一种自动压紧机构制造技术

本实用新型专利技术属于IC烧录测试设备技术领域，尤其涉及一种自动压紧机构，包括底座，还包括移动下压装置，驱动所述移动下压装置完成下压的电机，用于放置IC或模块的测试固定装置，所述测试固定装置包括装有测试针的测试底座、设置于所述测试底座上方用于定位IC或模块的测试座；所述移动下压装置包括将电机的旋转运动转化为前后运动的滑动组件、将滑动组件的前后运动转化为下压运动的下压组件，所述下压组件前端连接有用于将IC或模块压紧的压板块。本实用新型专利技术整体结构紧凑，压紧充分成功率高，效率高，适合配合各组自动化设备实现高效高负荷的大批量生产。

【技术实现步骤摘要】
一种自动压紧机构
本技术属于IC烧录测试设备
，尤其涉及一种自动压紧机构。
技术介绍
特殊封装的IC如引脚数量超过100个的QFPQFNBGA封装的IC，或非标准化的各类电子模块，如无线发射或接收的WIFI模块，电源模块，信号处理模块等。上述产品的电气性能测试及原始程序的烧录(载入或写入)对相关治具的精度都要求很高，因为要使众多数量的引脚都能充分接触(确保每个引脚的接触电阻接近于零)，并且被测对象体积又比较大，甚至不规则形状，所以在处理时保证各点的压力均衡就非常重要。现有的技术手段基本上有两种，一种普遍称作下压测试架，其工作原理为：通过手动或外力上抬或下压上下活动机构，由上下活动机构带动压紧块上下运动从而实现对被测IC或模块的压紧或松开,另一种普遍称作翻盖测试座，其工作原理为：设置在测试座一侧的翻盖机构通过旋转翻盖对被测IC或模块进行压紧或松开。下压测试架方式的特点是体积很大，测试运动机构行程长，适合手工操作，优点是测试接触充分，维修方便，成功率高寿命长。翻盖测试座方式的特点是体积相对较小，测试运动机构行程短，可实现自动化操作，但对于体积较大对象时，会产生受力不均，易损坏测试针，成功率低的特点。现有的两种工作方式各有优缺点，下压测试架的方式实现自动化生产难度很大，会产生效率低，占用大量有效空间。翻盖测试座方式由于翻盖的运动弧度大，也同样会产生影响效率，占用空间的不利，并且成功率低。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种结构紧凑，便于大数量引脚IC或模块的进行稳定测试的机构。本技术的技术方案为：提供一种自动压紧机构，包括底座，还包括移动下压装置，驱动所述移动下压装置完成下压的电机，用于放置IC或模块的测试固定装置，所述测试固定装置包括装有测试针的测试底座、设置于所述测试底座上方用于定位IC或模块的测试座；所述移动下压装置包括将电机的旋转运动转化为前后运动的滑动组件、将滑动组件的前后运动转化为下压运动的下压组件，所述下压组件前端连接有用于将IC或模块压紧的压板块。优选地，所述滑动组件包括与电机运动输出端相连的联轴器、与联轴器相连的T型丝杆，所述T型丝杆上穿设有后滑动块和前滑动块，所述后滑动块靠近所述联轴器，所述后滑动块中部通过丝杆滑套与T型丝杆相连，所述前滑动块与所述后滑动块两侧连有联动推杆，所述联动推杆靠近所述测试固定装置的一端设有倾斜面。优选地，所述下压组件包括通过联动轴承与联动推杆的倾斜面相连的旋转摇臂，所述联动轴承与所述联动推杆的倾斜面相切，两旋转摇臂间设有压板块。优选地，所述压板块通过上顶弹簧固定在压板滑动架上，所述底座两侧设有从前至后依次穿过压板滑动架、前滑动块和后滑动块下端通孔的滑动轴，压板滑动架、前滑动块和后滑动块的下端通孔与滑动轴之间均设有直线轴承。优选地，所述旋转摇臂中部下端设有旋转轴承，所述压板块两侧设有凸出的转动轴承，所述旋转轴承套设在所述转动轴承外圈。优选地，所述压板滑动架和前滑动块两侧底部连有联动片，所述联动片前部通过锁紧钮固定在压板滑动架上，所述联动片后部设有腰型孔，所述前滑动块两侧设有可在联动片腰型孔内前后移动的联动片轴承。优选地，所述压板滑动架与所述前滑动块之间的滑动轴上设有连接压板滑动架与前滑动块的水平推动弹簧。优选地，靠近所述测试座前端处的滑动轴上设有限位挡块。本技术的有益效果为：本技术整体结构紧凑，测试运动机构行程短，安装方便，维护方便，高度最小化，压紧充分成功率高，效率高。并且可根据实际需求适当调整适用尺寸，来适应不同种类的测试对象。本机构非常适合配合各种自动化设备，实现高效高负荷的大批量生产。附图说明图1是本技术自动压紧机构的整体结构图。图2是本技术自动压紧机构的结构分解图。图3是本技术自动压紧机构压紧被测IC或模块时的示意图。图4是本技术自动压紧机构在自动IC或模块机中的应用示意图。具体实施方式本技术下面将结合附图作进一步详述：请参阅图1至图3，本技术提供了一种自动压紧机构，包括底座26，还包括移动下压装置，驱动所述移动下压装置完成下压的电机1，用于放置IC或模块的测试固定装置，所述测试固定装置包括装有测试针27的测试底座21、设置于所述测试底座21上方用于定位IC或模块的测试座20；所述移动下压装置包括将电机的旋转运动转化为前后运动的滑动组件、将滑动组件的前后运动转化为下压运动的下压组件，所述下压组件前端连接有用于将IC或模块压紧的压板块11。所述滑动组件包括与电机运动输出端相连的联轴器2、与联轴器2相连的T型丝杆9，所述T型丝杆9上穿设有后滑动块5和前滑动块8，所述后滑动块5靠近所述联轴器2，所述后滑动块5中部通过丝杆滑套7与T型丝杆9相连，所述前滑动块8与所述后滑动块5两侧连有联动推杆3，所述联动推杆3靠近所述测试固定装置的一端设有倾斜面6。所述下压组件包括通过联动轴承10与联动推杆3的倾斜面6相连的旋转摇臂16，所述联动轴承10与所述联动推杆3的倾斜面6相切，两旋转摇臂16间设有压板块11。所述压板块11通过上顶弹簧17固定在压板滑动架18上，所述底座26两侧设有从前至后依次穿过压板滑动架18、前滑动块8和后滑动块5下端通孔的滑动轴22，压板滑动架18、前滑动块8和后滑动块5的下端通孔与滑动轴22之间均设有直线轴承4。所述旋转摇臂16中部下端设有旋转轴承25，所述压板块11两侧设有凸出的转动轴承26，所述旋转轴承25套设在所述转动轴承26外圈。所述压板滑动架18和前滑动块8两侧底部连有联动片14，所述联动片14前部通过锁紧钮15固定在压板滑动架18上，所述联动片14后部设有腰型孔，所述前滑动块8两侧设有可在联动片14腰型孔内前后移动的联动片轴承12。所述压板滑动架18与所述前滑动块8之间的滑动轴22上设有连接压板滑动架18与前滑动块8的水平推动弹簧13。靠近所述测试座20前端处的滑动轴22上设有限位挡块23。本技术的工作原理：电机1的正转或反转带动T型丝杆9的运动，T型丝杆9将旋转运动通过后滑动块5的丝杆滑套7转换为水平方向上的向后运动。后滑动块5与前滑动块8由左右两个联动推杆3相连接，所以保持同步运动。压板滑动架18通过联动片14与前滑动块8连接，当水平推动弹簧13自然平衡时，联动片14的末端挂在前滑动块8的联动片轴承12上，此时压板滑动架18与前、后滑动块保持同步运动。两个旋转摇臂16的后端安装了两个联动轴承10，其切线面与联动推杆3的倾斜面6重合，当水平推动弹簧13自然平衡时联动轴承10与联动推杆3的切线相交在联动推杆3倾斜面6的最低端。此时旋转摇臂16的前端上抬至最高点，压板块11两侧的轴承与旋转摇臂16前端的下切线面重合，压板滑动架18上的压板块11由于受上顶弹簧17的作用保持上抬状态。压板滑动架18上的压板块11的上下运动是靠旋转摇臂16的正反运动实现的，当正时针运动时，压板块11上抬，反之下压。下压力度取决控制系统对电机1的精准控制。请参阅图1所示，自动压紧机构在图1状态时，电机1正向旋转带动联轴器2与T型丝杆9运动，T型丝杆9将旋转运动通过后滑动块5的丝杆滑套7转换为水平方向上的向后运动，此时：前滑动块8与后滑动块5，压板滑动架18均保持同步运行。旋转摇臂16正时针旋转本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动压紧机构，包括底座，其特征在于，还包括移动下压装置，驱动所述移动下压装置完成下压的电机，用于放置IC或模块的测试固定装置，所述测试固定装置包括装有测试针的测试底座、设置于所述测试底座上方用于定位IC或模块的测试座；所述移动下压装置包括将电机的旋转运动转化为前后运动的滑动组件、将滑动组件的前后运动转化为下压运动的下压组件，所述下压组件前端连接有用于将IC或模块压紧的压板块。

【技术特征摘要】
1.一种自动压紧机构，包括底座，其特征在于，还包括移动下压装置，驱动所述移动下压装置完成下压的电机，用于放置IC或模块的测试固定装置，所述测试固定装置包括装有测试针的测试底座、设置于所述测试底座上方用于定位IC或模块的测试座；所述移动下压装置包括将电机的旋转运动转化为前后运动的滑动组件、将滑动组件的前后运动转化为下压运动的下压组件，所述下压组件前端连接有用于将IC或模块压紧的压板块。2.根据权利要求1所述的自动压紧机构，其特征在于，所述滑动组件包括与电机运动输出端相连的联轴器、与联轴器相连的T型丝杆，所述T型丝杆上穿设有后滑动块和前滑动块，所述后滑动块靠近所述联轴器，所述后滑动块中部通过丝杆滑套与T型丝杆相连，所述前滑动块与所述后滑动块两侧连有联动推杆，所述联动推杆靠近所述测试固定装置的一端设有倾斜面。3.根据权利要求2所述的自动压紧机构，其特征在于，所述下压组件包括通过联动轴承与联动推杆的倾斜面相连的旋转摇臂，所述联动轴承与所述联动推杆的倾斜面相切，两旋...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯惠宁，
申请(专利权)人：深圳市欧得电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东,44