烃源岩热解/页岩油原位改质的生排烃表征与评价方法技术

本发明专利技术提供了一种烃源岩热解/页岩油原位改质的生排烃表征与评价方法。其包括：采集烃源岩/页岩油储层岩石样品；在同一样品上钻取多个圆柱样品；抛光处理，得到待检测样品；对所有待测样品的顶面进行CT成像和扫面电镜成像；对所有待测样品分别进行热解；对所有热解后的待测样品再次进行CT成像和扫面电镜成像，对比两次变化信息；根据获得的残留油的二维分布的变化信息，选取扫描电镜成像中表面无明显荷电现象的热解后的待测样品进一步剖开，作YZ切面使用扫面电镜成像，获得YZ切面的残留油的二维分布信息，并对应建立残留油的三维分布椭球，最后再结合待测样品的热解参数和CT成像信息，获得生排烃表征。本发明专利技术的生排烃表征与评价方法简单有效。

【技术实现步骤摘要】
烃源岩热解/页岩油原位改质的生排烃表征与评价方法
本专利技术涉及一种烃源岩热解/页岩油原位改质的生排烃表征与评价方法，属于石油开采

技术介绍
烃源岩是控制油气藏形成与分布的关键性因素之一，随着页岩油气的勘探开发，烃源岩同时又成为油气储层，使得烃源岩的评价更具有意义。通常意义上的烃源岩评价，往往包含地化特征评价以及生烃能力评价，考察的因素主要包括有机质丰度、类型、成熟度，以及生烃强度、生烃量、排烃强度等参数。相关的实验往往是通过多种化学的方法进行定量分析，而缺少一些图像表征方法的介入；导致在烃源岩生排烃机理等研究方面始终缺少直观的现象观察，而无法对生排烃过程进行有效的监控，从而会造成一些错误的判断，如：将一些高TOC，高S1，高氯仿沥青A的烃源岩而直接定义为优质烃源岩，然而其实其并非是优质烃源岩，这可能由于检测过程中使用粉碎成粉的样品而忽略了岩石成岩作用、基质孔隙发育程度、基质孔隙连通性和有机质生烃过程中造孔能力等的差异。在传统的石油地质实验研究中，很难有直接表征的方法，而伴随着近年来页岩油气的大量研究，大量在材料领域中的高端设备的引入，使得在定量分析烃源岩地化特征的同时进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种烃源岩热解/页岩油原位改质的生排烃表征与评价方法，其包括如下步骤：步骤一、采集烃源岩/页岩油储层岩石样品；步骤二、在同一烃源岩/页岩油储层岩石样品上，以垂直与地层的方向钻取多个等长度、等直径的圆柱样品；将所有圆柱样品的顶面进行抛光处理，得到待检测样品；步骤三、对所有待测样品的顶面进行CT成像，观察获得初始样品矿物基质孔隙的信息；使用扫面电镜低加速电压背散射探头对所有测样品的顶面进行成像，利用样品局部荷电效应获得残留油的二维分布信息；步骤四、对所有待测样品分别进行热解，每个待测样品的热解截止温度不同，获得一系列待测样品的热解参数；步骤五、对所有热解后的待测样品进行CT成像，与步骤三的信息...

【技术特征摘要】
1.一种烃源岩热解/页岩油原位改质的生排烃表征与评价方法，其包括如下步骤：步骤一、采集烃源岩/页岩油储层岩石样品；步骤二、在同一烃源岩/页岩油储层岩石样品上，以垂直与地层的方向钻取多个等长度、等直径的圆柱样品；将所有圆柱样品的顶面进行抛光处理，得到待检测样品；步骤三、对所有待测样品的顶面进行CT成像，观察获得初始样品矿物基质孔隙的信息；使用扫面电镜低加速电压背散射探头对所有测样品的顶面进行成像，利用样品局部荷电效应获得残留油的二维分布信息；步骤四、对所有待测样品分别进行热解，每个待测样品的热解截止温度不同，获得一系列待测样品的热解参数；步骤五、对所有热解后的待测样品进行CT成像，与步骤三的信息进行对比，获得样品内部干酪根的变化以及矿物基质孔隙的变化信息；对所有热解后的待测样品使用扫面电镜低加速电压背散射探头进行成像，与步骤三的信息进行对比，利用样品局部荷电效应获得残留油的二维分布的变化信息；步骤六、根据步骤五中获得的残留油的二维分布的变化信息，选取扫描电镜成像中表面无荷电现象的热解后的待测样品进一步剖开，每一个热解后的待测样品分别作YZ切面并抛光处理，然后对抛光后的YZ切面使用扫面电镜低加速电压背散射探头进行成像，利用样品局部荷电效应获得YZ切面的残留油的二维分布信息；步骤七、根据样品轴对称特性以及步骤六得到的YZ切面的残留油的二维分布信息，对每一个步骤六选取出的热解后的待测样品建立残留油的三维分布椭球特征；使用图像处理软件获得三维分布椭球模型；步骤八、根据不同截止温度下的待测样品的三维分布椭球的模型、待测样品的热解参数和CT成像获得的样品内部干酪...

【专利技术属性】
技术研发人员：王晓琦，金旭，李建明，焦航，李化冬，刘晓丹，苏玲，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11