一种基于图像处理的电缆半导电层自动检测方法技术

本发明专利技术公开了一种基于图像处理的绝缘片半导电层自动检测方法，实现了对电缆绝缘片半导电层的自动检测。包括：采集电缆绝缘片试片图像；图像预处理；提取感兴趣区域；通过对感兴趣区域进行分割，筛选分割得到的连通域集合，生成半导电层轮廓；对生成的半导电层轮廓进行缺陷检测和补偿。本绝缘片半导电层自动检测方法，检测效率和精度高，充分考虑了刀痕、光照等因素，同时大大降低了检测人员的劳动强度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于图像处理的电缆半导电层自动检测方法
本专利技术属于精密测量
，具体涉及一种基于图像处理的电缆半导电层自动检测方法。
技术介绍
目前，测量电缆半导电层厚度、面积以及偏心率(或偏心度)等参数的方法是人工测量。比如目前测量半导电层厚度和偏心度，一般是使用测量投影仪，通过光学投影，将电缆试片放大一定倍率投影到屏幕，再通过手动移动坐标支架的方式，读取不同位置点的坐标，计算厚度值，再算出偏心度。但是，使用传统装置以及测量方法对电缆半导电层厚度进行测量时会出现以下问题：1、手工测量复杂，且由人为因素导致引起的测量误差较大，需要人工估计圆心位置，选取试片的测量点。2、手动计算复杂，计算项目多、计算量大，容易出现计算错误。3、测量时需要相应量具测量，在测量一些试片时往往需要读数显微镜或是放大倍数至少10倍以上的投影仪作为测量装置，操作复杂、需要时间长、对测试人员要求高。现有的检测半导电层厚度装置需要测量人员手动确定圆心，转动试片确定最薄点和其他N个试点，手动测量复杂、耗时、较容易引起误差。另外，现在虽然已经有基于图像处理的电缆绝缘层厚度检测装置，但是现有的装置只能检测绝缘层、绝缘屏蔽层等本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于图像处理的电缆半导电层自动检测方法，其特征在于，包括：(1)采集待检测电缆的试片图像；(2)对采集到的试片图像进行图像预处理，得到阈值化图像；(3)利用阈值化图像，对试片图像进行感兴趣区域的提取，得到半导电层的感兴趣区域图像，即ROI图像，并对ROI图像进行灰度化操作获取ROI灰度图像；从阈值化图像中同时得到试片内轮廓，即半导电层内轮廓、试片内轮廓质心和试片外轮廓，即绝缘层外轮廓；(4)对ROI灰度图像求取感兴趣区域的分割掩模，利用分割掩模以及GrabCut算法对ROI图像进行图像分割，得到分割后的图像；(5)对分割后的图像进行轮廓提取和轮廓筛选，得到半导电层外轮廓；(6)对得到的...

【技术特征摘要】
1.一种基于图像处理的电缆半导电层自动检测方法，其特征在于，包括：(1)采集待检测电缆的试片图像；(2)对采集到的试片图像进行图像预处理，得到阈值化图像；(3)利用阈值化图像，对试片图像进行感兴趣区域的提取，得到半导电层的感兴趣区域图像，即ROI图像，并对ROI图像进行灰度化操作获取ROI灰度图像；从阈值化图像中同时得到试片内轮廓，即半导电层内轮廓、试片内轮廓质心和试片外轮廓，即绝缘层外轮廓；(4)对ROI灰度图像求取感兴趣区域的分割掩模，利用分割掩模以及GrabCut算法对ROI图像进行图像分割，得到分割后的图像；(5)对分割后的图像进行轮廓提取和轮廓筛选，得到半导电层外轮廓；(6)对得到的半导电层外轮廓进行缺陷检测和补全，得到最终的半导电层图像。2.根据权利要求1所述的基于图像处理的电缆半导电层自动检测方法，其特征在于，步骤(3)中，具体包括：(3-1)提取阈值化图像中的连通域，并根据圆度、面积对得到的连通域进行筛选，剔除与试片无关的噪声信息；(3-2)提取试片外轮廓和试片内轮廓，并计算出试片内轮廓和试片外轮廓对应的最小外接矩和质心，通过内外最小外接矩计算当前试片半导电层所在区域，从试片图像中提取该区域，得到ROI图像，并对ROI图像进行灰度化操作得到ROI灰度图像。3.根据权利要求1所述的基于图像处理的电缆半导电层自动检测方法，其特征在于，步骤(4)中，求取感兴趣区域的分割掩模的方法如下：(4-1)对步骤(3)得到的ROI灰度图像进行阈值化处理；(4-2)使用形态学操作滤除噪声并填补目标区域的细小孔洞，得到部分半导电层连通域；(4-3)将当前提取的部分半导电层连通域在Mask图像中标记为目标，其他区域标记为背景，得到分割掩模。4.根据权利要求3所述的基于图像处理的电缆半导电层自动检测方法，其特征在于，步骤(4)中，进行图像分割的方法为：(4-4)使用当前的分割掩模训...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯北平，董霏，吴颖东，黄俊，朱文，介婧，于爱华，
申请(专利权)人：浙江科技学院，
类型：发明
国别省市：浙江,33