通用型芯片光学检测仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种通用型芯片光学检测仪，其连接板的底面设有扫描相机和多个光源机构，所述扫描相机通过导线与外界电脑连接，所述底板的上表面分别设有支撑块和第二电动伸缩杆，两个固定杆的底端分别安装在两个固定杆的顶端，两个固定杆的顶端均安装有两个对称的凸块，两个固定杆之间的两个位置对应的凸块之间活动连接有活动板，两个活动板之间相对的侧面上均安装有反光镜，两个第一电动伸缩杆分别安装在两个支撑板的侧面，两个第一电动伸缩杆的顶端均设有安装板。本实用新型专利技术通用型芯片光学检测仪提高LED灯灯光照射的强度，从而通过与扫描相机的配合工作，便于根据不同芯片的厚度检测出芯片是否存在漏点或溢胶等问题。

Universal Chip Optical Detector

The utility model relates to a universal chip optical detector. The bottom of the connecting plate is provided with a scanning camera and a plurality of light source mechanisms. The scanning camera is connected with an external computer through a wire. The upper surface of the connecting plate is respectively provided with a support block and a second electric telescopic rod, and the bottom ends of the two fixed rods are respectively installed in two fixed rods. At the top of the fixed rod, two symmetrical bumps are installed at the top of the two fixed rods. A movable plate is movably connected between the bumps corresponding to the two positions between the two fixed rods. A reflecting mirror is installed on the opposite side between the two movable plates. Two first electric expansion rods are installed on the side of the two supporting plates, respectively. The top of the first electric telescopic rod is provided with a mounting plate. The universal chip optical detector of the utility model improves the illumination intensity of the LED lamp light, so that by cooperating with the scanning camera, it is convenient to detect whether the chip has leakage points or glue spills according to the thickness of different chips.

【技术实现步骤摘要】
通用型芯片光学检测仪
本技术涉及通用型芯片光学检测仪
，尤其涉及一种通用型芯片光学检测仪。
技术介绍
现代工业中对制造芯片精度要求越来越高，芯片在制造过程中，一般经过光学显影时检查芯片是否存在漏点或溢胶的问题，这些缺陷在合成为多层板后，会因无法修复而导致成品报废，同时由于这些缺陷非常微小，人眼观察困难，通过人工检测的方式对人眼伤害很大，现有的一些检测设备在光学结构与运动结构的设计和配合上存在一些问题，例如由于受检测物件其线路的密集程度不一样，无法自动调整解析度，光源无法适应不同板厚等，导致图像采集的误差偏大或是调整不方便，造成高精度的芯片检测会出现很大的误报和漏测情况。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种通用型芯片光学检测仪。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：设计一种通用型芯片光学检测仪，包括底板，所述底板的上表面设有两个支撑板，两个支撑板之间连接有连接板，所述连接板的底面设有扫描相机和多个光源机构，所述扫描相机通过导线与外界电脑连接，所述底板的上表面分别设有支撑块和第二电动伸缩杆，所述支撑块和第二电动伸缩杆位于两个支撑板之间，第二电动伸缩杆的一端与支撑块的侧面连接，使得支撑块沿着底板的上表面滑动，两个支撑板的顶端之间连接有调节机构，所述调节机构包括两个固定杆和两个第一电动伸缩杆，两个固定杆的底端分别安装在两个固定杆的顶端，两个固定杆的顶端均安装有两个对称的凸块，两个固定杆之间的两个位置对应的凸块之间活动连接有活动板，两个活动板之间相对的侧面上均安装有反光镜，两个第一电动伸缩杆分别安装在两个支撑板的侧面，两个第一电动伸缩杆的顶端均设有安装板，两个安装板和两个活动板之间活动连接有连接杆，所述支撑板的侧面设有PLC控制器，所述PLC控制器通过导线分别与两个第一电动伸缩杆和第二电动伸缩杆连接。优选的，所述光源机构至少设有六个并分别位于扫描相机的两侧，所述光源机构包括LED灯灯座，所述LED灯灯座的底面设有LED灯。优选的，所述支撑块的底面开设有燕尾槽，所述底板的上表面安装有与燕尾槽匹配安装的燕尾块，使得燕尾槽沿着燕尾块的侧面滑动。优选的，四个所述凸块远离支撑板的侧面开设有安装槽，所述安装槽的内部设有固定轴，所述固定轴上套接有连接块，使得连接块沿着固定轴的表面滑动，所述连接块远离固定轴的一端与活动板连接。优选的，所述第一电动伸缩杆和第二电动伸缩杆均为电动推杆。本技术提出的一种通用型芯片光学检测仪，有益效果在于：通过加入调节机构，用于调节LED灯灯光的照射的范围，提高LED灯灯光照射的强度，从而通过与扫描相机的配合工作，便于根据不同芯片的厚度检测出芯片是否存在漏点或溢胶等问题；通过加入PLC控制器，用于对第一电动伸缩杆进行控制，从而用于调节反光镜的角度，便于对LED等照射的强度进行强度，方便了工作人员的操作。本技术结构简单、使用方便，不仅用于根据芯片的厚度检测出芯片是否存在漏点或溢胶等问题，而且还方便工作人员的操作，提高了对芯片检测的效率。附图说明图1为本技术通用型芯片光学检测仪结构示意图；图2为本技术通用型芯片光学检测仪的光源机构结构示意图；图3为本技术光学检测仪的活动板和反光镜连接结构示意图；图4为本技术通用型芯片光学检测仪的凸块和活动板连接结构示意图。以上附图中：1、燕尾块；2、支撑板；3、第一电动伸缩杆；4、反光镜；5、扫描相机；6、凸块；7、固定杆；8、安装板；9、连接杆；10、活动板；11、PLC控制器；12、第二电动伸缩杆；13、底板；14、支撑块；15、燕尾槽；16、LED灯；17、连接板；18、LED灯灯座；19、连接块；20、安装槽；21、固定轴。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描，显然，描的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。参照图1-4，一种通用型芯片光学检测仪，包括底板13，底板13的上表面设有两个支撑板2，两个支撑板2之间连接有连接板17，连接板17的底面设有扫描相机5和多个光源机构，光源机构至少设有六个并分别位于扫描相机5的两侧，光源机构包括LED灯灯座18，LED灯灯座18的底面设有LED灯16，LED灯灯座18用于安装LED灯16，同时还未LED灯16输电，通过加入扫描相机5，用于拍摄芯片并将拍摄的画面输送至电脑屏幕上，从而便于人们的观察。扫描相机5通过导线与外界电脑连接，底板13的上表面分别设有支撑块14和第二电动伸缩杆12，支撑块14和第二电动伸缩杆12位于两个支撑板2之间，第二电动伸缩杆12的一端与支撑块14的侧面连接，使得支撑块14沿着底板13的上表面滑动，支撑块14的底面开设有燕尾槽15，底板13的上表面安装有与燕尾槽15匹配安装的燕尾块1，使得燕尾槽15沿着燕尾块1的侧面滑动，通过加入燕尾块1和燕尾槽15，用于提高支撑块14和底板13之间连接的稳定性，而且也方便支撑块14的移动，便于对芯片放置的位置进行调节。两个支撑板2的顶端之间连接有调节机构，调节机构包括两个固定杆7和两个第一电动伸缩杆3，两个固定杆7的底端分别安装在两个固定杆7的顶端，两个固定杆7的顶端均安装有两个对称的凸块6，两个固定杆7之间的两个位置对应的凸块6之间活动连接有活动板10，四个凸块6远离支撑板2的侧面开设有安装槽20，安装槽20的内部设有固定轴21，固定轴21上套接有连接块19，使得连接块19沿着固定轴21的表面滑动，连接块19远离固定轴21的一端与活动板10连接，在活动板10在转动的过程中带动连接块19在固定轴21上进行转动，从而方便了活动板10角度的调节，而且连接块19和固定轴21还提高活动板10调节的便捷性。两个活动板10之间相对的侧面上均安装有反光镜4，两个第一电动伸缩杆3分别安装在两个支撑板2的侧面，两个第一电动伸缩杆3的顶端均设有安装板8，两个安装板8和两个活动板10之间活动连接有连接杆9，支撑板2的侧面设有PLC控制器11，PLC控制器11通过导线分别与两个第一电动伸缩杆3和第二电动伸缩杆12连接，第一电动伸缩杆3和第二电动伸缩杆12均为电动推杆，电动推杆是一种将电动机的旋转运动转变为推杆的直线往复运动的电力驱动装置，从而方便第一电动伸缩杆3带动活动板10、第二电动伸缩杆12带动支撑块14进行移动。工作原理：在对芯片进行检测，先将芯片放置在支撑块14的上表面，并且位于LED灯16的正下方，接着将两个第一电动伸缩杆3、和多个LED灯灯座18串联或并联外界电源，多个LED灯16通电后发光，照射在芯片上，根据芯片的厚度，通过PLC控制器11控制两个第一电动伸缩杆3同步运动，带动两个第一电动伸缩杆3做收缩运动，调节活动板10在凸块6上进行转动，用于对光照的强度进行调节。上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本技术的内容并据以实施，并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种通用型芯片光学检测仪，其特征在于：包括底板（13），其特征在于，所述底板（13）的上表面设有两个支撑板（2），两个支撑板（2）之间连接有连接板（17），所述连接板（17）的底面设有扫描相机（5）和多个光源机构，所述扫描相机（5）通过导线与外界电脑连接，所述底板（13）的上表面分别设有支撑块（14）和第二电动伸缩杆（12），所述支撑块（14）和第二电动伸缩杆（12）位于两个支撑板（2）之间，第二电动伸缩杆（12）的一端与支撑块（14）的侧面连接，使得支撑块（14）沿着底板（13）的上表面滑动，两个支撑板（2）的顶端之间连接有调节机构，所述调节机构包括两个固定杆（7）和两个第一电动伸缩杆（3），两个固定杆（7）的底端分别安装在两个固定杆（7）的顶端，两个固定杆（7）的顶端均安装有两个对称的凸块（6），两个固定杆（7）之间的两个位置对应的凸块（6）之间活动连接有活动板（10），两个活动板（10）之间相对的侧面上均安装有反光镜（4），两个第一电动伸缩杆（3）分别安装在两个支撑板（2）的侧面，两个第一电动伸缩杆（3）的顶端均设有安装板（8），两个安装板（8）和两个活动板（10）之间活动连接有连接杆（9），所述支撑板（2）的侧面设有PLC控制器（11），所述PLC控制器（11）通过导线分别与两个第一电动伸缩杆（3）和第二电动伸缩杆（12）连接。...

【技术特征摘要】
1.一种通用型芯片光学检测仪，其特征在于：包括底板（13），其特征在于，所述底板（13）的上表面设有两个支撑板（2），两个支撑板（2）之间连接有连接板（17），所述连接板（17）的底面设有扫描相机（5）和多个光源机构，所述扫描相机（5）通过导线与外界电脑连接，所述底板（13）的上表面分别设有支撑块（14）和第二电动伸缩杆（12），所述支撑块（14）和第二电动伸缩杆（12）位于两个支撑板（2）之间，第二电动伸缩杆（12）的一端与支撑块（14）的侧面连接，使得支撑块（14）沿着底板（13）的上表面滑动，两个支撑板（2）的顶端之间连接有调节机构，所述调节机构包括两个固定杆（7）和两个第一电动伸缩杆（3），两个固定杆（7）的底端分别安装在两个固定杆（7）的顶端，两个固定杆（7）的顶端均安装有两个对称的凸块（6），两个固定杆（7）之间的两个位置对应的凸块（6）之间活动连接有活动板（10），两个活动板（10）之间相对的侧面上均安装有反光镜（4），两个第一电动伸缩杆（3）分别安装在两个支撑板（2）的侧面，两个第一电动伸缩杆（3）的顶端均设有安装板（8），两个安装板（8）和两个活动板（10）之间活动连接有连接杆...

【专利技术属性】
技术研发人员：位贤龙，张成，王丽，陈松，姚燕杰，
申请(专利权)人：江苏凯尔生物识别科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏,32