用于测量齿形旋转物体的周向齿形轮廓的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种用于测量齿形旋转物体的周向齿形轮廓的方法和装置。根据该解决方案，可以通过相对低成本的装置(1)来精确和快速地测量许多齿形旋转物体(90)的各种周向齿形轮廓(93)。简而言之，本发明专利技术的主要特征是通过两个不对称且锋利的示踪手指(11，12)的检测跟踪动作形成的，其中所述检测跟踪动作发生在示踪手指和周向齿之间的相反旋转方向(41，42)的相对齿形侧面(91，92)处。

【技术实现步骤摘要】
用于测量齿形旋转物体的周向齿形轮廓的方法和装置
本专利技术涉及一种用于准确测量齿形旋转物体的内部或外部齿部的周向齿形轮廓的至少一部分的方法和装置。其中所述周向齿形轮廓出现在垂直于齿形旋转物体的中心旋转轴线的横截面中，其中，相对于多对彼此相反的第一和第二齿形侧面，所述周向齿形轮廓具有多对彼此相反的第一和第二轮廓侧面，分别对应于所述齿形的多个齿部。
技术介绍
与本专利技术结合使用的齿形旋转物体，可以是许多不同类型，形式和尺寸。例如，它可以是一个带齿的盘，滚筒，辊，轴，轮，花键计，或诸如此类。这可能是至少部分锥体和/或非锥形的，它的齿形可能是至少部分螺旋形和/或非螺旋形的。它可以具有大的尺寸，如用于汽车的齿轮箱，以及小的尺寸，如用手表的机械机构。已知有各种用于检测旋转物体的周向齿形轮廓缺陷的各种测试装置。例如，US2003/0037626A1公开了一种通过与配合齿轮，通常是一个主齿轮，进行无间隙滚动来测试齿轮的装置。然而，这种已知的齿轮测试装置不适合用于精确测量旋转物体的周向齿轮廓。为了精确测量物体的轮廓，包括旋转物体的周向齿轮廓，各种多维数控测量装置是已知的。例如，WO201306031本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于准确测量齿形旋转物体(90)的内部或外部齿部的周向齿形轮廓(93)的至少一部分的方法，其中所述周向齿形轮廓出现在垂直于齿形旋转物体的中心旋转轴线(99)的横截面中，其中，相对于多对彼此相反的第一齿形侧面(91)和第二齿形侧面(92)，所述周向齿形轮廓具有多对彼此相反的第一轮廓侧面和第二轮廓侧面，分别对应于所述齿形的多个齿部(94)，该方法包括：提供一种装置(1)，包括：装置框架(2)，保持结构(3)，其连接到所述装置框架并且被构造成能够有效保持齿形旋转物体(90)的状态，追踪结构，其连接到所述装置框架并且包括第一示踪手指(11)和第二示踪手指(12)，其中所述第一示踪手指包括第一示...

【技术特征摘要】
2017.06.06 NL 10424171.一种用于准确测量齿形旋转物体(90)的内部或外部齿部的周向齿形轮廓(93)的至少一部分的方法，其中所述周向齿形轮廓出现在垂直于齿形旋转物体的中心旋转轴线(99)的横截面中，其中，相对于多对彼此相反的第一齿形侧面(91)和第二齿形侧面(92)，所述周向齿形轮廓具有多对彼此相反的第一轮廓侧面和第二轮廓侧面，分别对应于所述齿形的多个齿部(94)，该方法包括：提供一种装置(1)，包括：装置框架(2)，保持结构(3)，其连接到所述装置框架并且被构造成能够有效保持齿形旋转物体(90)的状态，追踪结构，其连接到所述装置框架并且包括第一示踪手指(11)和第二示踪手指(12)，其中所述第一示踪手指包括第一示踪斜面(21)和第一示踪点(31)，其中第一示踪手指的所述第一示踪斜面在其纵向方向上不对称地变窄直到所述第一示踪点，为第一示踪手指的自由端，其中所述第二示踪手指(12)包括第二示踪斜面(22)和第二示踪点(32)，其中第二示踪手指的所述第二示踪斜面在其纵向方向上不对称地变窄直到所述第二示踪点，为第二示踪手指的自由端，驱动结构(4)，其被构造成在有效保持状态下，实现齿形旋转物体和第一示踪手指(11)之间的在围绕所述中心旋转轴的第一旋转方向(41)上的第一相对旋转，并实现在围绕所述中心旋转轴的第二旋转方向(42)上，齿形旋转物体和第二示踪手指(12)间的第二相对旋转，其中所述第一和第二旋转方向相互相反，处理器(5)，基于在所述第一相对旋转期间相对于所述齿形旋转物体(90)检测到的所述第一示踪点(31)的第一相对位置与在所述第二相对旋转期间相对于所述齿形旋转物体(90)检测到的所述第二示踪点(32)的第二相对位置，处理器用于确定所述周向齿形轮廓的测量形状(6)，执行第一个追踪阶段，在此期间，通过执行所述第一相对旋转，第一示踪手指(11)正在沿着所述周向齿形轮廓(93)进行跟踪，其中所述第一个追踪阶段包括：第一个追踪子阶段，在此期间，第一示踪点(31)正在沿着至少所述第一轮廓侧面(91)进行跟踪，第一个非追踪子阶段，在此期间，第一示踪点(31)被阻止沿着所述第二轮廓侧面(92)的至少一部分进行跟踪，在那里，第一示踪斜面(21)与所述齿形接触，执行第二个追踪阶段，在此期间，通过执行所述第二相对旋转，第二示踪手指(12)正在沿着所述周向齿形轮廓(93)进行跟踪，其中所述第二个追踪阶段包括：第二个追踪子阶段，在此期间，第二示踪点(32)正在沿着至少所述第二轮廓侧面(92)进行跟踪，第二个非追踪子阶段，在此期间，第二示踪点(32)被阻止沿着所述第一轮廓侧面(91)的至少一部分进行跟踪，在那里，第二示踪斜面(22)与所述齿形接触，基于在所述第一追踪子阶段期间检测到的所述第一相对位置，并且基于在所述第二追踪子阶段期间检测到的所述第二相对位置，由所述处理器(5)确定所述周向齿形轮廓(93)的所述测量形状(6)。2.根据权利要求1所述的方法，其中：追踪结构被配置用于实现，在所述第一追踪阶段期间，相对于所述齿形旋转物体(190)的中心旋转轴(199)，第一示踪手指具有沿着一维第一跟踪路径的一维追踪移动自由度，并且所述追踪结构是可调节的，用于调节所述一维第一跟踪路径相对于所述中心旋转轴(199)的方向(114，115)；追踪结构被配置用于实现，在所述第二追踪阶段期间，相对于所述齿形旋转物体(190)的中心旋转轴(199)，第二示踪手指具有沿着一维第二跟踪路径的一维追踪移动自由度，并且所述追踪结构是可调节的，用于调节所述一维第二跟踪路径相对于所述中心旋转轴(199)的方向(114，115)。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中：所述保持状态下的追踪结构是可调节的，用于调节相对于所述齿形旋转物体(290)，沿着齿形旋转物体(290)的所述中心旋转轴(299)的第一和第二示踪手指(211，212)的轴向跟踪位置，对于所述齿形旋转物体(290)，该方法在相应的多个相互调节的...

【专利技术属性】
技术研发人员：瑞金纳德·格拉斯丁，
申请(专利权)人：瑞金纳德·格拉斯丁，
类型：发明
国别省市：荷兰,NL