一种边界温度条件光电成像系统像质定量评价装置制造方法及图纸

一种边界温度条件光电成像系统像质定量评价装置，属于光学检测领域，为了满足现有技术的需求，该装置主要包括温度模拟装置、光学窗口、平行光管、积分球、三个机械调整装置、计算机处理系统以及测试台；温度模拟装置，其为具有除湿功能的高低温试验箱，被测光电成像系统设置在温度模拟器内；光学窗口固定在温度模拟装置的侧壁的通孔位置上；被测光电成像系统、光学窗口、平行光管和积分球依次同轴设置；测光电成像系统、平行光管和积分球分别设置在三个机械调整装置上；平行光管和积分球所在的机械调整装置安装在测试台上；计算机处理系统与被测光电成像系统连接；该装置实现在边界温度条件下对典型的光电成像系统进行像质定量评价。

【技术实现步骤摘要】
一种边界温度条件光电成像系统像质定量评价装置
本专利技术涉及一种边界温度条件光电成像系统像质定量评价装置，属于光学检测领域，主要用于实现边界温度条件下典型光电成像系统的像质测试与定量评价。
技术介绍
像质是光电成像系统的关键性能指标之一，是光学检测领域重点关注的问题，直接影响光电成像系统的设计、制造和使用。研究表明，温度对于光电成像系统的像质具有直接影响。随着光电技术和图像处理技术的快速发展，光电成像系统在侦查、瞄准、校射、检测等的应用越来越广泛。依据应用领域的不同，光电成像系统都需要具有特定的温度工作范围，特殊情况下，需要在-40℃—50℃的温度环境下正常工作。因此，必须关注温度变化对像质的影响。然而，由于测试条件的限制，目前国内光电成像系统只能进行常规温度环境的像质评价和高低温环境下的存储试验，高低温试验也只是针对设备能否正常开机、调焦是否正常等简单功能进行测试，而决定光电成像系统性能的成像质量的关键指标，如传递函数、分辨率等均无法在边界温度条件下进行考核。测试条件和方法的限制制约了光电成像系统的性能评价，为其在边界温度环境下的应用和使用效能的发挥埋下隐患。目前尚未见到此种边界温本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.边界温度条件光电成像系统像质定量评价装置，其特征是，该装置主要包括温度模拟装置(1)、光学窗口(2)、平行光管(3)、积分球(4)、三个机械调整装置(5)、计算机处理系统(6)以及测试台(8)；温度模拟装置(1)，其为具有除湿功能的高低温试验箱，被测光电成像系统(7)设置在温度模拟器(1)内；光学窗口(2)固定在温度模拟装置(1)的侧壁的通孔位置上；被测光电成像系统(7)、光学窗口(2)、平行光管(3)和积分球(4)依次同轴设置；测光电成像系统(7)、平行光管(3)和积分球(4)分别设置在三个机械调整装置(5)上；平行光管(3)和积分球(4)所在的机械调整装置(5)安装在测试台(8)上；计...

【技术特征摘要】
1.边界温度条件光电成像系统像质定量评价装置，其特征是，该装置主要包括温度模拟装置(1)、光学窗口(2)、平行光管(3)、积分球(4)、三个机械调整装置(5)、计算机处理系统(6)以及测试台(8)；温度模拟装置(1)，其为具有除湿功能的高低温试验箱，被测光电成像系统(7)设置在温度模拟器(1)内；光学窗口(2)固定在温度模拟装置(1)的侧壁的通孔位置上；被测光电成像系统(7)、光学窗口(2)、平行光管(3)和积分球(4)依次同轴设置；测光电成像系统(7)、平行光管(3)和积分球(4)分别设置在三个机械调整装置(5)上；平行光管(3)和积分球(4)所在的机械调整装置(5)安装在测试台(8)上；计算机处理系统(6)与被测光电成像系统(7)连接。2.根据权利要求1所述的边界温度条件光电成像系统像质定量评价装置，其特征是，该装置中积分球(4)发出的光经过平行光管(3)出射平行的目标光，目标光通过光学窗口(2)透射到温度模拟装置(1)内，被测光电成像系统(7)接收；被测光电成像系统(7)通过被测光电成像系统自带的CCD或CMOS探测器接收目标光并成像，被测光电成像系统(7)将成像信息传输给计算机处理系统(6)，计算机处理系统(6)对所成的像进行运算和处理，用于进行像质评价。3.根据权利要求1或2所述的边界温度条件光电成像系统像质定量评价装置，其特征是，所述光学窗口(2)主要包括基础法兰(2-1)、三个柔性结构(2-2)、窗口玻璃(2-3)、密封盖(2-4)、大密封圈(2-5)、小密封圈(2-6)、六个温度传感器(2-7)、六个导热片(2-8)、三个电加热片(2-9)、三个制冷片(2-10)和温控单元(2-11)；基础法兰(2-1)的内...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵贵军，张磊，张松，王海伟，张崇，崔超，孙树红，权明吉，彭佳琦，张继真，
申请(专利权)人：中国人民解放军陆军沈阳军事代表局驻长春地区军事代表室，
类型：发明
国别省市：吉林,22