一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法技术

本发明专利技术中提出的一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法，其主要内容包括：全局偏移模型、高分辨率图像的重建和错位校正，其过程为，先初始化重建的高分辨率物体和光瞳函数，然后依次点亮所有的LED，分别生成低分辨率图像，并施加强度约束，接着更新物体函数和光瞳函数，重复以上步骤直到算法收敛，最后直接校正LED阵列的全局偏移直到搜索全局偏移的成本函数达到最小值。本发明专利技术解决了以往的傅里叶叠层成像位置修正方法会增加算法复杂度、计算机负载和计算时间的问题，能够快速有效地校正显微镜成像的错位，同时使用的算法简单实用。

【技术实现步骤摘要】
一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法
本专利技术涉及计算领域，尤其是涉及了一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法。
技术介绍
傅立叶叠层成像显微镜(FPM)是一种新开发的计算成像技术，可以提供高分辨率(HR)和宽视场(FOV)的十亿像素的图像。傅里叶叠层成像技术可以应用于光学显微领域，获得高分辨率的显微图像，也可以用于生物医学领域，对病毒等微生物以及人体器官进行精确的研究治疗；在生命科学领域，利用傅里叶叠层成像技术可以更加方便地对微小的生物组织进行深入的科学研究。然而，以往的傅里叶叠层成像位置修正方法会增加算法复杂度、计算机负载和计算时间。本专利技术中提出了一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法，先初始化重建的高分辨率物体和光瞳函数，然后依次点亮所有的LED，分别生成低分辨率图像，并施加强度约束，接着更新物体函数和光瞳函数，重复以上步骤直到算法收敛，最后直接校正LED阵列的全局偏移直到搜索全局偏移的成本函数达到最小值。本专利技术能够快速有效地校正显微镜成像的错位，同时使用的算法简单实用。
技术实现思路
针对以往的傅里叶叠层成像位置修正方法会增加算法复杂度、计算机本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法，其特征在于，主要包括全局偏移模型(一)；高分辨率图像的重建(二)；错位校正(三)。

【技术特征摘要】
1.一种基于傅里叶叠层成像技术的显微镜错位校正方法，其特征在于，主要包括全局偏移模型(一)；高分辨率图像的重建(二)；错位校正(三)。2.基于权利要求书1所述的全局偏移模型(一)，其特征在于，全局偏移模型是一个只具有两个因子的简化位置模型，x和y是确定每个发光二极管(LED)的位置的两个因子，(xm,n,ym,n)代表第m行第n列的LED的位置。3.基于权利要求书1所述的高分辨率图像的重建(二)，其特征在于，一共分为六个步骤：(1)初始化重建的高分辨率(HR)物体Oj(kx,ky)和光瞳函数Pj(kx,ky)；(2)生成低分辨率(LR)图像；(3)施加强度约束；(4)更新物体和光瞳函数；(5)对所有的LED重复步骤(2)到(4)；(6)重复步骤(2)到(5)直到算法收敛。4.基于权利要求书3所述的生成低分辨率图像，其特征在于，用以下公式生成第m行第n列LED对应的低分辨率图像：其中表示用第m行第n列LED照射获得的LR图像的傅里叶频谱。5.基于权利要求书3所述的施加强度约束，其特征在于，用以下公式对捕获的图像施加强度约束：其中和分别是LR图像带强度约束和不带强度约束的复数场。6.基于权利要求书3所述的更新物体和光...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏春秋，
申请(专利权)人：深圳市唯特视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44