一种非接触粉末湿膜测厚仪制造技术

本发明专利技术公开了一种非接触粉末湿膜测厚仪，包括基座、红外探测装置和激光发射装置，基座上镶嵌式安装有激光发射装置，激光发射装置旁边设置有红外探测装置，激光发射装置旁边设置有可见光光源，激光发射装置包括激光发射器，激光发射器下部外侧安装有位置调节套筒,激光发射器下部内侧安装有聚光透镜二，红外探测装置包括红外线探头，红外线探头顶部焊接有电源接线柱，电源接线柱穿过活动限位块和探头限位座，红外线探头位于探头限位座下侧，探头限位座通过过盈配合安装在密封罩上，密封罩底部内侧通过凹槽安装有聚光透镜一。有益效果在于：测量精度高、测量距离可较远；且由于测量头无需与样件垂直，测量条件易满足，因此更便于操作和使用。

【技术实现步骤摘要】
一种非接触粉末湿膜测厚仪
本专利技术涉及检测设备领域，具体涉及一种非接触粉末湿膜测厚仪。
技术介绍
由于涂层固化过程中会出现应力，产生收缩或膨胀，当涂层中的应力超过了涂层的抗拉强度，涂层就会开裂。与此同时会出现的问题就是，涂层完全固化后会出现涂层厚度不符合设计要求，由此造成很大的损失。因此，我们需要在涂装过程中随时检查涂层的湿膜厚度。常规的湿膜测厚仪有时接触式的会破坏涂层表面，对施工造成一定的影响；也有超声波非接触粉末湿膜测厚仪，但由于使用条件比较苛刻必须垂直对准测试面板，并且距离在十几毫米之间，导致了操作不方便，测量精度不高，精确度只有5-10um之间。因此，需要一种操作方便、非接触式测量的粉末湿膜厚度检测装置。
技术实现思路
本专利技术的目的就在于为了解决上述问题而提供一种非接触粉末湿膜测厚仪。本专利技术通过以下技术方案来实现上述目的：一种非接触粉末湿膜测厚仪，包括基座、红外探测装置和激光发射装置，所述基座上镶嵌式安装有所述激光发射装置，所述激光发射装置旁边设置有所述红外探测装置，所述红外探测装置通过过盈配合固定在所述基座上，所述激光发射装置旁边设置有可见光光源，所述可见光光源通过过本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种非接触粉末湿膜测厚仪，其特征在于：包括基座、红外探测装置和激光发射装置，所述基座上镶嵌式安装有所述激光发射装置，所述激光发射装置旁边设置有所述红外探测装置，所述红外探测装置通过过盈配合固定在所述基座上，所述激光发射装置旁边设置有可见光光源，所述可见光光源通过过盈配合固定在所述基座上，所述激光发射装置包括激光发射器，所述激光发射器下部外侧安装有位置调节套筒,所述激光发射器下部内侧安装有聚光透镜二，所述聚光透镜二通过凹槽固定在所述激光发射器内壁上，所述红外探测装置包括红外线探头，所述红外线探头顶部焊接有电源接线柱，所述电源接线柱穿过活动限位块和探头限位座，所述红外线探头位于所述探头限位座下...

【技术特征摘要】
1.一种非接触粉末湿膜测厚仪，其特征在于：包括基座、红外探测装置和激光发射装置，所述基座上镶嵌式安装有所述激光发射装置，所述激光发射装置旁边设置有所述红外探测装置，所述红外探测装置通过过盈配合固定在所述基座上，所述激光发射装置旁边设置有可见光光源，所述可见光光源通过过盈配合固定在所述基座上，所述激光发射装置包括激光发射器，所述激光发射器下部外侧安装有位置调节套筒,所述激光发射器下部内侧安装有聚光透镜二，所述聚光透镜二通过凹槽固定在所述激光发射器内壁上，所述红外探测装置包括红外线探头，所述红外线探头顶部焊接有电源接线柱，所述电源接线柱穿过活动限位块和探头限位座，所述红外线探头位于所述探头限位座下侧，所述探头限位座通过过盈配合安装在密封罩上，所述密封罩底部内侧通过凹槽安装有聚光透镜一，所述激光发射装置外侧设置有激光调节装置，所述激光调节装置位...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾玉灵，
申请(专利权)人：广州市盛华实业有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44