磁盘生命周期分析方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种磁盘生命周期分析方法及装置，所述方法包括：获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。采用本方案，可实现对磁盘失效时间的自动化预测，避免因磁盘故障造成的数据丢失或损坏问题，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本方案实施过程简单易行，适于大规模应用及实施。

【技术实现步骤摘要】
磁盘生命周期分析方法及装置
本专利技术涉及计算机
，具体涉及一种磁盘生命周期分析方法及装置。
技术介绍
随着信息化社会的不断发展，各类数据呈现井喷式的增长，从而需大量的存储介质来实现对数据的存储。而磁盘以其存储性能高、存储容量大、存储可靠性高等特点成为重要的存储介质之一。在使用磁盘对数据存储过程中，由于磁盘的正常磨损、人为操作、及环境影响等会造成磁盘的失效，从而引发磁盘中存储的数据的破坏或丢失，所以，磁盘性能的检测尤为重要。然而，目前在对磁盘性能的检测过程中，通常是收集当前磁盘性能数据，确定当前磁盘的可用性，从而使得对磁盘性能的检测具有较高的滞后性，提高数据的存储风险；并且，现有技术中需运维或采购人员等以人工的方式判断磁盘的失效时间，从而大大降低磁盘的性能测试效果，提高磁盘维护的人力成本。
技术实现思路
鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的磁盘生命周期分析方法及装置。根据本专利技术的一个方面，提供了一种磁盘生命周期分析方法，包括：获取目标磁盘的监控指标信息；根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。根据本专利技术的另一方面，提供了一种磁盘生命周期分析装置，包括：获取模块，适于获取目标磁盘的监控指标信息；生成模块，适于根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；分析模块，适于根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。根据本专利技术的又一方面，提供了一种计算设备，包括：处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信；所述存储器用于存放至少一可执行指令，所述可执行指令使所述处理器执行上述磁盘生命周期分析方法对应的操作。根据本专利技术的再一方面，提供了一种计算机存储介质，所述存储介质中存储有至少一可执行指令，所述可执行指令使处理器执行如上述磁盘生命周期分析方法对应的操作。根据本专利技术提供的磁盘生命周期分析方法及装置，通过获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；最终根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。采用本方案，可实现对磁盘失效时间的自动化预测，避免因磁盘故障造成的数据丢失或损坏问题，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本方案实施过程简单易行，适于大规模应用及实施。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1示出了根据本专利技术一个实施例提供的磁盘生命周期分析方法的流程示意图；图2示出了根据本专利技术另一个实施例提供的磁盘生命周期分析方法的流程示意图；图3示出了根据本专利技术另一个实施例提供目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线及预测磁盘磨损率变化曲线；图4示出了根据本专利技术一个实施例提供的磁盘生命周期分析装置的功能结构示意图；图5示出了根据本专利技术一个实施例提供的一种计算设备的结构示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。图1示出了根据本专利技术一个实施例提供的磁盘生命周期分析方法的流程示意图。如图1所示，该方法包括：步骤S110，获取目标磁盘的监控指标信息。其中，目标磁盘为当前待分析磁盘，监控指标信息包括与目标磁盘的磁盘性能相关的指标信息，本领域技术人员可根据实际的业务情况自行选择目标磁盘的监控指标，如可选择磁盘容量、磁盘读写速度、及磁盘转速等指标作为目标磁盘的监控指标。并且，本实施例对获取目标磁盘的监控指标信息的具体方法不做限定，例如，可通过磁盘查看工具等方式获得目标磁盘的监控指标信息。步骤S120，根据目标磁盘的监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。根据步骤S110中获取的目标磁盘的监控指标信息，绘制目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。具体地，根据目标磁盘的监控指标信息，确定多个时刻对应的目标磁盘的磁盘磨损率，其中，该多个时刻早于或等于当前时间，根据确定的各个时刻的磁盘磨损率获得目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线。步骤S130，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。具体地，获取历史的磁盘生命周期数据。其中，历史的磁盘生命周期数据包含除目标磁盘之外的其他磁盘的历史磁盘生命周期数据。并结合步骤S120中生成的目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，确定目标磁盘的失效时间。其中，本实施例对根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间的方法不做限定，例如，可通过机器学习的方法，根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。上文所述的历史磁盘生命周期数据可以是磁盘完整的生命周期数据，即从磁盘使用开始到磁盘报废为止的时间段内多个时刻对应的信息，也可以是磁盘部分的生命周期数据，即从磁盘磨损的某个时刻开始到另一时刻的时间段内多个时刻对应的信息，当然也可以从磁盘磨损的某个时刻开始直到磁盘报废为止的时间段内多个时刻对应的信息。本领域技术人员应可理解，对于分析目标磁盘的失效时间而言，与磁盘后续生命周期(磨损率)对应的历史磁盘生命周期数据更有参考价值。根据本实施例提供的磁盘生命周期分析方法，通过获取目标磁盘的监控指标信息；根据监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；最终根据目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。本方案中根据当前时间之前目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及其他磁盘的历史磁盘生命周期数据，自动预测磁盘失效时间，避免因磁盘故障造成的数据丢失或损坏问题，提高磁盘性能的测试效率，大大降低人力成本；并且，本方案实施过程简单易行，适于大规模应用及实施。图2示出了根据本专利技术另一个实施例提供的磁盘生命周期分析方法的流程示意图。如图2所示，该方法包括：步骤S210，获取目标磁盘的监控指标信息。首先，根据目标磁盘信息确定该目标磁盘的监控指标。其中，监控指标为与目标磁盘的磁盘性能相关的指标，如可影响目标磁盘的失效时间的指标等。本领域技术人员可根据实际的业务情况自行选择目标磁盘的监控指标，例如，可根据目标磁盘型号和/或目标磁盘控制器信息确定监控指标。进一步地，获取周期性上报的目标磁盘的监控指标信息。其中，本实施例中的监控指标信息具体为S.M.A.R.T指标信息。S.M.A.R.T(Self-MonitoringAnalysisandReportingT本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁盘生命周期分析方法，包括：获取目标磁盘的监控指标信息；根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。

【技术特征摘要】
1.一种磁盘生命周期分析方法，包括：获取目标磁盘的监控指标信息；根据所述监控指标信息，生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线；根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间进一步包括：根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，生成目标磁盘的预测磁盘磨损率变化曲线；将预测磁盘磨损率变化曲线中磁盘磨损率达到预设磨损率阈值时所对应的时间确定为目标磁盘的失效时间。3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述方法还包括：根据目标磁盘的业务量和/或工作温度修正目标磁盘的失效时间。4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其中，所述根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，分析目标磁盘的失效时间进一步包括：根据所述目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线，以及历史的磁盘生命周期数据，通过机器学习的方法分析目标磁盘的失效时间。5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中，在所述生成目标磁盘的磁盘磨损率变化曲线之后，所述方法还包括：根据目标磁盘的磁盘磨损率变...

【专利技术属性】
技术研发人员：马智昊，张平，
申请(专利权)人：北京奇虎科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11