千分尺及测量设备制造技术

本发明专利技术公开了千分尺及测量设备，涉及测量设备技术领域。本发明专利技术提供的千分尺包括本体、主轴、直线轴承及光栅测量组件。本体设置有第一测量部，主轴通过直线轴承安装于本体上，且主轴伸出本体的一端端部设置有第二测量部，第二测量部与第一测量部相对设置。光栅测量组件包括绝对编码光栅、光路结构及电路板，绝对编码光栅安装于主轴上并能够随主轴运动，光路结构位于本体内并与电路板电连接，且光路结构能够将绝对编码光栅的位置变化信息传输至电路板，电路板用于根据位置变化信息得到测量数据。本发明专利技术还提供一种包括千分尺的测量设备。本发明专利技术提供的千分尺及测量设备的结构简单、使用方便，并具有良好的测量精度和测量效率。

Micrometer and measuring equipment

The invention discloses a micrometer and measuring equipment, and relates to the technical field of measuring equipment. The micrometer provided by the invention comprises a body, a spindle, a linear bearing and a grating measuring component. The body is provided with a first measuring part, the main shaft is installed on the body through a linear bearing, and a second measuring part is arranged at one end of the main shaft extending out of the body, and the second measuring part is relative to the first measuring part. The grating measurement module includes absolute encoding grating, optical path structure and circuit board. The absolute encoding grating is installed on the spindle and can move along the spindle. The optical path structure is located in the body and connected with the circuit board electronically. The optical path structure can transmit the position change information of absolute encoding grating to the circuit board. The circuit board is used according to the position. The measurement data are obtained by setting the change information. The invention also provides a measuring device including a micrometer. The micrometer and measuring equipment provided by the invention have simple structure, convenient use, good measuring accuracy and efficiency.

【技术实现步骤摘要】
千分尺及测量设备
本专利技术涉及测量设备
，具体而言，涉及千分尺及测量设备。
技术介绍
本部分旨在为权利要求书及具体实施方式中陈述的本专利技术的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。千分尺是一种常用的测量设备，现有的千分尺有传统千分尺和杠杆千分尺。传统千分尺采用螺纹旋转给进，螺距越小，精度越高，给进速度越慢；螺距越大，精度越低，给进速度越快；测量效率和测量精度之间存在相互矛盾。随着使用寿命的下降，轴杆径向摆动会逐渐变大。同时，传统千分尺的测杆旋转还引入了两测面平行度误差，对于尺寸跨度大的测量对象，测量效率低。而对于杠杆千分尺，其两侧面都能移动，一面采用直进直出，弹性回退行程小(一般在2mm内)，另一面采用普通千分尺的结构采用螺纹旋转给进，同样引入了普通千分尺的缺点，只是不同量程利用不同标准量棒做比较测量，在弹性回退行程内获得高精度测量，弹性回退行程内效率高，超出弹性回退行程，效率比普通千分尺还低(需要标定)。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种千分尺，其结构简单、使用方便，并具有良好的测量精度和测量效率。本专利技术提供一种关于千分尺的技术方案：一种千分尺，包括本体、主轴、直线轴承及光栅测量组件。所述本体设置有第一测量部，所述主轴通过所述直线轴承安装于所述本体上，且所述主轴伸出所述本体的一端端部设置有第二测量部，所述第二测量部与所述第一测量部相对设置。所述光栅测量组件包括绝对编码光栅、光路结构及电路板，所述绝对编码光栅安装于所述主轴上并能够随所述主轴运动，所述光路结构位于所述本体内并与所述电路板电连接，且所述光路结构能够将所述绝对编码光栅的位置变化信息传输至所述电路板，所述电路板用于根据所述位置变化信息得到测量数据。进一步地，所述主轴设置有第一限位部，所述本体设置有第二限位部，所述第一限位部能够相对所述第二限位部滑动，且所述第一限位部的滑动方向与所述主轴的运动方向一致。进一步地，所述千分尺还包括提升结构，所述提升结构与所述主轴连接并与所述本体活动连接，当所述提升结构向第一方向运动时能够带动所述主轴向第二方向运动，以使所述第二测量部靠近或者远离所述第一测量部。进一步地，所述千分尺还包括弹性件，所述主轴还设置有抵持部，所述弹性件抵持于所述抵持部与所述提升结构的端部之间。进一步地，所述提升结构包括按压件、柔性提升线及执行件，所述按压件与所述本体滑动连接，所述柔性提升线的两端分别与所述按压件和所述执行件连接，所述弹性件抵持于所述执行件与所述抵持部之间；当所述按压件向所述第一方向运动时，所述执行件向所述第二方向运动并带动所述主轴向所述第二方向运动，且所述第一方向与所述第二方向相反。进一步地，所述本体还设置有量程限位结构，所述主轴与所述量程限位结构配合。进一步地，所述第一测量部和所述第二测量部均为平面。进一步地，所述千分尺还包括显示屏，所述显示屏与所述电路板电连接，所述电路板还用于生成供所述显示屏显示的显示信息。进一步地，所述千分尺还包括数据传输模块，所述数据传输模块与所述电路板电连接，所述电路板还用于生成通信数据，所述数据传输模块用于传输所述通信数据。本专利技术的另一目的在于提供一种测量设备，其结构简单、使用方便，并具有良好的测量精度和测量效率。本专利技术还提供一种关于测量设备的技术方案：一种测量设备，包括千分尺。千分尺包括本体、主轴、直线轴承及光栅测量组件。所述本体设置有第一测量部，所述主轴通过所述直线轴承安装于所述本体上，且所述主轴伸出所述本体的一端端部设置有第二测量部，所述第二测量部与所述第一测量部相对设置。所述光栅测量组件包括绝对编码光栅、光路结构及电路板，所述绝对编码光栅安装于所述主轴上并能够随所述主轴运动，所述光路结构位于所述本体内并与所述电路板电连接，且所述光路结构能够将所述绝对编码光栅的位置变化信息传输至所述电路板，所述电路板用于根据所述位置变化信息得到测量数据。相比现有技术，本专利技术提供的千分尺及测量设备的有益效果是：通过外部力使主轴通过直线轴承沿直线移动，使第二测量部相对第一测量部运动而在第一测量部和第二测量部之间产生空隙。将待测量物体放置于该空隙，并将第一测量部和第二测量部抵持在待测量物体的两端。绝对编码光栅随着主轴运动，进而产生位置变化，该位置变化通过光路结构传递至电路板上。电路板感知位置变化并根据绝对编码光栅的位置变化信息计算出待测量物体的测量数据，进而完成测量。绝对编码光栅随着主轴运动能够保证主轴测量的精度，同时采用直线轴承能够有效地限制主轴径向摆动，保证主轴直进直出，消除机械误差。本专利技术提供的千分尺及测量设备的结构简单、使用方便，并具有良好的测量精度和测量效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定。对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。图1为本专利技术的实施例提供的千分尺的结构示意图；图2为本专利技术的实施例提供的直线轴承的结构示意图；图3为2中III处的放大结构示意图；图4为本专利技术的实施例提供的提升结构的结构示意图；图5为图4中V处的放大结构示意图；图6为本专利技术的实施例提供的光栅测量组件的连接结构示意图。图标：10-千分尺；100-本体；110-第一测量部；120-第二限位部；130-量程限位结构；140-显示屏；150-输入模块；160-数据传输模块；200-主轴；210-第二测量部；220-第一限位部；300-直线轴承；400-光栅测量组件；410-绝对编码光栅；420-光路结构；430-电路板；500-提升结构；510-按压件；520-柔性提升线；530-执行件；600-弹性件。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该专利技术产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，“设置”、“连接”等术语应做广义理解，例如，“连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种千分尺，其特征在于，包括本体、主轴、直线轴承及光栅测量组件；所述本体设置有第一测量部，所述主轴通过所述直线轴承安装于所述本体上，且所述主轴伸出所述本体的一端端部设置有第二测量部，所述第二测量部与所述第一测量部相对设置；所述光栅测量组件包括绝对编码光栅、光路结构及电路板，所述绝对编码光栅安装于所述主轴上并能够随所述主轴运动，所述光路结构位于所述本体内并与所述电路板电连接，且所述光路结构能够将所述绝对编码光栅的位置变化信息传输至所述电路板，所述电路板用于根据所述位置变化信息得到测量数据。

【技术特征摘要】
1.一种千分尺，其特征在于，包括本体、主轴、直线轴承及光栅测量组件；所述本体设置有第一测量部，所述主轴通过所述直线轴承安装于所述本体上，且所述主轴伸出所述本体的一端端部设置有第二测量部，所述第二测量部与所述第一测量部相对设置；所述光栅测量组件包括绝对编码光栅、光路结构及电路板，所述绝对编码光栅安装于所述主轴上并能够随所述主轴运动，所述光路结构位于所述本体内并与所述电路板电连接，且所述光路结构能够将所述绝对编码光栅的位置变化信息传输至所述电路板，所述电路板用于根据所述位置变化信息得到测量数据。2.根据权利要求1所述的千分尺，其特征在于，所述主轴设置有第一限位部，所述本体设置有第二限位部，所述第一限位部能够相对所述第二限位部滑动，且所述第一限位部的滑动方向与所述主轴的运动方向一致。3.根据权利要求1或2所述的千分尺，其特征在于，所述千分尺还包括提升结构，所述提升结构与所述主轴连接并与所述本体活动连接，当所述提升结构向第一方向运动时能够带动所述主轴向第二方向运动，以使所述第二测量部靠近或者远离所述第一测量部。4.根据权利要求3所述的千分尺，其特征在于，所述千分尺还包括弹性件，所述主轴还设置有抵持部...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜军，刘佳，
申请(专利权)人：成都华量传感器有限公司，
类型：发明
国别省市：四川,51