The invention discloses a sample value interpolation algorithm for direction finding of correlation interferometer, which includes the following steps: first step, collecting the first sample value; second step, interpolating the first sample value to obtain the second sample value; third step, interpolating the second sample value to obtain the third sample value, and the third sample value is the required sample value. Value. By the invention, the sample value interpolation algorithm for direction finding of correlation interferometer can be realized.
【技术实现步骤摘要】
相关干涉仪测向样本内插算法
本专利技术涉及测向领域，尤其涉及相关干涉仪测向样本值内插算法。
技术介绍
在使用相关干涉仪理论进行测向时，需要对当前环境进行相位差样本值的采样，测向角度范围是在一个平面上的0°~360°。在采样时如果按步进为1°进行采样则会增加很大工作量；特别是在外场进行采样时，需要工作人员绘制圆及角度，手动移动天线进行采样，这样采样时间周期会加长，工作量会增加，工作效率不高。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提出相关干涉仪测向样本值内插算法，其特征在于，所述算法包括如下步骤：第一步，采集第一样本值；第二步，对第一样本值进行内插得到第二样本值；第三步，对第二样本值进行内插得到第三样本值，第三样本值即为所需样本值。进一步的，所述的第一样本值是在水平面内测向角度范围为0°~360°内以5°为步进采集。进一步的，所述的第二步对第一样本值进行内插，其内插精度为2.5°，取0o与5°内插、5o与10o内插、10o与15o内插等以此类推，最后355°与0°内插，取同一个频点各组两个第一样本值各4个相位差值：相位差01、相位差02、相位差03、相位差04和相位差11、相位差12、相位差13、相位差14；将相位差值01和相位差值11、相位差值02和相位差值12、相位差值03和相位差值13、相位差值04和相位差值14四组数据各自的和分别求平均值，各组分别得出4个相位差值，第一样本值以5°为步进，因此需内插72个点。进一步的，所述的第三步在主函数中对第二样本值进行内插，其内插精度为1.25°，取0°与2.5°内插、2.5°与5°内插、5°与7.5°内插等以此...
【技术保护点】
1.相关干涉仪测向样本值内插算法，其特征在于，所述算法包括如下步骤：第一步，采集第一样本值；第二步，对第一样本值进行内插得到第二样本值；第三步，对第二样本值进行内插得到第三样本值，第三样本值即为所需样本值。
【技术特征摘要】
1.相关干涉仪测向样本值内插算法，其特征在于，所述算法包括如下步骤：第一步，采集第一样本值；第二步，对第一样本值进行内插得到第二样本值；第三步，对第二样本值进行内插得到第三样本值，第三样本值即为所需样本值。2.根据权利要求1所述的相关干涉仪测向样本值内插算法，其特征在于，所述的第一样本值是在水平面内测向角度范围为0°~360°内以5°为步进采集。3.根据权利要求1所述的相关干涉仪测向样本值内插算法，其特征在于，所述的第二步对第一样本值进行内插，其内插精度为2.5°，取0o与5°内插、5o与10o内插、10o与15o内插等以此类推，最后355°与0°内插，取同一个频点各组两个第一样本值各4个相位差值：相位差01、相位差02、相位差03、相位差04和相位差11、相位差12、相位差13、相位差14；将相位差值01和相位差值11、相位差值02和相...
【专利技术属性】
技术研发人员：王文林，周香香，丁健，
申请(专利权)人：成都宝通天宇电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51
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