用于背光模组通电测试的装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于背光模组通电测试的装置，所述用于背光模组通电测试的装置包括：底座，所述底座用于承载所述背光模组；第一定位件，所述第一定位件用于对所述背光模组进行定位，所述第一定位件可滑动地设于所述底座上；以及通电测试模块，所述通电测试模块可滑动地设于所述底座上，所述通电测试模块包括电极以及第二定位件，所述第二定位件用于定位测试电极。由此，用于背光模组通电测试的装置可以适用于多种尺寸的背光模组，通过第一定位件可以对背光模组的位置定位，而且可以通过调节通电测试模块的位置以将其与背光模组连接，从而便于实验人员对背光模组检测，装置的通用性较高，而且便于操作。

Device for electrifying test of backlight module

The invention discloses a device for testing the power supply of a backlight module. The device for testing the power supply of a backlight module includes a base for carrying the backlight module, a first positioning element for positioning the backlight module, and a first positioning element for sliding on the backlight module. The electrification test module includes an electrode and a second positioning device, which is used to locate the test electrode. Therefore, the device used for backlight module power-on test can be applied to various sizes of backlight module. The position of backlight module can be positioned by the first positioner, and it can be connected to the backlight module by adjusting the position of the power-on test module, thus facilitating the testing of backlight module for experimenters and the device's power-on. It has high usability and is easy to operate.

【技术实现步骤摘要】
用于背光模组通电测试的装置
本专利技术涉及背光测试
，具体而言，涉及一种背光源亮度测试装置。
技术介绍
相关技术中，对背光模组的检测多采用为其尺寸专门设计的安装装置进行定位安装。这样，装置在长时间的使用下，安装装置将会被磨损而导致无法使用，而且同一个安装装置只能安装一种尺寸的背光模组，在使用时具有较大的局限性。当需要对两个背光模组进行比较时，两个背光模组的安装位置相距较远，不利于试验人员比对。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出一种用于背光模组通电测试的装置，所述用于背光模组通电测试的装置的通用性好且定位精度高。根据本专利技术的用于背光模组通电测试的装置，包括：底座，所述底座用于承载所述背光模组；第一定位件，所述第一定位件用于对所述背光模组进行定位，所述第一定位件可滑动地设于所述底座上；以及通电测试模块，所述通电测试模块可滑动地设于所述底座上，所述通电测试模块包括电极以及第二定位件，所述第二定位件用于定位通电测试模块。根据本专利技术实施例的用于背光模组通电测试的装置，可以适用于多种尺寸的背光模组，通过第一定位件可以对背光模组的位置定位，而且可以通过调节通电测试模块的位置以将其与背光模组连接，从而便于实验人员对背光模组检测，装置的通用性较高，而且便于操作。根据本专利技术的一些实施例，所述电极包括：第一阳极、第二阳极以及阴极，所述第一阳极和所述阴极在纵向并列设置，所述第二阳极在横向上位于所述第一阳极和所述阴极的同一侧，所述第一阳极和所述阴极通过第一接口连接，所述第二阳极和所述阴极通过第二接口连接。根据本专利技术的一些实施例，所述通电测试模块还包括主板体，所述主板体可滑动地设于所述底座上，所述电极邻近所述主板体的第一边沿设置，所述第一接口和所述第二接口分别位于所述主板体的第一边沿和第二边沿的外侧，其中所述第一边沿和所述第二边沿彼此相邻。根据本专利技术的一些实施例，所述第二定位件包括：在所述主板体的第三边沿与所述主板体铰接的压盖、连接在所述主板体上的磁吸件，所述磁吸件适于在所述压盖关闭时与所述压盖磁性相吸。根据本专利技术的一些实施例，所述磁吸件为磁铁，所述压盖为能够被磁铁吸附的金属件，所述磁吸件嵌设在所述主板体的下方，所述电极嵌设到所述主板体上。根据本专利技术的一些实施例，所述底座的上端具有定位挡墙、第一横滑槽和纵滑槽，所述定位挡墙位于所述第一横滑槽和所述纵滑槽整体外，所述第一定位件的个数为多个，所述第一横滑槽和所述纵滑槽内均至少设有一个第一定位件，部分所述定位挡墙、位于所述第一横滑槽内的第一定位件、位于所述纵滑槽内的第一定位件共同限定出用于定位所述背光模组的容纳空间。根据本专利技术的一些实施例，底座还包括第二横滑槽，所述定位挡墙大体为U形，所述第二横滑槽与所述定位挡墙共同构成矩形，每个所述第一横滑槽均平行于所述第二横滑槽设置且延伸至与所述定位挡墙相交，每个纵滑槽的一端延伸至与所述定位挡墙相交且另一端延伸至与所述第二横滑槽相交。根据本专利技术的一些实施例，所述第一横滑槽、所述纵滑槽的截面为倒T形或十字形，所述第一定位件包括位于所述底座上方的定位挡块、位于相应滑槽内的第一导向块、连接所述定位挡块和所述第一导向块的第一定位销，所述定位挡块通过所述第一导向块可滑动地设于所述底座上。根据本专利技术的一些实施例，所述通电测试模块还包括主板体、第二定位销以及第二导向块，所述主板体与所述第二导向块通过所述第二定位销连接，所述第二导向块可滑动地设于所述第二横滑槽内，所述第二横滑槽的截面为倒T形或十字形。根据本专利技术的一些实施例，还包括横向刻度尺和纵向刻度尺，所述横向刻度尺和所述纵向刻度均嵌设在所述底座的顶部。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是根据本专利技术实施例的用于背光模组通电测试的装置的俯视图；图2是根据本专利技术实施例的用于背光模组通电测试的装置的剖面图；图3是根据本专利技术实施例的用于背光模组通电测试的装置的另一个角度的剖面图；图4是图3中A处的局部放大图；图5是根据本专利技术实施例的通电测试模块的俯视图，其中压盖打开；图6是根据本专利技术实施例的通电测试模块的俯视图，其中电极与金手指相连；图7是根据本专利技术实施例的通电测试模块的俯视图，其中电极与另一种形状的金手指相连；图8是根据本专利技术实施例的通电测试模块的俯视图，其中压盖与主板体配合。附图标记：装置100、底座1、定位挡墙11、第一横滑槽12、纵滑槽13、第二横滑槽14、第一定位件2、定位挡块21、第一导向块22、第一定位销23、通电测试模块3、电极31、第一阳极311、第二阳极312、阴极313、第一接口314、第二接口315、第二定位件32、第三边沿321、压盖322、磁吸件323、主板体33、第一边沿331、第二边沿332、第二定位销34、第二导向块35、横向刻度尺4、纵向刻度尺5、金手指6。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的单元或具有相同或类似功能的单元。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。下面参考图1至图8描述根据本专利技术实施例的用于背光模组通电测试的装置100。根据本专利技术实施例的用于背光模组通电测试的装置100包括：底座1、第一定位件2和通电测试模块3。底座1用于承载背光模组，第一定位件2用于对背光模组(图中未示出)进行定位，第一定位件2可滑动地设于底座1上，通电测试模块3可滑动地设于底座1上，通电测试模块3包括电极31以及第二定位件32，第二定位件32用于定位通电测试模块3。如图1和图2所示，在本专利技术的实施例中，背光模组的一端可以止抵在第一定位件2上，从而第一定位件2对背光模组的位置进行限制以便于对背光模组的位置定位。通电测试模块3可以通过电极31与背光模组相连，从而使得背光模组通电，背光模组发光以便于试验人员对背光模组进行检测。可以理解的是，通过调节第一定位件2可以实现对背光模组位置的调节和定位，这样的设置使得用于背光模组通电测试的装置100可以适用于多种尺寸不同的背光模组，而且滑动的调节方式可以使得背光模组的位置调节更加精确。其中，通电测试模块3可以根据背光模块的位置对应地调节，以便于通电测试模块3与背光模组相连，而且第二定位件32可以对通电测试模块3的位置定位以便于通电测试模块3与背光模组相连。根据本专利技术实施例的用于背光模组通电测试的装置100，可以适用于多种尺寸的背光模组，通过第一定位可以件对背光模组的位置定位，而且可以通过调节通电测试模块3的位置以将其与背光模组连接，从而便于实验人员对背光模组检测，装置100的通用性较高，而且便于操作。如图5所示，在本专利技术的是实施例中，电极31包括第一阳极311、第二阳极312以及阴极313，第一阳极311和阴极313在纵向并列设置，第二阳极312在横向上位于第一阳极311和阴极313的同一侧，第一阳极311和阴极313通过第一接口314连接，第二阳极312和阴极313通过第二接口315连接。这样的设置可以在通电测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于背光模组通电测试的装置，其特征在于，包括：底座，所述底座用于承载所述背光模组；第一定位件，所述第一定位件用于对所述背光模组进行定位，所述第一定位件可滑动地设于所述底座上；以及通电测试模块，所述通电测试模块可滑动地设于所述底座上，所述通电测试模块包括电极以及第二定位件，所述第二定位件用于定位通电测试模块。

【技术特征摘要】
1.一种用于背光模组通电测试的装置，其特征在于，包括：底座，所述底座用于承载所述背光模组；第一定位件，所述第一定位件用于对所述背光模组进行定位，所述第一定位件可滑动地设于所述底座上；以及通电测试模块，所述通电测试模块可滑动地设于所述底座上，所述通电测试模块包括电极以及第二定位件，所述第二定位件用于定位通电测试模块。2.根据权利要求1所述的用于背光模组通电测试的装置，其特征在于，所述电极包括：第一阳极、第二阳极以及阴极，所述第一阳极和所述阴极在纵向并列设置，所述第二阳极在横向上位于所述第一阳极和所述阴极的同一侧，所述第一阳极和所述阴极通过第一接口连接，所述第二阳极和所述阴极通过第二接口连接。3.根据权利要求2所述的用于背光模组通电测试的装置，其特征在于，所述通电测试模块还包括主板体，所述主板体可滑动地设于所述底座上，所述电极邻近所述主板体的第一边沿设置，所述第一接口和所述第二接口分别位于所述主板体的第一边沿和第二边沿的外侧，其中所述第一边沿和所述第二边沿彼此相邻。4.根据权利要求3所述的用于背光模组通电测试的装置，其特征在于，所述第二定位件包括：在所述主板体的第三边沿与所述主板体铰接的压盖、连接在所述主板体上的磁吸件，所述磁吸件适于在所述压盖关闭时与所述压盖磁性相吸。5.根据权利要求4所述的用于背光模组通电测试的装置，其特征在于，所述磁吸件为磁铁，所述压盖为能够被磁铁吸附的金属件，所述磁吸件嵌设在所述主板体的下方，所述电极嵌设到所述主板体上。6.根据权利要求1-5中任一项所述的用于背光模组通...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴春生，刘军，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方显示光源有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11