一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统技术方案

一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统，包括上位机和测试板；上位机负责测试结果显示及存储；测试板包括信号发生模块、信号调理模块、时钟产生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元；测试板负责产生微系统ADC单元输入信号和采样时钟，并完成ADC单元输出数据采集、存储及处理，最终得到微系统ADC单元主要动态性能参数。本发明专利技术充分利用微系统内部集成的FPGA单元高速数据处理能力，通过微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，减少额外数据传输的开销以及信号间的干扰，系统可以对数模混合微系统ADC单元动态参数进行可靠准确的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统
本专利技术涉及集成电路测试领域，特别是一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统。
技术介绍
随着武器装备、空间系统和飞行器的小型化、低功耗和高可靠的需求日益强烈，采用分立电路单独封装，再进行板级互连的架构，无法满足新一代航天系统小体积、高精度、高密度、高可靠性的需求。集成ADC、DAC以及FPGA等功能的数模混合微系统已成为该领域发展趋势。随着封装集成密度的提高，微系统内部节点可访问性下降，如何实现微系统集成后高覆盖率的内部芯片的测试成为一个难题。ADC单元是数模混合微系统中的重要模块，作为模拟技术和数字技术的接口，ADC单元的性能直接决定了微系统性能的好坏，因此，对数模混合微系统中ADC性能的测试尤为重要。现有的专利主要有：(1)一种基于SoPC的高性能流水线ADC频域参数评估系统，申请号：201610225902.4，公布号：CN105808405A，该专利中ADC采集的数据需通过串口上传至上位机分析处理，数据传输量大且实时处理能力较差；(2)ADC芯片特性参数测试精度的测试系统，申请号：201510107533.4，公布号：CN本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统，其特征在于包括包括：上位机和测试板，其中：上位机负责对测试结果进行显示和存储；测试板包括信号发生模块、信号调理模块、时钟产生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元；信号调理模块与信号发生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元相连；时钟产生模块与微系统ADC单元以及微系统FPGA单元相连；微系统FPGA单元通过通信接口与上位机相连；信号发生模块使用晶体振荡器产生一个单音正弦波信号；信号调理模块对信号发生模块产生的信号进行滤波处理，产生ADC单元输入信号；时钟产生模块由锁相环PLL电路产生，为ADC单元及FPGA单元提供时钟；微系统AD...

【技术特征摘要】
1.一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统，其特征在于包括包括：上位机和测试板，其中：上位机负责对测试结果进行显示和存储；测试板包括信号发生模块、信号调理模块、时钟产生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元；信号调理模块与信号发生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元相连；时钟产生模块与微系统ADC单元以及微系统FPGA单元相连；微系统FPGA单元通过通信接口与上位机相连；信号发生模块使用晶体振荡器产生一个单音正弦波信号；信号调理模块对信号发生模块产生的信号进行滤波处理，产生ADC单元输入信号；时钟产生模块由锁相环PLL电路产生，为ADC单元及FPGA单元提供时钟；微系统ADC单元采集由信号发生模块产生并由信号调理模块处理的输入信号，将输入的模拟信号转换为数字信号；微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，得出微系统ADC单元的动态性能参数，将测试结果通过USB通信接口上传至上位机进行显示及存...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱志强，冯长磊，李学武，陈雷，王媛媛，李金潮，
申请(专利权)人：北京时代民芯科技有限公司，北京微电子技术研究所，
类型：发明
国别省市：北京,11