测试插座以及导电颗粒制造技术

本发明专利技术是有关于一种测试插座。更具体而言，所述测试插座被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间，以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫。所述测试插座包括：多个导电部，排列于与测试目标装置的端子对应的位置且在测试插座的表面方向上彼此间隔开，所述导电部中的每一者包括多个导电颗粒，所述多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在测试插座的厚度方向上对齐；以及绝缘支撑体，排列于彼此间隔开的导电部之间，以支撑所述导电部并使所述导电部在表面方向上彼此绝缘，其中导电颗粒中的每一者包括：本体，具有柱形状；以及至少两个突出部，自所述本体的上端部突出，其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部，且所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测试插座以及导电颗粒
本专利技术涉及一种测试插座以及导电颗粒，尤其涉及一种被配置成即便当测试插座频繁接触测试目标装置时仍长时间维持导电性的测试插座及导电颗粒。
技术介绍
一般而言，在测试制程期间使用测试插座以检查所制造装置是否具有缺陷或错误。举例而言，当执行电性测试以检查所制造装置(测试目标装置)是否具有缺陷或错误时，不使所述测试目标装置与测试设备直接地接触彼此而是通过测试插座间接地连接至彼此。此乃因测试设备相对昂贵且在因频繁接触测试目标装置而被磨损或损坏，进而需要被新测试设备取代时造成困难及高的成本。因此，可将测试插座可拆卸地附接至测试设备的上侧，且接着可通过使测试目标装置接触测试插座而非使测试目标装置接触测试设备来将欲测试的所述测试目标装置电性连接至所述测试设备。此后，可经由测试插座将自测试设备产生的电性信号传输至测试目标装置。此种测试插座被称作“各向异性导电连接件”，且相关技术的各向异性导电连接件被示出于图1及图2中。图1是说明相关技术的各向异性导电连接件的平面图，且图2是说明图1中所示各向异性导电连接件的剖视图。各向异性导电连接件(10)包括：弹性各向异性导电膜(15)，在弹性各向异性导电膜(15)的厚度方向上具有导电性；以及框架板(20)，包含金属材料且支撑弹性各向异性导电膜(15)。如图3中所示，在框架板(20)的长度方向及宽度方向上并排地形成有多个穿透孔(21)，所述多个穿透孔(21)具有矩形横截面形状且可在框架板(20)的厚度方向上延伸。在所示实例中，在框架板(20)的周边区中形成有用于对齐及放置各向异性导电连接件(10)的多个位置孔。在弹性各向异性导电膜(15)的表面方向上，在与电极图案对应的图案中间隔地排列有用于与所述电极进行连接的多个导电连接部(16)。详言之，在弹性各向异性导电膜(15)的长度方向及宽度方向上并排地排列有多个导电连接部群组，所述多个导电连接部群组中的每一者包括根据图案的格栅点来排列的多个导电连接部(16)。此外，在本实例中，可在自身的厚度方向上延伸的多个导电非连接部(18)，在未排列有导电连接部群组的位置彼此间隔开地排列成环绕所述导电连接部群组，导电非连接部(18)以与排列导电连接部(16)相同的节距在表面方向上进行排列。导电连接部(16)与导电非连接部(18)通过排列于导电连接部(16)与导电非连接部(18)之间的绝缘部(17)而彼此绝缘。导电连接部(16)及导电非连接部(18)中的每一者包括磁性导电颗粒，所述磁性导电颗粒在绝缘弹性聚合物的厚度方向上紧密地排列于所述绝缘弹性聚合物中，且绝缘部(17)包含所述绝缘弹性聚合物。在所示实例中，导电连接部(16)中的每一者包括分别自绝缘部(17)的两侧突出的突出部位(16A)及(16B)。另外，弹性各向异性导电膜(15)被整体地固定至框架板(20)，且被框架板(20)以使得导电连接部群组分别位于框架板(20)的穿透孔(21)中的方式支撑，且导电非连接部(18)放置于框架板(20)上。可如下制造相关技术的此种各向异性导电连接件。首先，制造如图3中所示的框架板(20)。接下来，通过将磁性导电颗粒分散至可被固化成绝缘弹性聚合物的液体聚合物成形材料中来制备可流动成形材料。另外，如图3中所示，制备用于形成弹性各向异性导电膜的模具(50)。接下来，使用间隔件(图中未示出)将框架板(20)对齐及设置于模具(50)的下部模具(56)的上表面上方，且使用间隔件(图中未示出)将模具(50)的上部模具(51)对齐及设置于框架板(20)上方。接着，将所制备成形材料填充于由上部模具(51)、下部模具(56)、所述间隔壁、及框架板(20)而形成的成形空间中，以形成成形材料层(15A)。接下来，在上部模具(51)的铁磁性基板(52)的上表面及下部模具(56)的铁磁性基板(57)的下表面上放置电磁体或永久磁体，以使得可在成形材料层(15A)的厚度方向上施加具有非均匀强度分布的平行磁场。亦即，在成形材料层(15A)的厚度方向上施加平行磁场，所述平行磁场在上部模具(51)的磁性构件(54A)与下部模具(56)的和磁性构件(54A)对应的磁性构件(59A)之间具有相对高的磁性强度。接着，如图4中所示，将分散于成形材料层(15A)中的导电颗粒(P)，聚集于上部模具(51)的磁性构件(54A)与下部模具(56)的磁性构件(59A)之间的区域中，且使导电颗粒(P)在成形材料层(15A)的厚度方向上对齐。在此种状态中，将成形材料层(15A)固化，藉此形成固定至框架板(20)的弹性各向异性导电膜(15)。弹性各向异性导电膜(15)包括：导电连接部(16)及导电非连接部(18)，包括紧密地排列于上部模具(51)的磁性构件(54A)与下部模具(56)的磁性构件(59A)之间的导电颗粒(P)；以及绝缘部(17)，不具有导电颗粒(P)或具有非常少的导电颗粒(P)，且绝缘部(17)排列于导电连接部(16)与导电非连接部(18)之间。通过此方式，制造出各向异性导电连接件(10)。此种各向异性导电连接件包括其中导电颗粒排列于弹性绝缘材料中的导电部，且所述导电部频繁接触测试目标装置的端子。如上所述，当测试目标装置的端子频繁接触导电部时，分布于弹性绝缘材料中的导电颗粒可轻易地与弹性绝缘材料分离。具体而言，由于导电颗粒具有球体形状，因此导电颗粒可更轻易地与弹性绝缘材料分离。如上所述，若将导电颗粒分离，则各向异性导电连接件的导电性可能降低，且因此可能对测试可靠性造成负面影响。在由本申请案的申请人提出申请的标题为“具有导电柱颗粒的测试插座”的韩国专利第1019721号中揭示了一种用于解决与现有技术的球体导电颗粒相关的问题的技术。如图5中所示，此种测试插座(30)包括：导电部(31)，分别包括多个导电柱颗粒(311)，所述多个导电柱颗粒(311)包含于弹性绝缘材料中；以及绝缘支撑体(32)，支撑导电部(31)。由于导电柱颗粒(311)分布于测试插座(30)的导电部(31)中，因此邻近的导电柱颗粒(311)之间的接触面积可为相对大的，且因此测试插座(30)的电阻可减小，藉此提供稳定的电性连接。另外，由于相较于现有技术的球体导电颗粒而言导电柱颗粒(311)与弹性绝缘材料具有相对大的接触面积，因此导电柱颗粒(311)与弹性绝缘材料之间的黏合是强的，且因此即便当重复执行测试时，导电柱颗粒(311)仍可能无法轻易地与弹性绝缘材料分离。尽管导电柱颗粒(311)提供相较于球体导电颗粒而言提高的导电性，然而若紧密地排列于导电部(31)中的导电柱颗粒(311)不如图6(a)中所示垂直地对齐，则导电柱颗粒(311)可能如图6(b)中所示因压缩力而被压缩成非对齐状态。在此情形中，导电柱颗粒(311)之间的接触点可能无法得到维持，且导电柱颗粒(311)甚至当压缩力被释放时仍可能无法返回至其原始位置。
技术实现思路
技术问题提供本专利技术是为了解决上述问题。更具体而言，本专利技术的目标是提供一种被配置成防止导电颗粒与导电部在频繁接触期间分离，以在导电部被压缩及扩张的同时保证导电颗粒之间的牢固电性连接的测试插座，以及提供一种导电颗粒。技术解决方案为达成上述目标，本专利技术的实施例提供一种测试插座，所述测试插座被配置成放置于测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试插座，被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间，以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫，所述测试插座包括：多个导电部，排列于与所述测试目标装置的所述端子对应的位置且在所述测试插座的表面方向上彼此间隔开，所述导电部中的每一者包括多个导电颗粒，所述多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在所述测试插座的厚度方向上对齐；以及绝缘支撑体，排列于彼此间隔开的所述导电部之间，以支撑所述导电部并使所述导电部在所述表面方向上彼此绝缘，其中所述导电颗粒中的每一者包括：本体，具有柱形状；以及至少两个突出部，自所述本体的上端部突出，其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部，且所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.05.11 KR 10-2016-00578231.一种测试插座，被配置成放置于测试目标装置与测试设备之间，以将所述测试目标装置的端子电性连接至所述测试设备的接垫，所述测试插座包括：多个导电部，排列于与所述测试目标装置的所述端子对应的位置且在所述测试插座的表面方向上彼此间隔开，所述导电部中的每一者包括多个导电颗粒，所述多个导电颗粒包含于弹性绝缘材料中且在所述测试插座的厚度方向上对齐；以及绝缘支撑体，排列于彼此间隔开的所述导电部之间，以支撑所述导电部并使所述导电部在所述表面方向上彼此绝缘，其中所述导电颗粒中的每一者包括：本体，具有柱形状；以及至少两个突出部，自所述本体的上端部突出，其中在彼此相邻的所述突出部之间设置有朝所述本体凹陷的凹陷部，且所述突出部的相互面对的内表面之间的角度是大于90°的钝角。2.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述本体的形状及大小使得当利用磁场将所述导电颗粒在所述弹性绝缘材料中对齐时，所述导电颗粒站立于所述厚度方向上。3.根据权利要求2所述的测试插座，其中所述本体中的每一者的h/w大于1，其中h是指自所述本体的所述上端部至下端部量测的垂直长度，且w是指与所述垂直长度垂直的所述本体的水平长度。4.根据权利要求3所述的测试插座，其中所述本体中的每一者的w/d大于1，其中d是指所述本体的厚度。5.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述突出部的所述相互面对的内表面被倾斜成将相邻的导电颗粒的突出部引导至所述凹陷部中。6.根据权利要求1所述的测试插座，其中在所述本体的所...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑永倍，
申请(专利权)人：株式会社ISC，
类型：发明
国别省市：韩国,KR