一种用于线束的TDR测试装置制造方法及图纸

技术编号:19283552 阅读:48 留言:0更新日期:2018-10-30 23:35
本实用新型专利技术公开了一种用于线束的TDR测试装置,测试平台上装配有TDR测试仪,TDR测试仪连接有正极测试线和负极测试线,正极测试线和负极测试线均连接有测试接头,测试平台上还装配有静电屏蔽箱,静电屏蔽箱内装配有线束夹持机构,线束夹持机构包括下夹持部,下夹持部顶部开设有第一凹槽,下夹持部通过第一转轴与上夹持部铰接,上夹持部底部开设有第二凹槽,第一凹槽与第二凹槽形成用于夹持线束的夹口,上夹持部底部还开设有拉簧槽,拉簧槽内设有拉簧,本实用新型专利技术解决了测试平台附近的人员及待测试线束的移动产生大量的静电,静电对测试结果产生影响,导致测试结果不准确的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于线束的TDR测试装置
本技术涉及教学教具
,具体为一种用于线束的TDR测试装置。
技术介绍
TDR(Time-DomainReflectometry),即时域反射技术,该技术包括产生沿传输线传播的时间阶跃电压,用示波器检测来自阻抗的反射,测量输入电压与反射电压比,从而计算不连续的阻抗。其工作原理为信号在某一传输路径传送,当传输路径中发生阻抗变化时,一部分信号会被反射,另一部分信号会继续延传输路径传输,TDR时通过测量发射波的电压幅度,从而计算出阻抗的变化,同时只要测量出反射点到发射点的时间值,就可计算出传输路径中阻抗变化点的位置。在进行测试时,测试平台附近的人员及待测试线束的移动都会产生大量的静电,静电会对测试结果产生影响,导致测试结果不准确。现有的TDR测试装置通常采用测试电路中设置静电保护电路,静电保护电路可以有效的减少高压静电的出现,但仍会产于部分静电电荷,而此类无法完全释放的电荷有很容易累积,从而产生EOS过劳损坏的情况,重复多次的低电压EOS输入TDR采样模块会损坏TDR采样模块,因此急需找到一种可屏蔽静电或防止静电产生的用于线束的TDR测试装置。
技术实现思路
针对本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种用于线束的TDR测试装置,其特征在于:包括测试平台,所述测试平台上固定装配有TDR测试仪,所述TDR测试仪固定连接有正极测试线和负极测试线,所述正极测试线和负极测试线均固定连接有测试接头,所述测试平台上还固定装配有静电屏蔽箱,所述静电屏蔽箱内固定装配有线束夹持机构;所述线束夹持机构包括下夹持部,所述下夹持部顶部开设有第一凹槽,所述下夹持部固定装配有第一铰接座,所述第一铰接座转动装配有第一转轴,所述第一转轴转动装配有第二铰接座,所述第二铰接座固定装配有上夹持部,所述上夹持部底部开设有与第一凹槽相配合的第二凹槽,第一凹槽与第二凹槽形成用于夹持线束的夹口,所述上夹持部底部还开设有拉簧槽,所述...

【技术特征摘要】
1.一种用于线束的TDR测试装置,其特征在于:包括测试平台,所述测试平台上固定装配有TDR测试仪,所述TDR测试仪固定连接有正极测试线和负极测试线,所述正极测试线和负极测试线均固定连接有测试接头,所述测试平台上还固定装配有静电屏蔽箱,所述静电屏蔽箱内固定装配有线束夹持机构;所述线束夹持机构包括下夹持部,所述下夹持部顶部开设有第一凹槽,所述下夹持部固定装配有第一铰接座,所述第一铰接座转动装配有第一转轴,所述第一转轴转动装配有第二铰接座,所述第二铰接座固定装配有上夹持部,所述上夹持部底部开设有与第一凹槽相配合的第二凹槽,第一凹槽与第二凹槽形成用于夹持线束的夹口,所述上夹持部底部还开设有拉簧槽,所述拉簧槽内设有拉簧,所述拉簧一端与拉簧槽底部固定连接,所述拉簧另一端与下夹持部顶部固定连接。2.根据权利要求1所述的一种用于线束的TDR测试装置,其特征在于:所述静电屏蔽箱包括箱体、箱盖,所述箱体固定装配有第三铰接座,所述第三铰接座转动...

【专利技术属性】
技术研发人员:马龙
申请(专利权)人:郯城鸿锐电子有限公司
类型:新型
国别省市:山东,37

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