校准装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及用于校准网络分析仪的校准阵列(10，50)，该阵列具有用于直接或间接连接到网络分析仪的多个校准点(18、20、22、24)，以及连接所述校准点(18、20、22、24)的主体部，所述校准点(18、20、22、24)中的至少一个相对于所述主体部可旋转。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】校准装置
本专利技术涉及一种校准装置和用于校准装置的操作方法。
技术介绍
WO2006/034801指出，在对受测装置的传输和反射系数进行测量之前，必须校准矢量网络分析仪。在这种情况下，针对彼此不同的各个已知校准件，基于计算的误差项，在目标的实际测量期间进行的系统错误校正的辅助下进行系数测量。所使用的校准件是例如开路校准件、短路校准件、负载校准件、匹配校准件或直通校准件，依序将其连接到测量端口。已知将这些校准件设置在例如主体部中，连接件从所述主体部横向伸出。通过插头和线缆将包括固定大小的校准点的这些校准单元连接到用于校准的网络分析仪的相应测量端口。例如，EP2101182A2描述了用在实验室中校准矢量网络分析仪的装置。在这种情况下，依序将各种校准组件连接到网络分析仪。举例而言，当要在现场或在外面校准网络分析仪时，这种装置可能是不利的，这是因为出于这个目的必须携带大量的单个部件。为了避免这种情况，从现有技术中已知各种紧凑型校准工具，例如AnritsuTOSLK(F)A-40或Spinner533898。然而，已知的现有技术通常具有对例如校准工具的使用寿命有不利影响的机械缺点、或对校准的本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种校准装置(10、50)，其用于校准网络分析仪，包括：多个校准点(18、20、22、24)，其用于直接或间接连接到网络分析仪；主体部(10)，其包括所述校准点(18、20、22、24)；其中所述校准点(18、20、22、24)中的至少一个相对于所述主体部的至少一个部件(14、16)可旋转。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2016.04.13 DE 102016004527.21.一种校准装置(10、50)，其用于校准网络分析仪，包括：多个校准点(18、20、22、24)，其用于直接或间接连接到网络分析仪；主体部(10)，其包括所述校准点(18、20、22、24)；其中所述校准点(18、20、22、24)中的至少一个相对于所述主体部的至少一个部件(14、16)可旋转。2.根据权利要求1所述的校准装置(10、50)，其中，所述主体部(12)包括第一主体部件(14)和第二主体部件(16)，其中所述第二主体部件相对于所述第一主体部件可旋转。3.根据权利要求2所述的校准装置(10、50)，其中，所述第一主体部件通过至少一个连接元件(26)连接到所述第二主体部件。4.根据权利要求3所述的校准装置(10、50)，其中，所述至少一个连接元件设计为螺钉、驱动销钉、磁体或类似物。5.根据权利要求3或4所述的校准装置(10、50)，其中，通过所述连接元件来调节针对旋转所述第一主体部件和/...

【专利技术属性】
技术研发人员：马塞尔·潘尼克，马库斯·米勒，罗尼·马克，
申请(专利权)人：罗森伯格高频技术有限及两合公司，
类型：发明
国别省市：德国,DE