一种应用于综合测试仪的仪器诊断方法及其系统技术方案

本发明专利技术提供一种应用于综合测试仪的仪器诊断方法及其系统，所述仪器诊断方法包括以下步骤：步骤S1，采集综合测试仪的开机日志信息；步骤S2，监控所述综合测试仪的工作状态，当所述综合测试仪工作异常时，采集相应的配置信息；步骤S3，导出所述综合测试仪的仪器诊断数据；其中，所述综合测试仪包括诊断模块、工控机、基带板、射频板和开关板，所述诊断模块分别与所述工控机、基带板、射频板和开关板相连接，所述工控机通过基带板与所述射频板相连接，所述射频板与开关板相连接。本发明专利技术能够有效免去综合测试仪维护人员对仪器各个模块进行诊断时的开发工作量，有效降低了维护难度和维护成本，方便调试和系统优化，并提高综合测试仪的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于综合测试仪的仪器诊断方法及其系统
本专利技术涉及一种仪器诊断方法，尤其涉及一种应用于综合测试仪的仪器诊断方法，并涉及采用了该应用于综合测试仪的仪器诊断方法的仪器诊断系统。
技术介绍
通常一台综合测试仪（简称综测仪），在使用时出现异常情况，开发人员都会问操作员数据日志或者重新复现当时的情况；而操作员非仪器专业人员，采集到的信息不足以找到问题的根本所在。主要有以下几个方面的原因：一、异常数据难以保存，仪器出现异常，由于操作人员不知道对应的仪器调试命令，无法把当时DUT发送的异常数据保存到本地，然后发给专业人员分析；二、DUT偶发性异常指标，操作人员不容易察觉，仪器出现异常情况，测试人员对自己不关心的测试指标不在意，导致有些测试指标不良时会察觉不到；仪器外部环境导致仪器测试数据异常，由于某些恶劣环境，导致仪器内部器件工作不正常，而测试人员又没发现，从而导致测试数据的不准确；四、问题难以复现，某些问题再当时的特定场景下容易出现问题，但是无其他定位手段，导致仪器返厂维修时，问题不再复现。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是需要提供一种能够降低综合测试仪维护人员的维护工作量，方便调试和系统优化，并进一步提高综合测试仪可靠性的仪器诊断方法，还提供采用该仪器诊断方法的仪器诊断系统。对此，本专利技术提供一种应用于综合测试仪的仪器诊断方法，包括以下步骤：步骤S1，采集综合测试仪的开机日志信息；步骤S2，监控所述综合测试仪的工作状态，当所述综合测试仪工作异常时，采集相应的配置信息；步骤S3，导出所述综合测试仪的仪器诊断数据；其中，所述综合测试仪包括诊断模块、工控机、基带板、射频板和开关板，所述诊断模块分别与所述工控机、基带板、射频板和开关板相连接，所述工控机通过基带板与所述射频板相连接，所述射频板与所述开关板相连接。本专利技术的进一步改进在于，所述步骤S1中，所述开机日志信息包括工控机PCIE设备个数、网卡状态、内存使用状态、CPU状态以及应用堆栈信息中的任意一种或几种。本专利技术的进一步改进在于，所述步骤S2中，监控所述综合测试仪的基带板、射频板和开关板的工作状态，当基带板、射频板和开关板中的任意一个工作异常时，导出其当前配置信息，并将所述当前配置信息与预先设置于寄存器的配置信息真值表进行比对，若比对结果不一致则判断该当前配置信息所对应的模块发生异常。本专利技术的进一步改进在于，所述步骤S2包括以下子步骤：步骤S201，通过所述综合测试仪的工控机下发查询命令，当寄存器电压过载或者电压过低时，下发诊断命令至所述基带板，以采集所述基带板的当前配置信息；步骤S202，通过所述综合测试仪的工控机下发查询命令，当所述射频板工作异常时，下发诊断命令至所述射频板，以采集所述基带板的当前配置信息；步骤S203，通过所述综合测试仪的工控机下发查询命令，当所述开关板工作异常时，下发诊断命令至所述开关板，以采集所述开关板的当前配置信息。本专利技术的进一步改进在于，所述步骤S3中，通过移动存储设备连接至所述诊断模块，所述诊断模块在检查所述移动存储设备的连接后，将所述综合测试仪的仪器诊断数据导出至所述移动存储设备中。本专利技术的进一步改进在于，所述步骤S3中，所述综合测试仪的仪器诊断数据包括开机日志信息、配置信息、仪器网络配置信息、仪器日志信息、仪器主板信息、仪器背板信息以及仪器固件版本配套表中的任意一种或几种。本专利技术的进一步改进在于，还包括自校验步骤，通过所述综合测试仪的自环回校验实现仪器的自校验。本专利技术的进一步改进在于，所述自校验步骤的自校验过程为：将所述开关板上的第一RF接口与第二RF接口相连接，所述第一RF接口作为连接至多矢量信号发生器的接口，所述第二RF接口作为连接至矢量信号分析仪的接口，将第二RF接口接收得到的数据与跟预先标定好的出厂标定值进行对比，当所述对比的对比值超过了预存的门阀值，则判定所述综合测试仪出现了异常。本专利技术还提供一种应用于综合测试仪的仪器诊断系统，包括了上位机和综合测试仪，所述综合测试仪采用了如上所述的应用于综合测试仪的仪器诊断方法。本专利技术的进一步改进在于，每一台所述综合测试仪均内嵌一个所述诊断模块，并连接至一个待测设备；所述诊断模块对所述综合测试仪的仪器诊断与所述综合测试仪对所述待测设备的信号测试相互独立。与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：在每一台综合测试仪中内嵌一个诊断模块（ISDM诊断模块），一台综合测试仪连接一个待测设备（DUT），所述综合测试仪只负责对待测设备（DUT）的信号解析，所述诊断模块（ISDM诊断模块）则只对综合测试仪的异常数据进行收集分析，这样各自分工明确，不易出错，能够有效免去综合测试仪维护人员对仪器各个模块进行诊断时的开发工作量，有效降低了维护难度和维护成本，方便调试和系统优化，能显著提高综合测试仪的可靠性。附图说明图1是本专利技术一种实施例的工作流程结构示意图；图2是本专利技术一种实施例的综合测试仪的模块结构示意图；图3是本专利技术一种实施例实现自校验步骤的原理结果示意图；图4是本专利技术一种实施例的系统工作原理示意图。具体实施方式下面结合附图，对本专利技术的较优的实施例作进一步的详细说明。本例先对术语进行解释，其中，ISDM为仪器自诊断方法；DUT为待测设备即测试中设备；VSG为矢量信号发生器；VSA为矢量信号分析器；LOG为日志信息；USB为通用串行总线，RF为射频。如图1和图2所示，本例提供一种应用于综合测试仪的仪器诊断方法，包括以下步骤：步骤S1，采集综合测试仪的开机日志信息；步骤S2，监控所述综合测试仪的工作状态，当所述综合测试仪工作异常时，采集相应的配置信息；步骤S3，导出所述综合测试仪的仪器诊断数据；其中，所述综合测试仪（简称测试仪或综测仪）包括诊断模块、工控机、基带板、射频板和开关板，所述诊断模块分别与所述工控机、基带板、射频板和开关板相连接，所述工控机通过基带板与所述射频板相连接，所述射频板与所述开关板相连接。本例所述步骤S1中，所述开机日志信息包括工控机PCIE设备个数、网卡状态、内存使用状态、CPU状态以及应用堆栈信息中的任意一种或几种。所述综合测试仪内部一般都有多个功能模块组成，如图2所示，主要包括工控机、基带板、射频板和开关板等，本例增加诊断模块，所述诊断模块连接工控机，首先通过工控机把开机日志信息（开机LOG）保存起来，避免出现工控机崩溃后找不到对应的日志信息。本例所述步骤S2中，监控所述综合测试仪的基带板、射频板和开关板的工作状态，当基带板、射频板和开关板中的任意一个工作异常时，导出其当前配置信息，并将所述当前配置信息与预先设置于寄存器的配置信息真值表进行比对，若比对结果不一致则判断该当前配置信息所对应的模块发生异常。本例所述步骤S2包括以下子步骤：步骤S201，通过所述综合测试仪的工控机下发查询命令，当寄存器电压过载或者电压过低时，下发诊断命令至所述基带板，以采集所述基带板的当前配置信息；更为具体的，所述诊断模块首先给工控机发送命令，通过工控机查看基带板是否工作正常，如果工控机模块出现异常，如寄存器电压过载或者电压过低，则诊断模块直接下发诊断命令给基带板，收集基带板的当前配置信息；所述诊断命令为自定义的配置参数命令；步骤S202，RF1与RF2环回测试时，通过VSG发送预设的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种应用于综合测试仪的仪器诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，采集综合测试仪的开机日志信息；步骤S2，监控所述综合测试仪的工作状态，当所述综合测试仪工作异常时，采集相应的配置信息；步骤S3，导出所述综合测试仪的仪器诊断数据；其中，所述综合测试仪包括诊断模块、工控机、基带板、射频板和开关板，所述诊断模块分别与所述工控机、基带板、射频板和开关板相连接，所述工控机通过基带板与所述射频板相连接，所述射频板与所述开关板相连接。

【技术特征摘要】
1.一种应用于综合测试仪的仪器诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，采集综合测试仪的开机日志信息；步骤S2，监控所述综合测试仪的工作状态，当所述综合测试仪工作异常时，采集相应的配置信息；步骤S3，导出所述综合测试仪的仪器诊断数据；其中，所述综合测试仪包括诊断模块、工控机、基带板、射频板和开关板，所述诊断模块分别与所述工控机、基带板、射频板和开关板相连接，所述工控机通过基带板与所述射频板相连接，所述射频板与所述开关板相连接。2.根据权利要求1所述的应用于综合测试仪的仪器诊断方法，其特征在于，所述步骤S1中，所述开机日志信息包括工控机PCIE设备个数、网卡状态、内存使用状态、CPU状态以及应用堆栈信息中的任意一种或几种。3.根据权利要求1所述的应用于综合测试仪的仪器诊断方法，其特征在于，所述步骤S2中，监控所述综合测试仪的基带板、射频板和开关板的工作状态，当基带板、射频板和开关板中的任意一个工作异常时，导出其当前配置信息，并将所述当前配置信息与预先设置于寄存器的配置信息真值表进行比对，若比对结果不一致则判断该当前配置信息所对应的模块发生异常。4.根据权利要求3所述的应用于综合测试仪的仪器诊断方法，其特征在于，所述步骤S2包括以下子步骤：步骤S201，通过所述综合测试仪的工控机下发查询命令，当寄存器电压过载或者电压过低时，下发诊断命令至所述基带板，以采集所述基带板的当前配置信息；步骤S202，通过所述综合测试仪的工控机下发查询命令，当所述射频板工作异常时，下发诊断命令至所述射频板，以采集所述基带板的当前配置信息；步骤S203，通过所述综合测试仪的工控机下发查询命令，当所述开关板工作异常时，下发诊断命令至所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴帅，肖鸽，
申请(专利权)人：深圳市极致汇仪科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44