【技术实现步骤摘要】
多芯片的大型触摸屏系统
本专利技术属于一种多芯片连接设计、走线及提高抗干扰信号能力的大型触摸屏系统领域。
技术介绍
当前触摸屏主要采用行列矩阵式的电极设计形式,即由多个横向检测通道与列向检测通道交错,在它们的交错处形成互耦电容,当人手触摸后互耦电容受到影响发生变化,进而被检测到。而为了实现比较良好的检测准确度,一般屏幕检测通道的尺寸宽度在4mm~4.5mm为最佳情况,而对于大型触摸屏,其通道数目就会变得非常多,一般的触摸IC通道数不够,从而产生了多芯片组合的方案,如专利CN201110103397提供的3触摸芯片+1处理器的多芯片方案;该专利采用多芯片组合方式后,虽然能够实现TP的检测精度要求,但其由于通道数目太多,须要留出足够大的尺寸边框来进行走线,这样的设计会导致走线边框很大;同时由于走线距离过长,容易受到外界的干扰。针对上述问题,如专利CN201110103704采用在屏幕的上下部各用芯片分别连接屏幕上下区域,这样可以使两边的走线相比于从一边引出时减少一半,即而可以实现更窄的边框,并且最远的走线距离也能够缩短近一半,也能一定程度上减少噪声干扰等情况,但是当屏 ...
【技术保护点】
1.一种多芯片大型触摸屏系统,包括:至少1颗主芯片、若干触摸检测芯片、连接线、屏幕;其特征在于:触摸检测芯片与主芯片通过单独走线方式或联合走线方式与屏幕连接;触摸检测芯片与主芯片单独检测屏幕和/或协同检测屏幕。
【技术特征摘要】
1.一种多芯片大型触摸屏系统,包括:至少1颗主芯片、若干触摸检测芯片、连接线、屏幕;其特征在于:触摸检测芯片与主芯片通过单独走线方式或联合走线方式与屏幕连接;触摸检测芯片与主芯片单独检测屏幕和/或协同检测屏幕。2.根据权利要求1所述的多芯片大型触摸屏系统,所述的主处理芯片对若干触摸检测芯片具备实时的程序更新和参数配置功能;主系统具备对所述的主处理芯片升级功能;所述的多芯片...
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