微型同轴测试针制造技术

本实用新型专利技术提供一种微型同轴测试针，具有一探针，其特征在于微型同轴测试针还具有一模块化元件及至少一限位件，模块化元件为中空圆柱体，并套设于探针外侧，且探针的两端分别凸出于模块化元件的两端，并模块化元件与探针为非导通状态；限位件位于探针及模块化元件之间，并模块化元件对应限位件设有复数挡抵部，或探针对应限位件设有至少一挡抵部，以通过挡抵部与限位件接触达到限制探针位移的功效。如此提供模块化的测试针产品，而可免于依序植针的不便组装程序，且可提升测试针的适用度，尤针对高频测试更是具有极佳的干扰阻却效能。

【技术实现步骤摘要】
微型同轴测试针
本技术涉及测试探针领域，尤其是一种模块化而易于组装，同时具有极佳遮罩效果以利高频信号测试的微型同轴测试针。
技术介绍
各类电子元件于制作完成后，都须进行相关的电性或信号传输检测程序，以确保电子元件的各参数状态，于该领域中则常见以探针作为测试元件的应用。视电子元件种类与属性，测试时的需求也有所不同。探针结构据此可区分如悬臂探针或垂直探针，并进一步依据应用领域分为如ICT探针、高频探针、开关探针、半导体探针或电池探针等。以测试高速高频信号的探针为例，目前采用的方式系需将探针的零组件，依序装配至一座体中始能进行测试，前述座体上需开设多个与探针尺寸相符的穿孔以利植针者将探针零组件依序置入，此种方式造成组装上的不便以及工时过长的问题；且由于穿孔需与探针尺寸配合，因此需精准控制座体的尺寸公差，并当探针有所设变时，座体的穿孔尺寸也须一并调整，种种不便的下大幅增加了加工与设计成本。另一方面，随着微型化发展，电子元件的尺寸也随之缩减，故用以搭配检测的探针必然须缩小，在整体尺寸已属极微小化的情况下，遑论用以构成其结构的各零组件尺寸，在此情况下依据前述方式进行组装时，更是容易遭遇组装不善进而影响检测效能的情况。有鉴于此，本技术设计人系集结多年来从事相关行业的经验，提出一种微型同轴测试针，希冀可解决现有探针的缺失。
技术实现思路
本技术的一目的，旨在提供一种微型同轴测试针，其系提供模块化的测试针产品，除可单一使用外也可任意搭配治具进行检测作业，进而提升测试针的共用性与组装便利性。为达上述目的，本技术揭示一种微型同轴测试针，具有一探针，其特征在于：该微型同轴测试针还具有一模块化元件及至少一限位件，该模块化元件为中空圆柱体，并套设于该探针外侧，且该探针的两端分别凸出于该模块化元件的两端，并该模块化元件与该探针为非导通状态；该限位件相对设置且设于该探针外侧，进而位于该探针及该模块化元件之间，该模块化元件对应该限位件具有复数挡抵部，且至少一该挡抵部邻近该模块化元件的一端设置，至少一该挡抵部邻近该模块化元件的另一端设置，以供与该限位件相互接触进而达到限制该探针位置的功效。如此，单一的该微型同轴测试针即可具有同轴效果，而可直接用于检测，除可免除测试时依序植针的不便，减缩组装工时外，也可进一步搭配各种相关检测治具使用。于另一实施例中，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且分别为一弧形凸点；或该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且分别为一环状凸肋，以与该限位件接触达到限位功效。并较佳者，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且该模块化元件外侧对应该复数挡抵部位置是凹陷状态。基于前述各实施例内容，于一较佳实施态样下，该限位件对应该挡抵部形成有一接触部，且该接触部是一斜面，以提升该复数挡抵部与该限位件的挡抵效能。此外，为符合微型化电子元件的检测需求，该微型同轴测试针的最大长度小于3.7mm，以更为适用于现今的微型待测物件。或于另一实施例中，也可使该模块化元件的直径由两端朝中央方向渐增，而在该模块化元件的二端分别形成该挡抵部，以利用渐减的管径相对该限位件形成挡抵限位效能。或也可使该模块化元件具有二个该挡抵部，该模块化元件的直径由中央朝其中一端渐减而形成任一该挡抵部，另一该挡抵部则位于该模块化元件邻近另一端开口处的内侧面，同样可相对限位件形成挡抵限位效能。又一较佳实施例中，该探针具有一第一针轴、一第二针轴、一导管及一弹性件，该第一针轴及该第二针轴分设于该导管的两端，该弹性件设于该导管内且位于该第一针轴与该第二针轴之间，且该第一针轴一侧延伸接触该第二针轴以形成通路；或使该第二针轴一侧延伸接触该第一针轴以形成通路，如此形成双通路。为使该复数限位件可更为稳固地设置，于一实施例中，该探针具有至少一固定槽，供以固设该限位件。此外，为提升该微型同轴测试针与待测物件的接触效能，于一实施例中揭示该第一针轴具有复数尖锐接点。本技术也揭示一种微型同轴测试针，具有一探针，其特征在于：该微型同轴测试针还具有一模块化元件及二限位件，该模块化元件为中空圆柱体，并套设于该探针外侧，且该探针的两端分别凸出于该模块化元件的两端，并该模块化元件与该探针为非导通状态；该复数限位件相对设置，且各该限位件的一端与该模块化元件的开口连接设置，该探针对应该复数限位件具有至少一挡抵部，以与该复数限位件相互接触进而达到限制该探针位置的功效。如此，单一的该微型同轴测试针即可具有同轴效果，而可直接用于检测，除可免除测试时依序植针的不便，减缩组装工时外，也可进一步搭配各种相关检测治具使用。同样地，一实施例中系揭示该复数挡抵部分别为一环状凸肋；或也可使该复数挡抵部分别为一弧形凸肋，且任一该限位件供与复数的该挡抵部相互接触，都可使该复数限位件与该复数挡抵部形成较佳的限位功效。又为符合微型化电子元件的检测需求，该微型同轴测试针的最大长度小于3.7mm，以更为适用于现今的微型待测物件。同样地，一较佳实施例中，该探针具有一第一针轴、一第二针轴、一导管及一弹性件，该第一针轴及该第二针轴分设于该导管的两端，该弹性件设于该导管内且位于该第一针轴与该第二针轴之间，且该第一针轴一侧延伸接触该第二针轴以形成通路；或使该第二针轴一侧延伸接触该第一针轴以形成通路，如此形成双通路。为提升该微型同轴测试针与待测物件的接触效能，于一实施例中揭示该第一针轴具有复数尖锐接点。综上所述，本技术的该微型同轴测试针系提供模块化的产品，而可达到单一测试针即具有同轴测试效能，同时可进一步任意搭配治具进行测试，无顺序与安装步骤的问题，而可消除逐一植针的不便以及相对降低对应治具的生产难度。进一步地，视应用需求，该复数挡抵部可以前述各具体实施方式与态样所设置，以利与该复数限位件接触而防止该探针脱离该模块化元件。附图说明图1为本技术第一实施例的分解示意图。图2为本技术第一实施例的剖面示意图。图3为本技术第一实施例的应用示意图。图4为本技术第一实施例另一实施态样的分解示意图。图5为本技术第一实施例另一实施态样的剖面示意图。图6为本技术第一实施例次一实施态样的立体示意图。图7为本技术第一实施例又一实施态样的剖面示意图。图8为本技术第一实施例再一实施态样的立体示意图。图9为本技术第二实施例的分解示意图。图10为本技术第二实施例的剖面示意图。图11为本技术第二实施例另一实施态样的剖面示意图。附图标记说明：1-微型同轴测试针；10-探针；101-第一针轴；1011-尖锐接点；102-第二针轴；103-导管；104-弹性件；11-模块化元件；12-限位件；121-接触部；13-挡抵部。具体实施方式为使贵审查委员能清楚了解本技术的内容，谨以下列说明搭配图式，敬请参阅。请参阅图1、图2及图3，其是本技术第一实施例的分解示意图、剖面示意图及应用示意图。本技术系揭示一种微型同轴测试针1，其具有一探针10，并该微型同轴测试针1可应用于高速、高频信号传输测试如DataRate、HDMI等，或进行RF或IC如蓝芽、GPS、LTE、Wireless测试等。该微型同轴测试针1的特征在于其还具有一模块化元件11及至少一限位件12，该模块化元件11是中空圆柱体，并套设于该探针1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种微型同轴测试针，具有一探针，其特征在于：该微型同轴测试针还具有一模块化元件及至少一限位件，该模块化元件为中空圆柱体，并套设于该探针外侧，且该探针的两端分别凸出于该模块化元件的两端，该模块化元件与该探针为非导通状态；该限位件设于该探针外侧并位于该探针及该模块化元件之间，该模块化元件对应该限位件具有复数挡抵部，以供与该限位件相互接触进而达到限制该探针位置的功效。

【技术特征摘要】
1.一种微型同轴测试针，具有一探针，其特征在于：该微型同轴测试针还具有一模块化元件及至少一限位件，该模块化元件为中空圆柱体，并套设于该探针外侧，且该探针的两端分别凸出于该模块化元件的两端，该模块化元件与该探针为非导通状态；该限位件设于该探针外侧并位于该探针及该模块化元件之间，该模块化元件对应该限位件具有复数挡抵部，以供与该限位件相互接触进而达到限制该探针位置的功效。2.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且分别为一弧形凸点。3.根据权利要求2所述的微型同轴测试针，其特征在于，该限位件对应该挡抵部形成有一接触部，且该接触部具有一斜面。4.根据权利要求3所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。5.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且分别为一环状凸肋。6.根据权利要求5所述的微型同轴测试针，其特征在于，该限位件对应该挡抵部形成有一接触部，且该接触部是一斜面。7.根据权利要求6所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。8.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该复数挡抵部位于该模块化元件的内侧面，且该模块化元件外侧对应该复数挡抵部位置是凹陷状态。9.根据权利要求8所述的微型同轴测试针，其特征在于，该限位件对应该挡抵部形成有一接触部，且该接触部是一斜面。10.根据权利要求9所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。11.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该模块化元件的直径由两端朝中央方向渐增，而在该模块化元件的二端分别形成该挡抵部。12.根据权利要求11所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。13.根据权利要求1所述的微型同轴测试针，其特征在于，该模块化元件具有二个该挡抵部，该模块化元件的直径由中央朝其中一端渐减而形成任一该挡抵部，另一该挡抵部则位于该模块化元件邻近另一端开口处的内侧面。14.根据权利要求13所述的微型同轴测试针，其特征在于，该微型同轴测试针的长度小于3.7mm。15.根据权利要求1至14中任一项所述的微型同轴测试针，其特征在于，该探针具有至少一固定槽，供以固设该限位件。16.根据权利要求15所述的微型同轴测试针，其特征在于，该探针具有一第一针轴、一第二针轴、一导管及...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡伯晨，陈威助，谢健堉，吕彦辉，陈彦均，侯志辉，潘亭蓁，
申请(专利权)人：中国探针股份有限公司，
类型：新型
国别省市：中国台湾,71