到显示的效果。因此，对光栅贴合是否出现偏移进行检测是非常必需的。
技术实现思路
第一方面，本专利技术实施例为了解决上述技术问题，提供了一种检测光栅贴合偏移的方法，包括：获取待检测装置的当前显示图像；获取所述当前显示图像的非正常显示区域，根据所述当前显示图像的非正常显示区域计算所述待检测装置光栅贴合的水平偏移量或角度偏移量。基于上述技术方案，本专利技术实施例还可以做出如下改进。结合第一方面，在本专利技术的第一种实施方式中，所述获取所述当前显示图像的非本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测光栅贴合偏移的方法，其特征在于，包括：获取待检测装置的当前显示图像；获取所述当前显示图像的非正常显示区域；根据所述非正常显示区域计算所述待检测装置光栅贴合的水平偏移量或角度偏移量。

【技术特征摘要】
1.一种检测光栅贴合偏移的方法，其特征在于，包括：获取待检测装置的当前显示图像；获取所述当前显示图像的非正常显示区域；根据所述非正常显示区域计算所述待检测装置光栅贴合的水平偏移量或角度偏移量。2.根据权利要求1所述的检测光栅贴合偏移的方法，其特征在于，所述获取所述当前显示图像的非正常显示区域，具体包括：获取所述待检测装置的原始显示图像；将所述当前显示图像与所述原始显示图像进行比对，确认所述当前显示图像是否发生水平偏移或角度偏移；当光栅贴合发生水平偏移时，将所述当前显示图像与所述原始显示图像的颜色进行比对，获取所述当前显示图像的非正常显示区域；当光栅贴合发生角度偏移时，所述当前显示图像的显示区域均为所述非正常显示区域。3.根据权利要求2所述的检测光栅贴合偏移的方法，其特征在于，所述当光栅贴合发生水平偏移时，将所述当前显示图像与所述原始显示图像的颜色进行比对，获取所述当前显示图像的非正常显示区域，具体包括：将所述当前显示图像划分为多个形状规则的显示区域；将每个所述显示区域与原始显示图像中相应的区域进行颜色比对，确认显示异常的所述显示区域；将所有显示异常的所述显示区域合并，作为所述当前显示图像的非正常显示区域。4.根据权利要求3所述的检测光栅贴合偏移的方法，其特征在于，所述根据所述非正常显示区域计算所述待检测装置光栅贴合的水平偏移量，具体包括：当所述当前显示图像发生水平偏移时，获取所述非正常显示区域的面积；将所述非正常显示区域的面积代入如下计算公式计算所述待检测装置光栅贴合的水平偏移量：M＝kΔP+n；其中，M为所述非正常显示区域的面积，ΔP为所述水平偏移量，k、n为常数。5.根据权利要求2所述的检测光栅贴合偏移的方法，其特征在于，所述根据所述非正常显示区域计算所述待检测装置光栅贴合的角度偏移量，具体包括：当所述当前显示图像发生角度偏移时，获取所述非正常显示区域中斜条纹的数量；将所述非正常显示区域中斜条纹的数量代入如下计算公式计算所述待检测装置光栅贴合的角度偏移量：S＝a0Δθn+a1Δθn-1+a2Δθn-2......+an；其中，S为所述非正常显示区域中...

【专利技术属性】
技术研发人员：王红磊，
申请(专利权)人：深圳超多维科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44