【技术实现步骤摘要】
一种金属掺杂二硫化钼薄膜的制备方法
本专利技术属于半导体薄膜材料制备领域,更具体地,涉及一种金属掺杂二硫化钼薄膜材料的制备方法。
技术介绍
近年来二维层状纳米材料由于其在电学、力学、光学、热学等方面具有优异的性质而倍受关注,如石墨烯、h-BN、过渡金属硫化物等。其中二硫化钼(MoS2)作为过渡金属硫化物的典型代表,具有较高的载流子迁移率、良好的热稳定性、高电导率、良好的机械性质、高比表面积、优异的半导体性质及可调控的带隙,因此在光电子器件应用方面具有巨大的潜力。而PN结是光电子器件最基本的结构,由于化学气相沉积法(CVD)制备的MoS2薄膜属于天然弱n性,所以对MoS2的p型掺杂成为二维光电子器件发展急需解决的重要问题。目前MoS2的掺杂途径主要有生长过程中置换掺杂、表面电荷转移、层依赖效应和等离子体注入,其中最常用的是生长过程中置换掺杂,主要包括化学气相沉积法(CVD)和化学气相传输法(CVT)。CVD制备MoS2是通过热蒸发固体源,如MoO3/S粉末或(NH4)2MoS4,然后反应沉积在衬底上形成薄膜。在CVD过程中控制前驱体的成分,可以调控载体类型和载流子密 ...
【技术保护点】
1.一种金属掺杂二硫化钼薄膜的制备方法,其特征在于,将含有硫源、钼源和待掺杂金属元素的混合溶液涂覆在基片上,在真空条件下,采用激光照射涂覆有所述混合溶液的基片表面,制备得到金属掺杂的二硫化钼薄膜。
【技术特征摘要】
1.一种金属掺杂二硫化钼薄膜的制备方法,其特征在于,将含有硫源、钼源和待掺杂金属元素的混合溶液涂覆在基片上,在真空条件下,采用激光照射涂覆有所述混合溶液的基片表面,制备得到金属掺杂的二硫化钼薄膜。2.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,所述激光能量为30~2000J/cm2,制得的所述金属掺杂的二硫化钼薄膜的厚度为5~20nm。3.如权利要求1所述的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将硫脲和钼盐溶解在醇类溶剂中,其中硫元素和钼元素的摩尔比为20:1~5:1,得到前驱体溶液;(2)将金属盐溶液与步骤(1)所述前驱体溶液混合后,涂覆在基片上,得到涂覆有前驱体溶液的基片;所述金属盐的浓度为1~15mmol/L;(3)将所述涂覆有前驱体溶液的基片置于真空腔内,采用激光照射涂覆有所述混合溶液的基片表面,激光能量为30~2000J/cm2,制得厚度为5~20nm的金属掺杂的二硫化钼薄膜。4.如权利要求3所述的制...
【专利技术属性】
技术研发人员:曾祥斌,任婷婷,胡一说,王文照,吴少雄,周广通,曾洋,郭振宇,靳雯,王士博,
申请(专利权)人:华中科技大学,
类型:发明
国别省市:湖北,42
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