适用于卫星结构在轨变形测量的一维PSD传感器组件制造技术

本发明专利技术提供了一种适用于卫星结构在轨变形测量的一维PSD传感器组件，包括壳体以及设置在所述壳体内的PSD信号处理板，所述PSD信号处理板上设有PSD信号处理电路，所述PSD信号处理电路包括一维PSD芯片、电流采样电路、电压放大电路、输出保护电路、精密电源电路、加热电路和测温电路，所述一维PSD芯片用于感应入射激光光点位置；所述电流采样电路、精密电源电路与所述一维PSD芯片相连；所述电压放大电路与所述电流采样电路和输出保护电路相连，所述加热电路与外部供电连接；所述测温电路与外部温度采集单机连接。本发明专利技术可用于实现卫星结构在轨变形的非接触式测量；具备自身温度测量功能、低温环境自主热控功能。

【技术实现步骤摘要】
适用于卫星结构在轨变形测量的一维PSD传感器组件
本专利技术涉及航天器领域，具体地涉及一种适用于卫星结构在轨变形测量的一维PSD传感器组件。
技术介绍
由于卫星结构及其材料的复杂性，空间热环境反复交替变化严重，很可能会造成卫星结构明显的热变形，而结构变形可能对卫星上部分载荷成像和指向的精度造成严重的影响。随着航天器性能的提升，结构变形对在轨卫星主要载荷的性能指标的影响越来越被重视，结构变形测量技术的应用需求也日趋显现和重要，通过结构变形在轨监测为结构变形抑制和在轨修正提供数据支持。传统的结构变形测量大多基于光纤等接触式测量装置，体积、重量一般较大，特别是在针对长距离、大阵面的应用场合时，接触式测量装置往占用较多的整星体积、重量和热控资源，而且容易对被测量产生影响，因此研制一种轻量化、非接触式的测量装置更增加有意义。
技术实现思路
针对现有技术中的缺陷，本专利技术的目的是提供一种轻量化、低温环境自主热控的非接触式卫星结构在轨变形测量装置，特别适合于长距离、大阵面的卫星结构在轨变形测量。为解决上述技术问题，本专利技术具体通过以下技术方案实现：适用于卫星结构在轨变形测量的一维PSD传感器组件，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.适用于卫星结构在轨变形测量的一维PSD传感器组件，其特征在于：包括壳体以及设置在所述壳体内的PSD信号处理板，所述PSD信号处理板上设有PSD信号处理电路，所述PSD信号处理电路包括一维PSD芯片、电流采样电路、电压放大电路、输出保护电路、精密电源电路、加热电路和测温电路，所述一维PSD芯片用于感应入射激光光点位置；所述电流采样电路、精密电源电路与所述一维PSD芯片相连；所述电压放大电路与所述电流采样电路和输出保护电路相连，所述加热电路与外部供电连接；所述测温电路与外部温度采集单机连接。

【技术特征摘要】
1.适用于卫星结构在轨变形测量的一维PSD传感器组件，其特征在于：包括壳体以及设置在所述壳体内的PSD信号处理板，所述PSD信号处理板上设有PSD信号处理电路，所述PSD信号处理电路包括一维PSD芯片、电流采样电路、电压放大电路、输出保护电路、精密电源电路、加热电路和测温电路，所述一维PSD芯片用于感应入射激光光点位置；所述电流采样电路、精密电源电路与所述一维PSD芯片相连；所述电压放大电路与所述电流采样电路和输出保护电路相连，所述加热电路与外部供电连接；所述测温电路与外部温度采集单机连接。2.根据权利要求1所述的适用于卫星结构在轨变形测量的一维PSD传感器组件，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙延博，杨勇，方无迪，赵发刚，彭海阔，赵川，
申请(专利权)人：上海卫星工程研究所，
类型：发明
国别省市：上海,31