上位机程序测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种上位机程序测试电路，其包括单脉冲测试模块、双脉冲测试模块、参数测量模块，单脉冲测试模块与双脉冲测试模块并联且都与参数测量模块串联。本实用新型专利技术完成测试内容的连接，通过在一定安全区域内控制测试的进程，对于部分存在危险的试验，保证了人员的安全，使用上位机测试界面，加快了测试的进度，利用PC机处理大数据，可以快速得到想要的测试结果，利于测试数据的保存和后期数据分析，保护电路更稳定、更安全。

【技术实现步骤摘要】
上位机程序测试电路
本技术涉及一种测试电路，特别是涉及一种上位机程序测试电路。
技术介绍
传统的驱动程序产品测试不在上位机程序测试，对于部分存在危险的试验无法保证人员安全，而且测试速度慢，电路不安全。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种上位机程序测试电路，其完成测试内容的连接，通过在一定安全区域内控制测试的进程，对于部分存在危险的试验，保证了人员的安全，使用上位机测试界面，加快了测试的进度，利用PC机处理大数据，可以快速得到想要的测试结果，利于测试数据的保存和后期数据分析，保护电路更稳定、更安全。本技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：一种上位机程序测试电路，其特征在于，其包括单脉冲测试模块、双脉冲测试模块、参数测量模块，单脉冲测试模块与双脉冲测试模块并联且都与参数测量模块串联，其中：单脉冲测试模块，其包括单脉冲测试芯片、第一脉冲、第一示波器、第一三极管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管、第一按钮、第二按钮，单脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻相连，第一电阻与第二电阻并联且都与第一电容串联，第一按钮与第一电容串联且接地，第三电阻与第四电阻并联，第三电阻与第一三极管的集电极相连，第四电阻与第一三极管的发射极相连，第二电容与第一三极管的基极相连，第二按钮与第二电容串联，第一按钮与第二按钮并联且都与第五电阻串联，单脉冲测试芯片的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第三电容、第四电容、第五电容、第六电容相连，第三电容、第四电容、第五电容、第六电容分别与第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管串联，第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管之间并联且都与第一脉冲串联，第一脉冲、第六电阻、第一示波器之间依次串联；双脉冲测试模块，其包括双脉冲测试芯片、第二脉冲、第三脉冲、第二三极管、第三三极管、第二示波器、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第七电容、第八电容、第九电容、第十电容、第十一电容、第十二电容、第十三电容、第十四电容、第三按钮、第四按钮、第五二极管、第六二极管、第七二极管，双脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第七电容、第八电容、第九电容、第十电容相连，第七电容、第八电容、第九电容、第十电容分别与第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻串联，第七电容、第七电阻、第三按钮依次串联并接地，第八电阻、第九电阻、第十电阻之间并联且都与第四按钮串联，第四按钮与第七二极管串联并接地，双脉冲测试芯片的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第十一电阻、第十二电阻、第十一电容、第十二电容相连，第十一电阻、第十二电阻、第十一电容、第十二电容分别与第五二极管、第六二极管、第十三电容、第十四电容串联，第五二极管与第二三极管的发射极相连，第六二极管与第二三极管的集电极相连，第十三电容与第三三极管的发射极相连，第十四电容与第三三极管的集电极相连，第二三极管的基极与第二脉冲相连，第三三极管的基极与第三脉冲相连，第二脉冲与第三脉冲并联且都与第二示波器串联；参数测量模块，其包括参数测量芯片、第三示波器、第四三极管、第一晶体、第二晶体、第三晶体、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第十五电容、第十六电容、第八二极管、第九二极管、第十二极管、第五按钮、第六按钮，参数测量芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚分别与第十五电容、第十五电阻、第三晶体相连，第十五电容、第十五电阻、第三晶体分别与第一晶体、第二晶体、第十六电容串联，第一晶体、第二晶体、第十六电容之间并联且都与第五按钮串联，第十三电阻与第四三极管的发射极相连，第十四电阻与第四三极管的集电极相连，第四三极管的基极与第五按钮相连，参数测量芯片的第四引脚、第五引脚、第六引脚分别与第八二极管、第九二极管、第十二极管相连，第九二极管、第十二极管之间并联且都与第三示波器相连，第三示波器与第六按钮串联且接地。优选地，所述第一示波器、第二示波器、第三示波器都是数字示波器。优选地，所述单脉冲测试芯片、双脉冲测试芯片采用的都是SKY77761-11类型的芯片。优选地，所述参数测量芯片采用的是SPRH5D18-3R3N类型的芯片。优选地，所述第一晶体、第二晶体、第三晶体都是石英制的晶体。本技术的积极进步效果在于：本技术完成测试内容的连接，通过在一定安全区域内控制测试的进程，对于部分存在危险的试验，保证了人员的安全，使用上位机测试界面，加快了测试的进度，利用PC机处理大数据，可以快速得到想要的测试结果，利于测试数据的保存和后期数据分析，保护电路更稳定、更安全。附图说明图1为本技术的总体结构图。图2为本技术的单脉冲测试模块的电路图。图3为本技术的双脉冲测试模块的电路图。图4为本技术的参数测量模块的电路图。具体实施方式下面结合附图给出本技术较佳实施例，以详细说明本技术的技术方案。如图1至图4所示，本技术上位机程序测试电路包括单脉冲测试模块1、双脉冲测试模块2、参数测量模块3，单脉冲测试模块1与双脉冲测试模块2并联且都与参数测量模块3串联，其中：单脉冲测试模块1，其包括单脉冲测试芯片A1、第一脉冲M1、第一示波器B1、第一三极管Q1、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第一电容C1、第二电容C2、第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第六电容C6、第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3、第四二极管D4、第一按钮S1、第二按钮S2，单脉冲测试芯片A1的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4相连，第一电阻R1与第二电阻R2并联且都与第一电容C1串联，第一按钮S1与第一电容C1串联且接地，第三电阻R3与第四电阻R4并联，第三电阻R3与第一三极管Q1的集电极相连，第四电阻R4与第一三极管Q1的发射极相连，第二电容C2与第一三极管Q1的基极相连，第二按钮S2与第二电容C2串联，第一按钮S1与第二按钮S2并联且都与第五电阻R5串联，单脉冲测试芯片A1的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第六电容C6相连，第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第六电容C6分别与第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3、第四二极管D4串联，第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3、第四二极管D4之间并联且都与第一脉冲M1串联，第一脉冲M1、第六电阻R6、第一示波器B1之间依次串联；双脉冲测试模块2，其包括双脉冲测试芯片A2、第二脉冲M2、第三脉冲M3、第二三极管Q2、第三三极管Q3、第二示波器B2、第七电阻R7、第八电阻R8、第九电阻R9、第十电阻R10、第十一电阻R11、第十二电阻R12、第七电容C7、第八电容C8、第九电容C9、第十电容C10、第十一电容C11、第十二电容C12、第十三电容C13、第十四电容C14、第三按钮本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种上位机程序测试电路，其特征在于，其包括单脉冲测试模块、双脉冲测试模块、参数测量模块，单脉冲测试模块与双脉冲测试模块并联且都与参数测量模块串联，其中：单脉冲测试模块，其包括单脉冲测试芯片、第一脉冲、第一示波器、第一三极管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管、第一按钮、第二按钮，单脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻相连，第一电阻与第二电阻并联且都与第一电容串联，第一按钮与第一电容串联且接地，第三电阻与第四电阻并联，第三电阻与第一三极管的集电极相连，第四电阻与第一三极管的发射极相连，第二电容与第一三极管的基极相连，第二按钮与第二电容串联，第一按钮与第二按钮并联且都与第五电阻串联，单脉冲测试芯片的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第三电容、第四电容、第五电容、第六电容相连，第三电容、第四电容、第五电容、第六电容分别与第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管串联，第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管之间并联且都与第一脉冲串联，第一脉冲、第六电阻、第一示波器之间依次串联；双脉冲测试模块，其包括双脉冲测试芯片、第二脉冲、第三脉冲、第二三极管、第三三极管、第二示波器、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第七电容、第八电容、第九电容、第十电容、第十一电容、第十二电容、第十三电容、第十四电容、第三按钮、第四按钮、第五二极管、第六二极管、第七二极管，双脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第七电容、第八电容、第九电容、第十电容相连，第七电容、第八电容、第九电容、第十电容分别与第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻串联，第七电容、第七电阻、第三按钮依次串联并接地，第八电阻、第九电阻、第十电阻之间并联且都与第四按钮串联，第四按钮与第七二极管串联并接地，双脉冲测试芯片的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第十一电阻、第十二电阻、第十一电容、第十二电容相连，第十一电阻、第十二电阻、第十一电容、第十二电容分别与第五二极管、第六二极管、第十三电容、第十四电容串联，第五二极管与第二三极管的发射极相连，第六二极管与第二三极管的集电极相连，第十三电容与第三三极管的发射极相连，第十四电容与第三三极管的集电极相连，第二三极管的基极与第二脉冲相连，第三三极管的基极与第三脉冲相连，第二脉冲与第三脉冲并联且都与第二示波器串联；参数测量模块，其包括参数测量芯片、第三示波器、第四三极管、第一晶体、第二晶体、第三晶体、第十三电阻、第十四电阻、第十五电阻、第十五电容、第十六电容、第八二极管、第九二极管、第十二极管、第五按钮、第六按钮，参数测量芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚分别与第十五电容、第十五电阻、第三晶体相连，第十五电容、第十五电阻、第三晶体分别与第一晶体、第二晶体、第十六电容串联，第一晶体、第二晶体、第十六电容之间并联且都与第五按钮串联，第十三电阻与第四三极管的发射极相连，第十四电阻与第四三极管的集电极相连，第四三极管的基极与第五按钮相连，参数测量芯片的第四引脚、第五引脚、第六引脚分别与第八二极管、第九二极管、第十二极管相连，第九二极管、第十二极管之间并联且都与第三示波器相连，第三示波器与第六按钮串联且接地。...

【技术特征摘要】
1.一种上位机程序测试电路，其特征在于，其包括单脉冲测试模块、双脉冲测试模块、参数测量模块，单脉冲测试模块与双脉冲测试模块并联且都与参数测量模块串联，其中：单脉冲测试模块，其包括单脉冲测试芯片、第一脉冲、第一示波器、第一三极管、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第一电容、第二电容、第三电容、第四电容、第五电容、第六电容、第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管、第一按钮、第二按钮，单脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻相连，第一电阻与第二电阻并联且都与第一电容串联，第一按钮与第一电容串联且接地，第三电阻与第四电阻并联，第三电阻与第一三极管的集电极相连，第四电阻与第一三极管的发射极相连，第二电容与第一三极管的基极相连，第二按钮与第二电容串联，第一按钮与第二按钮并联且都与第五电阻串联，单脉冲测试芯片的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚分别与第三电容、第四电容、第五电容、第六电容相连，第三电容、第四电容、第五电容、第六电容分别与第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管串联，第一二极管、第二二极管、第三二极管、第四二极管之间并联且都与第一脉冲串联，第一脉冲、第六电阻、第一示波器之间依次串联；双脉冲测试模块，其包括双脉冲测试芯片、第二脉冲、第三脉冲、第二三极管、第三三极管、第二示波器、第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻、第七电容、第八电容、第九电容、第十电容、第十一电容、第十二电容、第十三电容、第十四电容、第三按钮、第四按钮、第五二极管、第六二极管、第七二极管，双脉冲测试芯片的第一引脚、第二引脚、地三引脚、第四引脚分别与第七电容、第八电容、第九电容、第十电容相连，第七电容、第八电容、第九电容、第十电容分别与第七电阻、第八电阻、第九电阻、第十电阻串联，第七电容、第七电阻、第三按钮依次串联并接地，第八电阻、第九电阻、第十电阻之间并联且...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜超，
申请(专利权)人：无锡思创电力电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32