指纹盖板的检测方法及指纹盖板的检测装置制造方法及图纸

本申请提供一种指纹盖板的检测方法和指纹盖板的检测装置。所述指纹盖板的检测方法包括：在第一高度位置探测壳体上若干个点的高度，以得到第一高度值集合；在第二高度位置探测所述指纹盖板上的若干个点的高度，以得到第二高度值集合；根据所述第一高度值集合和所述第二高度值集合计算出最大高度差；将所述最大高度差与预设区间进行比对，以对所述指纹盖板进行缺陷判断，其中，所述缺陷包括指纹盖板起翘和指纹盖板下陷中的一种。本申请的技术方案有助于提高对指纹盖板的检测精度。

【技术实现步骤摘要】
指纹盖板的检测方法及指纹盖板的检测装置
本申请涉及检测
，尤其涉及一种指纹盖板的检测方法及指纹盖板的检测装置。
技术介绍
随着时代的发展，电子装置采用指纹解锁技术的应用已经越来越普遍。而在电子装置生产制造的过程中，除了要保证指纹功能正常以外，指纹所产生的整机外观效果也需要多加重视。指纹的外观不良主要表现在指纹起翘和下陷，电子装置厂商也都制定了起翘和下陷的标准来进行管控。但是，传统的技术方案是通过产线作业人员用手去触摸，凭触感去执行标准精确度难以保证，很容易产生不良品。
技术实现思路
本申请提供一种指纹盖板的检测方法，所述指纹盖板的检测方法包括：在第一高度位置探测壳体上若干个点的高度，以得到第一高度值集合；在第二高度位置探测所述指纹盖板上的若干个点的高度，以得到第二高度值集合；根据所述第一高度值集合和所述第二高度值集合计算出最大高度差；将所述最大高度差与预设区间进行比对，以对所述指纹盖板进行缺陷判断，其中，所述缺陷包括指纹盖板起翘和指纹盖板下陷中的一种。本申请提供的指纹盖板的检测方法，通过在第一高度位置探测电子装置的壳体上的若干个点的高度，以得到第一高度值集合；然后再在第二高度位置探测电子装置的指纹盖板上的若干个点的高度，以得到第二高度值集合；然后将第一高度值集合中的数值与第二高度值集合中的数值做差，计算出最大高度差；最后将最大高度差与预设区间进行比对，以对所述指纹盖板进行缺陷判断，其中，所述缺陷包括指纹盖板起翘和指纹盖板下陷中的一种。本申请以壳体作为参照，通过探测若干个点的办法，对指纹盖板的缺陷进行判断，有助于提高对指纹盖板的检测精度。本申请还提供一种指纹盖板的检测装置，其特征在于，所述指纹盖板的检测装置包括：第一探测模块，用于在第一高度位置探测壳体上若干个点的高度，以得到第一高度值集合；第二探测模块，用于在第二高度位置探测所述指纹盖板上的若干个点的高度，以得到第二高度值集合；计算模块，用于根据所述第一高度值集合和所述第二高度值集合计算出最大高度差；比对判断模块，用于将所述最大高度差与预设区间进行比对，以对所述指纹盖板进行缺陷判断，其中，所述缺陷包括指纹盖板起翘和指纹盖板下陷中的一种。附图说明为了更清楚地说明本申请实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本申请实施例一提供的指纹盖板的检测方法的流程示意图。图2是本申请实施例一中探测点的位置关系示意图。图3是本申请实施例一中步骤S200的一种局部流程图。图4是本申请实施例一中步骤S200的另一种局部流程图。图5是本申请实施例一中一种探测方式的示意图。图6是本申请实施例一中另一种探测方式的示意图。图7是本申请实施例一提供的指纹盖板的检测装置的结构示意图。图8是本申请实施例一中一种第二探测模块的结构示意图。图9是本申请实施例一中另一种第二探测模块的结构示意图。图10是本申请实施例一中比对判断模块的结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施方式中的附图，对本申请实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本申请一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本申请中的实施方式，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本申请保护的范围。请参阅图1，图1是本申请实施例一提供的指纹盖板的检测方法的流程示意图。在本实施例中，所述指纹盖板200的检测方法包括但不限于步骤S100、S200、S300和S400，关于步骤S100、S200、S300和S400的详细介绍如下。S100：在第一高度位置探测壳体100上若干个点的高度，以得到第一高度值集合。其中，所述壳体100可以为电子装置1的前壳，也可以为电子装置1的后盖。可选的，电子装置1是指由集成电路、晶体管、电子管等电子元器件组成，应用电子技术(包括)软件发挥作用的设备，常见的电子装置1包括：智能手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑、移动互联网设备(mobileinternetdevice，MID)、可穿戴设备，例如智能手表、智能手环、计步器等具有指纹识别功能的装置。可选的，探测壳体100上若干个点的高度的方法可以为红外探测，也可以为超声波测距。具体的，以红外探测为例进行说明，当采用红外探测传感器探测壳体100上若干个点的高度时，首先，红外探测传感器的发射模块向壳体100发射红外线，接着，壳体100将该红外线反射回来，然后红外探测传感器的接收模块接收该红外线，根据红外探测传感器发射和接收红外线的时间差就可以计算出红外探测传感器与壳体100之间的距离，通过发射和接收若干个红外探测信号，从而可以获得第一高度值集合。S200：在第二高度位置探测所述指纹盖板200上的若干个点的高度，以得到第二高度值集合。同样，探测所述指纹盖板200上的若干个点的方式也可以为红外探测，还可以为超声波探测。具体的，不再赘述。其中，第二高度位置可以与第一高度位置相同，也可以与第一高度位置不同。优选的，所述第一高度位置和所述第二高度位置相同，从而可以采用同一检测装置在同一位置同时对壳体100和指纹盖板200进行探测，有助于提高检测效率。请参阅图2，图2是本申请实施例一中探测点的位置关系示意图。可选的，在一较佳实施方式中，所述壳体100上若干个点与所述指纹盖板200上若干个点之间具有一一对应的关系，且所述壳体100上的点和所述指纹盖板200上与之对应的点关于所述指纹盖板200的轮廓线S对称。其中，一一对应是指两集合元素之间有一对一关系的对应。在数学中，双射，双射函数或一对一对应是两组的元素之间的函数，其中一组的每个元素与另一组的元素恰好配对，另一组的每个元素与第一组的正好一个元素也恰好配对。没有不配对的元素。在数学术语中，双射函数f：X→Y是集合X与集合Y的一一映射，也叫一一对应。具体的，所述壳体100上的探测点位于所述指纹盖板200的轮廓线S以所述指纹盖板200的几何中心为中心进行放大得到的曲线上，所述指纹盖板200上的探测点位于所述指纹盖板200的轮廓线S以所述指纹盖板200的几何中心为中心进行缩小得到的曲线上。举例而言，在第一高度位置探测所述壳体100上的四个点A1、A2、A3和A4，然后在第二高度位置探测所述指纹盖板200上的四个点a1、a2、a3和a4，其中，A1和a1、A2和a2、A3和a3以及A4和a4均关于指纹盖板200的轮廓线S对称。由于壳体100上的探测点A1、A2、A3和A4均具有指纹盖板200上的四个点a1、a2、a3和a4与之对应，即在壳体100上选取了多个探测点，可以避免偶然因素的干扰，从而可以避免所述壳体100本身的缺陷对判断结果的干扰。且当所述壳体100上的点和所述指纹盖板200上与之对应的点关于所述指纹盖板200的轮廓线S对称时，可以使得探测出来的结果更加准确。请一并参阅图2和图3，图3是本申请实施例一中步骤S200的一种局部流程图。可选的，在一种实施方式中，所述“S200：在第二高度位置探测所述指纹盖板200上的若干个点的高度，以得到第二高度值集合”包括但不限于步骤S210和S本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种指纹盖板的检测方法，其特征在于，所述指纹盖板的检测方法包括：在第一高度位置探测壳体上若干个点的高度，以得到第一高度值集合；在第二高度位置探测所述指纹盖板上的若干个点的高度，以得到第二高度值集合；根据所述第一高度值集合和所述第二高度值集合计算出最大高度差；将所述最大高度差与预设区间进行比对，以对所述指纹盖板进行缺陷判断，其中，所述缺陷包括指纹盖板起翘和指纹盖板下陷中的一种。

【技术特征摘要】
1.一种指纹盖板的检测方法，其特征在于，所述指纹盖板的检测方法包括：在第一高度位置探测壳体上若干个点的高度，以得到第一高度值集合；在第二高度位置探测所述指纹盖板上的若干个点的高度，以得到第二高度值集合；根据所述第一高度值集合和所述第二高度值集合计算出最大高度差；将所述最大高度差与预设区间进行比对，以对所述指纹盖板进行缺陷判断，其中，所述缺陷包括指纹盖板起翘和指纹盖板下陷中的一种。2.如权利要求1所述的指纹盖板的检测方法，其特征在于，当所述第一高度位置与所述第二高度位置相等时，将所述最大高度差与第一子预设区间进行比对；当所述第一高度位置与所述第二高度位置不相等，且所述第一高度位置与所述第二高度位置之间形成第一高度差时，将所述最大高度差与第二子预设区间进行比对，其中，所述第二子预设区间为所述第一子预设区间与所述第一高度差之和。3.如权利要求1所述的指纹盖板的检测方法，其特征在于，所述壳体上若干个点与所述指纹盖板上若干个点之间具有一一对应的关系，且所述壳体上的点和所述指纹盖板上与之对应的点关于所述指纹盖板的轮廓线对称。4.如权利要求1所述的指纹盖板的检测方法，其特征在于，所述“在第二高度位置探测所述指纹盖板上的若干个点的高度，以得到第二高度值集合”包括：探测所述指纹盖板中心区域的若干个点的高度，以得到中心区域的高度值集合；提取中心区域的高度值集合中波动量大于预设阈值的若干个高度值，并计算大于预设阈值的若干个高度值的平均值，将所述平均值作为第二高度值集合。5.如权利要求1所述的指纹盖板的检测方法，其特征在于，所述“探测所述指纹盖板上的若干个点”包括：对所述指纹盖板进行阵列扫描采样，以得到若干个点；控制对所述指纹盖板的中心区域的扫描采样速度为第一采样速度，控制对所述指纹盖板的边缘区域的扫描采样速度为第二采样速度，其中，所述第一采样速度小于所述第二采样速度。6.如权利要求1所述的指纹盖板的检测方法，其特征在于，所述“将所述最大高度差与预设区间进行比对，以对所述指纹盖板进行缺陷判断”包括：当所述最大高度差大于预设区间的最大值时，判断所述缺陷为指纹盖板下陷；当所述最大高度差小于预设区间的最小值时，判断所述缺陷为指纹盖板起翘；当所述最大高度差在预设区间的范围内时，判断所述指纹盖板没有缺陷。7.一种指纹盖板的检测装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44