结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法技术

本发明专利技术公开了一种结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法，所述方法通过EDA仿真模型及多物理场耦合模型对电子类单机进行描述，建立电子类单机功能仿真模型，结合厂家调研结果，利用灵敏度分析方法确定影响电子类单机输出特性参数的关键底层单元；然后，对关键底层单元进行失效模式及失效机理分析，结合底层单元工艺数据及加速贮存试验中实测的贮存退化数据，建立具有分布特性的底层单元贮存退化模型；最后，通过可靠性框图对电子类单机结构特征进行描述，并将各底层单元贮存失效率注入其中，完成电子类单机贮存可靠性评估。本发明专利技术解决了因进行加速贮存试验时电子类单机样本量过小，而导致的贮存可靠性评估结果准确度较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法
本专利技术属于电子类单机产品性能分析
，涉及一种电子类单机贮存可靠性评估方法，具体涉及一种结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法。
技术介绍
导弹产品根据其任务剖面可分为工作阶段及贮存阶段，相对于工作阶段，其贮存阶段占据了全寿命周期中的绝大部分时间，即满足“长期贮存，一次使用”的特点，因此，要求组成武器装备的各个部件或元器件均具有较高的环境适应性和较长的贮存寿命，它们在贮存期的高可靠性是装备正常使用的重要保障。电子类单机在导弹系统中主要起信号传递、系统控制等功能，在实际贮存环境剖面(如振动、电磁、温度和湿度等)长期作用下，单机的特性参数将发生变化。当特性参数值超出其允许的容差范围时，将造成整个武器装备系统失效，故需要对其进行贮存可靠性研究。电子类单机在长贮状态下退化过程缓慢，通常需要引入贮存加速退化试验来加速其退化过程。由于单机产品成本较高，可供试验使用的样本较少，若直接进行贮存可靠性评估，评估精度受单机产品分散性及试验数据影响程度较大，从而导致所预测的单机贮存期与实际情况相比出现较大偏差。因此，在试验样本有限的情本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法，其特征在于所述方法步骤如下：步骤一：根据电子类单机的原理功能及原理图，利用仿真软件建立电子类单机功能仿真模型；步骤二：基于步骤一所建立的电子类单机功能仿真模型，利用灵敏度分析方法，结合使用厂家调研结果，确定影响电子类单机输出特性指标的关键底层单元；步骤三：根据步骤二中对使用厂家的调研结果，得到电子类单机在实际贮存过程中出现的失效模式，分析与之对应的失效机理，确定基于失效物理的各关键底层单元贮存退化模型形式；步骤四：针对电子类单机各关键底层单元进行加速贮存退化试验，监测各关键底层单元输出特性的贮存退化数据；步骤五：通过调研电子类单机各关...

【技术特征摘要】
1.一种结合工艺及可靠性框图的电子类单机贮存可靠性评估方法，其特征在于所述方法步骤如下：步骤一：根据电子类单机的原理功能及原理图，利用仿真软件建立电子类单机功能仿真模型；步骤二：基于步骤一所建立的电子类单机功能仿真模型，利用灵敏度分析方法，结合使用厂家调研结果，确定影响电子类单机输出特性指标的关键底层单元；步骤三：根据步骤二中对使用厂家的调研结果，得到电子类单机在实际贮存过程中出现的失效模式，分析与之对应的失效机理，确定基于失效物理的各关键底层单元贮存退化模型形式；步骤四：针对电子类单机各关键底层单元进行加速贮存退化试验，监测各关键底层单元输出特性的贮存退化数据；步骤五：通过调研电子类单机各关键底层单元的生产厂家及实际跟厂，得到各关键底层单元的工艺过程数据，即各关键底层单元的输出特性初始分布情况；同时，结合步骤三中得到的各关键底层单元的贮存退化模型及步骤四中各关键底层单元的贮存试验退化数据，利用粒子滤波预测方法，得到具有分布特性的各关键底层单元贮存...

【专利技术属性】
技术研发人员：翟国富，叶雪荣，郑博恺，司爽，林义刚，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江,23