水下自喷热源红外成像/光电探测系统技术方案

本发明专利技术涉及一种水下自喷热源红外成像/光电探测系统，探测的主要对象为水下自喷热源，如海底火山口、油气/天然气喷口、矿产热液喷口和水下施工大型供电设备等；探测热源温度几十度‑数百度，成像/探测距离几‑几十米，工作深度浅海‑深海；水下自喷热源红外成像/光电探测系统由长波红外热像仪、中波红外成像测温仪、激光照明/粒度/测距仪、低照度水下摄像机与图像综合处理器等组成；可获得自喷热源的红外图像、可见光图像和喷射物质的浓度(烟、粒子、气泡)等信息；经图像综合处理后，可给出水下自喷热源的温度分布情况、喷射物质弥散面积、相对探测载体的距离等，是一种适合水下航行器使用的水下自喷热源红外探测与光电监测系统。

【技术实现步骤摘要】
水下自喷热源红外成像/光电探测系统
本专利技术水下自喷热源红外成像/光电探测系统属于水下光电技术应用领域，是一种适用于对水下热源实施非接触测温与光电复合探测系统。
技术介绍
为加快开发深远海宝贵矿产资源，高效率探寻南大西洋脊热液活动，实时监测近远海生态环境演变情况，及详细了解海底热源对周围生物生存的影响，为发展水下自喷热源红外成像/光电探测系统提出了非常紧迫的需求。据多方调研了解，目前国内外尚无中长波红外成像系统用于水下热源目标探测，亦无对水下喷射粒子的激光粒度仪应用先例，对海底热源的非接触测温手段也是非常缺乏，原因主要如下：1、海水是一个巨大无比的恒温箱，水温保持在2-5℃，由此使得在海水包覆下的热源目标，其温度分布经海水传递后被快速降温，因此实施非接触测温的精度难以提高。2、水下热源通常会伴随自发喷射一些烟尘粒子、物质颗粒或气泡，若利用激光粒度仪检测其粒度/浓度分布，因这些微粒同时也被海水介质所包围，所以如何区分热源喷射物与海水介质的激光散射之差，对检测技术要求很高。本专利技术水下自喷热源红外成像/光电探测系统就是针对上述问题而提出的。
技术实现思路
本专利技术的目的是为获得一种水下本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.本专利技术涉及一种水下自喷热源红外成像/光电探测系统，探测的主要对象为水下自喷热源，如海底火山口、油气/天然气喷口、矿产热液喷口和水下施工大型供电设备等；探测热源温度几十度‑数百度，成像/探测距离几‑几十米，工作深度浅海‑深海；水下自喷热源红外成像/光电探测系统由长波红外热像仪、中波红外成像测温仪、激光照明/粒度/测距仪、低照度水下摄像机与图像综合处理器等组成；可获得自喷热源的红外图像、可见光图像和喷射物质的浓度(烟、粒子、气泡)等信息；经图像综合处理后，可给出水下自喷热源的温度分布情况、喷射物质弥散面积、相对探测载体的距离等，是一种适合水下航行器使用的水下自喷热源红外探测/光电监测系统。

【技术特征摘要】
1.本发明涉及一种水下自喷热源红外成像/光电探测系统，探测的主要对象为水下自喷热源，如海底火山口、油气/天然气喷口、矿产热液喷口和水下施工大型供电设备等；探测热源温度几十度-数百度，成像/探测距离几-几十米，工作深度浅海-深海；水下自喷热源红外成像/光电探测系统由长波红外热像仪、中波红外成像测温仪、激光照明/粒度/测距仪、低照度水下摄像机与图像综合处理器等组成；可获得自喷热源的红外图像、可见光图像和喷射物质的浓度(烟、粒子、气泡)等信息；经图像综合处理后，可给出水下自喷热源的温度分布情况、喷射物质弥散面积、相对探测载体的距离等，是一种适合水下航行器使用的水下自喷热源红外探测/光电监测系统。2.权利要求1中，长波红外热像仪和中波红外成像测温仪是水下自喷热源红外成像/光电探测系统中工作在红外波段的设备。其中，长波红外热像仪主要用于对几十-100度的水下热源实施探测和红外成像，工作波段8-10μm，温度分辨率优于100mk，可获得热源目标的红外图像或整体轮廓；中波红外成像测温仪主要用于对百度以上的高温水下热源实施温度测量与成像，工作波段2-5μm，温度分辨率优于20mk，可获得热源目标的温度分布图像。3.权利要求1中，激光照明/粒度/测距仪和低照度水下摄像机是水下自喷热源红外成像/光电探测系统中工作在可见光波段的设备，其中...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩龙，肖林，杜大勇，侯晓帆，其他发明人请求不公开姓名，
申请(专利权)人：北京华夏光谷光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11