自动加工一次测量回退系统和机床技术方案

一种自动加工一次测量回退系统包括：用于承载待加工工件的工作台；用于在第一精度范围内确定待加工工件位置的一级定位装置；用于在高于所述第一精度范围的第二精度范围内确定待加工工件位置的二级定位装置；用于监测二级定位装置与待加工工件之间弹力的监测装置；根据反馈的待加工工件位置，加工所述待加工工件的加工工具，监测装置监测二级定位装置与待加工工件之间弹力，从而，可以获得根据弹性的变化确定待加工工件的界限，从而提高自动加工一次测量回退系统的工作效率。

Automatic processing primary measurement backoff system and machine tool

An automatic one-time measurement and return system includes a worktable for carrying the workpiece to be processed, a first-level positioning device for determining the position of the workpiece to be processed within the first precision range, a second-level positioning device for determining the position of the workpiece to be processed within the second precision range higher than the first precision range, and a monitoring device. A monitoring device for measuring the elastic force between the secondary positioning device and the workpiece to be processed; a processing tool for the workpiece to be processed according to the feedback of the position of the workpiece to be processed; and a monitoring device for monitoring the elastic force between the secondary positioning device and the workpiece to be processed. Thus, the boundary of the workpiece to be processed can be determined according to the elastic change. So as to improve the efficiency of automatic processing of the first measurement backoff system.

【技术实现步骤摘要】
自动加工一次测量回退系统和机床
本专利技术涉及制造领域，特别是涉及一种自动加工一次测量回退系统和机床。
技术介绍
在进行自动加工时，待加工工件置于工作台，然后，开始进行加工。然而，当待加工工件放置的位置与预设位置偏差较大时，则必须重新进行装夹。在实现现有技术的过程中专利技术人发现存在如下问题：待加工工件多次装夹影响自动加工效率，特别是，待加工工件体积较大、质量较大时，待加工工件的多次装夹费时耗力。因此，需要提供一种自动加工系统的工作效率较高的技术方案。
技术实现思路
基于此，有必要提供一种自动加工系统的工作效率较高的技术方案。一种自动加工系统，包括：用于承载待加工工件的工作台；用于在第一精度范围内确定待加工工件位置的一级定位装置；用于在高于所述第一精度范围的第二精度范围内确定待加工工件位置的二级定位装置；用于监测二级定位装置与待加工工件之间弹力的监测装置；根据反馈的待加工工件位置，加工所述待加工工件的加工工具。在其中一个实施例中，所述一级定位装置为光学定位装置。在其中一个实施例中，所述光学定位装置为双目摄像头。在其中一个实施例中，所述二级定位装置为接触定位装置。在其中一个实施例中，所述接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动加工一次测量回退系统，其特征在于，包括：用于承载待加工工件的工作台；用于在第一精度范围内确定待加工工件位置的一级定位装置；用于在高于所述第一精度范围的第二精度范围内确定待加工工件位置的二级定位装置；用于监测二级定位装置与待加工工件之间弹力的监测装置；根据反馈的待加工工件位置，加工所述待加工工件的加工工具。

【技术特征摘要】
1.一种自动加工一次测量回退系统，其特征在于，包括：用于承载待加工工件的工作台；用于在第一精度范围内确定待加工工件位置的一级定位装置；用于在高于所述第一精度范围的第二精度范围内确定待加工工件位置的二级定位装置；用于监测二级定位装置与待加工工件之间弹力的监测装置；根据反馈的待加工工件位置，加工所述待加工工件的加工工具。2.根据权利要求1所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述一级定位装置为光学定位装置。3.根据权利要求2所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述光学定位装置为双目摄像头。4.根据权利要求1所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述二级定位装置为接触定位装置。5.根据权利要求4所述的自动加工一次测量回退系统，其特征在于，所述接触定位装置为机械测...

【专利技术属性】
技术研发人员：史昱皓，刘进明，董伟吉，
申请(专利权)人：赫克测控技术苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32