实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路制造技术

本实用新型专利技术涉及实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路，为完成基于几何相位理论提出了同时测量任意光束的偏振态和相位的方法，本光路包括消偏振分光棱镜和偏振分束系统；参考光束和被测量光束分别从消偏振分光棱镜的两个正交方向输入，消偏振分光棱镜的射出光路上设有偏振分束系统，偏振分束系统的输出得到两幅干涉图。在得到的两幅干涉图基础上，实施同时测量任意光束的偏振态和相位的方法时，只需一次同时采集两幅干涉图，通过对干涉图进行全息数值重建，提取其中的相位、振幅信息，即可计算出被测量光束的偏振和相位分布。本实用新型专利技术不仅可用于测量任意光束的偏振态和相位分布，也可用于检测偏振光学元件。

【技术实现步骤摘要】
实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路
本专利技术属于光电
，涉及一种实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路。
技术介绍
偏振态是光场的一个重要特征，在基础科学研究和工程应用中扮演着重要的角色。传统光束的偏振态为空间均匀分布，常称为标量光束。当对光束进行空间偏振调制后，会产生空间非均匀偏振的光束——矢量光束。最典型的矢量光束是偏振态在空间坐标体系中呈现轴对称分布的柱矢量光束，经高数值孔径透镜聚焦后可以获得特殊的焦场分布，如径向矢量光束可产生超衍射极限的焦斑，进一步经光学元件调制后会产生诸多奇异的结构焦场，如光针、光笼、光链等。矢量光束独特的紧聚焦特性和偏振特性，使其在超精细加工、等离子体聚焦、超分辨成像等方面具有广阔的应用前景。斯托克斯(Stokes)参量可全面描述光场偏振态。目前最常用的测量方法为利用一个四分之一波片和一个偏振片组合，记录不同角度对应的强度图后数值分析可得到相应的斯托克斯参量。这种测量方法在测量过程中需旋转四分之一波片和偏振片依次记录不同角度的强度分布，因此测量过程复杂、缓慢。而且波片的非均匀透过率也会造成一定系统误差。此外，利用这些方法测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路，其特征在于包括消偏振分光棱镜(1)和偏振分束系统(2)；参考光束和被测量光束分别从消偏振分光棱镜(1)的两个正交方向输入，消偏振分光棱镜(1)的射出光路上设有偏振分束系统(2)，偏振分束系统(2)的输出得到两幅干涉图。

【技术特征摘要】
1.一种实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路，其特征在于包括消偏振分光棱镜(1)和偏振分束系统(2)；参考光束和被测量光束分别从消偏振分光棱镜(1)的两个正交方向输入，消偏振分光棱镜(1)的射出光路上设有偏振分束系统(2)，偏振分束系统(2)的输出得到两幅干涉图。2.根据权利要求1所述实现测量任意光束的偏振态和相位的两幅干涉图的光路，其特征在于：将消偏振分光棱镜(1)与偏振分束系统(2)前后顺序互换，被测量光束输入偏振分束系统(2)，偏振分束系统(2)的输出光路上设有消偏振分光棱镜(1)，偏振分束系统(2)输出得到两束干涉光和参考光束分别从消偏振分光棱镜(1)的两个正交方向输入，消偏振分光棱镜(1)的输出得到两幅干涉图。3.根据权利要求1或2所述的光路，其特征在于：所述偏振分束系统(2)采用三角干涉仪。4.根据权利要求1或2所述的光路，其特征在于：所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘圣，齐淑霞，韩磊，李鹏，章毅，赵建林，
申请(专利权)人：西北工业大学，
类型：新型
国别省市：陕西,61