检测装置及半导体检测仪制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种检测装置及半导体检测仪，属于探针式连接器技术领域。本实用新型专利技术的检测装置包括：主体结构，其内部为中空腔体；探针，插设于主体结构的一端；绝缘组件，设置在主体结构的中空腔体内，且靠近探针的一端，并与探针相接触；电压生成单元，设置在主体结构的中空腔体内，位于绝缘组件远离探针的一侧；报警单元，其与电压生成单元电连接；绝缘组件能够在探针受到压力时，沿主体结构的中空腔体的长度方向运动，并将探针所受到的压力传导至电压生成单元，以使电压生成单元生成相应的电压，驱动报警单元进行报警。

Detection device and semiconductor detector

The utility model provides a detection device and a semiconductor detector, belonging to the technical field of a probe connector. The detection device of the utility model comprises a main structure with a hollow cavity inside; a probe inserted at one end of the main structure; an insulating component arranged in the hollow cavity of the main structure, and close to one end of the probe, and in contact with the probe; a voltage generating unit arranged in the hollow cavity of the main structure, and a position. At the side of the insulating component away from the probe, the alarm unit is electrically connected with the voltage generating unit, and the insulating component can move along the length direction of the hollow cavity of the main structure when the probe is under pressure, and the pressure on the probe is transmitted to the voltage generating unit so that the voltage generating unit generates the corresponding voltage. The alarm unit is driven to alarm.

【技术实现步骤摘要】
检测装置及半导体检测仪
本技术属于探针式连接器
，具体涉及一种检测装置及半导体检测仪。
技术介绍
目前，操作者在使用半导体检测仪中的探针对半导体的测试区进行测试时，其往往是通过肉眼观察，来判断探针与待测试区域的距离，以将探针插入到半导体的测试区域内。然而，对于经验不够丰富的操作者而言，将探针插入到半导体的测试区域的力度与观察度是很难掌控的，若其在插入探针的时候，观察不够仔细，或者插入探针的力度过大，很容易使探针与半导体的测试区域发生碰撞，使得探针发生弯曲变形，从而损坏探针；同时，由于探针与测试区域接触的表面很尖锐，在探针碰撞待进行测试的测试区域时，尖锐的探针很可能会划伤该测试区域，进而损坏半导体。
技术实现思路
本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种能够避免半导体的测试区域被探针划伤的检测装置。解决本技术技术问题所采用的技术方案是一种检测装置，包括：主体结构，其内部为中空腔体；探针，插设于所述主体结构的一端；绝缘组件，设置在所述主体结构的中空腔体内，且靠近所述探针的一端，并与所述探针相接触；电压生成单元，设置在所述主体结构的中空腔体内，位于所述绝缘组件远离所述探针的一侧；报警单元，其与所述电压生成单元电连接；所述绝缘组件能够在所述探针受到压力时，沿所述主体结构的中空腔体的长度方向运动，并将所述探针所受到的压力传导至所述电压生成单元，以使所述电压生成单元生成相应的电压，驱动所述报警单元进行报警。优选的是，所述检测装置还包括：伸缩组件，所述伸缩组件的一端连接所述绝缘组件，其另一端连接所述电压生成单元。优选的是，所述伸缩组件包括：弹簧。优选的是，所述检测装置还包括：中空结构的套筒，其设置在所述主体结构的中空腔体内，且所述套筒的外壁与所述主体结构的内壁相贴合；所述套筒的外壁为绝缘层，其内壁为导电层；其中，所述电压生成单元固定于所述套筒的中空结构内，且通过所述套筒的内壁与所述报警单元电连接。优选的是，所述检测装置还包括：固定部件，所述固定部件将所述电压生成单元与所述套筒连接。优选的是，所述套筒的总长度小于所述主体结构的总长度；所述绝缘组件沿所述主体结构长度方向的截面为凸形，所述绝缘组件的凸出部分靠近所述电压生成单元，且所述凸出部分的宽度与所述套筒内壁的宽度相同。优选的是，所述主体结构的外壁为绝缘层，其内壁为导电层。优选的是，所述电压生成单元包括：压电陶瓷。优选的是，所述报警单元包括：LED灯或声音播放器。解决本技术技术问题所采用的技术方案是一种半导体检测仪，其包括上述的检测装置。本技术具有如下有益效果：本技术所提供的检测装置设置有报警单元，由于该报警单元与电压生成单元电连接，故当探针接触到半导体的测试区域时，绝缘组件能够将探针所受到的压力传导至电压生成单元，以使电压生成单元生成相应的电压，驱动报警单元进行报警，从而告知操作者该探针已接触到待进行测试的测试区域，使其停止向测试区域插入探针，进而避免由于操作者在插入探针的时候，观察不够仔细，或者插入探针的力度过大，使探针与半导体的测试区域发生碰撞，使得探针发生弯曲变形，损坏探针的问题的发生；进一步地，避免了由于探针与测试区域接触的表面很尖锐，在探针碰撞待进行测试的测试区域时，尖锐的探针很可能会划伤该测试区域，进而损坏半导体的问题的发生。附图说明图1为本技术的实施例1的检测装置的结构图；图2为本技术的实施例1的检测装置的部分结构图；图3为本技术的实施例2的检测装置的部分结构图；其中附图标记为：1、套筒；2、主体结构；3、电压生成单元；4、伸缩组件；5、绝缘组件；6、探针；7、报警单元。具体实施方式为使本领域技术人员更好地理解本技术的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本技术作进一步详细描述。除非另外定义，本技术使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本技术中使用的“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“上”、“下”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。实施例1：如图1和图2所示，本实施例提供一种检测装置，其包括：主体结构2、探针6、绝缘组件5、电压生成单元3、报警单元7；其中，主体结构2的内部为中空腔体；探针6插设在主体结构2的一端；绝缘组件5设置在主体结构2的中空腔体内，且靠近探针6的一端，并与该探针6相接触；电压生成单元3设置在主体结构2的中空腔体内，并位于绝缘组件5远离探针6的一侧；报警单元7与电压生成单元3电连接；其中，绝缘组件5能够在探针6受到压力时，沿主体结构2的中空腔体的长度方向运动，并将探针6所受到的压力传导至电压生成单元3，以使电压生成单元3生成相应的电压，驱动报警单元7进行报警。由于本实施例所提供的检测装置具有上述结构，故当操作者使用本实施例中的检测装置对半导体的测试区域进行测试，且探针6接触到待测试区域表面并不断插入待测试区域时，待测试区域会向探针6施加一个与探针6的运动方向相反的作用力，该作用力经过绝缘组件5传导给电压生成单元3，以使电压生成单元3能够生成相应的电压，驱动报警单元7进行报警，以此来通知操作者探针6已接触到测试区域的表面，从而解决了现有技术中的操作者在对半导体的待测试区域进行测试时，由于其无法明确探针6与待测试区域的位置关系，使得操作者在向测试区域插入探针6的时候，探针6与半导体的测试区域发生碰撞，从而导致探针6发生弯曲变形，损坏探针6的问题；进而避免了尖锐的探针6划伤该测试区域，以损坏半导体的情况的发生。实施例2：如图2和图3所示，本实施例提供了一种可以通知操作者探针6已接触到半导体的测试区域，以防止尖锐的探针6损坏该测试区域，进一步地损坏半导体的检测装置，其包括：主体结构2、探针6、绝缘组件5、电压生成单元3、报警单元7；其中，主体结构2的内部为中空腔体；探针6插设在主体结构2的一端；绝缘组件5设置在主体结构2的中空腔体内，且靠近探针6的一端，并与该探针6相接触；电压生成单元3设置在主体结构2的中空腔体内，并位于绝缘组件5远离探针6的一侧；报警单元7与电压生成单元3电连接；其中，绝缘组件5能够在探针6受到压力时，沿主体结构2的中空腔体的长度方向运动，并将探针6所受到的压力传导至电压生成单元3，以使电压生成单元3生成相应的电压，驱动报警单元7进行报警。其中，本实施例优选的，电压生成单元3包括：压电陶瓷，该压电陶瓷可在外界压力的作用下，向外放电，也即向与其电连接的报警单元7放电，以驱动报警单元7进行报警。当然，电压生成单元3也不局限于压电陶瓷，也可以采用其他能够在压力所用下产生电压的器件。其中，本实施例优选的，报警单元包括：LED灯或声音播放器。当然，报警单元7还可以为其它器件，只要其能够在接收到与其电连接的电压生成单元3所放出的电信号后，向外放出警示信号，以使使用该检测装置的操作者知道探针6已接触到半导体的测试区域，无需再向半导体的测试区域插入探针6即可，在此不再赘述。其中，本实施例优选的，检测装置还包括：伸缩组件4，该伸缩组件4的一端连接绝缘组本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测装置，其特征在于，包括：主体结构，其内部为中空腔体；探针，插设于所述主体结构的一端；绝缘组件，设置在所述主体结构的中空腔体内，且靠近所述探针的一端，并与所述探针相接触；电压生成单元，设置在所述主体结构的中空腔体内，位于所述绝缘组件远离所述探针的一侧；报警单元，其与所述电压生成单元电连接；所述绝缘组件能够在所述探针受到压力时，沿所述主体结构的中空腔体的长度方向运动，并将所述探针所受到的压力传导至所述电压生成单元，以使所述电压生成单元生成相应的电压，驱动所述报警单元进行报警。

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，包括：主体结构，其内部为中空腔体；探针，插设于所述主体结构的一端；绝缘组件，设置在所述主体结构的中空腔体内，且靠近所述探针的一端，并与所述探针相接触；电压生成单元，设置在所述主体结构的中空腔体内，位于所述绝缘组件远离所述探针的一侧；报警单元，其与所述电压生成单元电连接；所述绝缘组件能够在所述探针受到压力时，沿所述主体结构的中空腔体的长度方向运动，并将所述探针所受到的压力传导至所述电压生成单元，以使所述电压生成单元生成相应的电压，驱动所述报警单元进行报警。2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：伸缩组件，所述伸缩组件的一端连接所述绝缘组件，其另一端连接所述电压生成单元。3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述伸缩组件包括：弹簧。4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：中空结构的套筒，其设置在所述主体结构的中空腔体内，且所述套筒的外壁与所述主体结...

【专利技术属性】
技术研发人员：王锦谦，李城钢，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11