一种显示基板、测试电路和测试方法技术

本发明专利技术提供一种显示基板、测试电路和测试方法，其中测试方法包括：将调节电路的第一节点与第一信号提供单元的输出端连接；将N组待测元件的输出端所连接的第二节点与所述第一信号提供单元的输入端连接；开启所述第一信号提供单元，获取所述N组待测元件的总电源特性取值；根据所述总电源特性取值和所述N组待测元件所包含的待测元件的总数，计算平均电源特性取值，所述平均电源特性取值即为所述N组待测元件中的每个待测元件的电源特性取值。这样，针对N组待测元件同时测量，可以有效分担测量误差，且增设的调节电路能够对测试电路进行平衡和补偿调节，即可有效提高待测元件的电源特性的测量精度。

A display substrate, a test circuit and a test method

The invention provides a display substrate, a test circuit and a test method, in which the test method includes: connecting the first node of the regulating circuit to the output end of the first signal providing unit; connecting the second node of the output end of the N group of components to be tested with the input end of the first signal providing unit; and opening the first one. The signal providing unit obtains the total power supply characteristic value of the N-group elements to be tested, calculates the average power supply characteristic value according to the total power supply characteristic value and the total number of elements to be tested contained in the N-group elements to be measured, and the average power supply characteristic value is the power supply characteristic value of each element to be measured in the N-group elements to be measured. The value of sex. In this way, the measurement errors can be shared effectively for N groups of components to be measured at the same time, and the additional adjustment circuit can balance and compensate the test circuit, which can effectively improve the measurement accuracy of the power characteristics of the components to be measured.

【技术实现步骤摘要】
一种显示基板、测试电路和测试方法
本专利技术涉及测试
，特别涉及一种显示基板、测试电路和测试方法。
技术介绍
随着显示技术的发展，显示器件的体积也越来越小。在需要对显示器件的显示基板上所包含的元件进行电源特性测试时，由于待测元件的体积较小，测量的单个待测元件的电源特性取值也较小。这样，就会导致待测元件的电源特性测试的误差较大，电源特性的测试准确性较低。可见，现有针对待测元件的电源特性测试方案存在测试准确性较低的技术问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种显示基板、测试电路和测试方法，以解决现有针对待测元件的电源特性测试方案存在测试准确性较低的技术问题。为了达到上述目的，本专利技术实施例提供的具体方案如下：第一方面，本专利技术实施例提供了一种显示基板，包括：衬底基板；位于所述衬底基板的测试区的N组待测元件，N组待测元件间隔设置于所述衬底基板上，每个待测元件均包括输入端和输出端，其中，N为大于1的正整数；位于所述衬底基板的测试区的调节电路，所述调节电路包括第一节点、第二节点和N个支路，所述N个支路并联，每个支路的输入端均连接到所述第一节点，每个支路的输出端连接到对应待测元件的输入本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示基板，其特征在于，包括：衬底基板；位于所述衬底基板的测试区的N组待测元件，N组待测元件间隔设置于所述衬底基板上，每个待测元件均包括输入端和输出端，其中，N为大于1的正整数；位于所述衬底基板的测试区的调节电路，所述调节电路包括第一节点、第二节点和N个支路，所述N个支路并联，每个支路的输入端均连接到所述第一节点，每个支路的输出端连接到对应待测元件的输入端，每个待测元件的输出端均连接到所述第二节点。

【技术特征摘要】
1.一种显示基板，其特征在于，包括：衬底基板；位于所述衬底基板的测试区的N组待测元件，N组待测元件间隔设置于所述衬底基板上，每个待测元件均包括输入端和输出端，其中，N为大于1的正整数；位于所述衬底基板的测试区的调节电路，所述调节电路包括第一节点、第二节点和N个支路，所述N个支路并联，每个支路的输入端均连接到所述第一节点，每个支路的输出端连接到对应待测元件的输入端，每个待测元件的输出端均连接到所述第二节点。2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述待测元件为薄膜晶体管，所述薄膜晶体管包括栅极、漏极和源极，所述调节电路还包括第三节点；每个支路的输出端连接到一组待测元件的栅极，每个待测元件的漏极均连接到所述第二节点，每个待测元件的源极均连接到所述第三节点。3.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，所述N组待测元件的源极按照第一顺序，依次连接到所述第三节点；所述N组待测元件的漏极按照所述第一顺序的逆序，依次连接到所述第二节点。4.根据权利要求1至3中任一项所述的显示基板，其特征在于，每个支路包括一条导线。5.一种测试电路，其特征在于，用于对权利要求1至4中任一项所述的显示基板进行测试，所述测试电路包括：第一信号提供单元，所述第一信号提供单元的输出端用于与所述显示基板的第一节点连接，所述第一信号提供单元的输入端用于与所述显示基板的第二节点连接。6.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：第二信号提供单元，所述第二信号提供单元的输出端用于与所述显示基板的第三节点连接，所述第二信号提供单元的输入端用于与所述显示基板的第二节点连接。7.根据权利要求6所述的测试电路，其特征在于，所述第一信号提供单元和所述第二信号提供单元均为供电电源；在对所述显示基板进行测试时，所述第二信号提供单元的正极与所述显示基板的第三节点连接，所述第二信号提供单元的负极与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘振定，李彦生，闫小宝，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，绵阳京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11