一种提升显示面板质量的方法及系统技术方案

技术编号:19024844 阅读:55 留言:0更新日期:2018-09-26 19:26
本发明专利技术公开了一种提升显示面板质量的方法及系统,通过ID标定,测量各个区域块的亮度/色度/Mura数据,对各区域块的数据进行深度学习,得到一组ID对应的初始CODE值,使得显示面板呈现的亮度/色度/均匀性更加,通过在线管理系统进行绑定记录,在该产线的后续生成中,根据ID编号,直接赋予切割后的显示面板CODE初值,从而减少后段Gamma/Demua的调节时间,提高产线TT,提高产能,降低成本。

【技术实现步骤摘要】
一种提升显示面板质量的方法及系统
本专利技术属于显示检测
,涉及一种提升显示面板质量的方法及系统,应用于OLED(OrganicLight-EmittingDiodeDisplay)、LCD(LiquidCrystalDisplay)等新型显示面板中,能够快速提升产能和质量等级。
技术介绍
OLED、LCD等新型显示面板具有高分辨率、高灰度以及无几何变形等优点,其制造工艺复杂,主要包括ARRAY(阵列)、CELL(面板成型)和MODULE(模组构装)三大工序,且每一个大工序中又包含十几至几十个小工序,而且随着平面显示器的尺寸越做越大,其灰度的均匀性也越来越难控制,因此在制造过程中难免会出现各种显示缺陷。另一方面,OLED、LCD等新型显示面板是由大玻璃基板切割而成,而大玻璃基板因制造设备及制造工艺等原因在不同区域块呈现的质量不同,一般在面板的中间呈现的质量较好,在周边区域呈现的质量较差;同一批次(或产线)生产的大玻璃基板所呈现的质量分布情况基本相同,即各个大玻璃基板对应的各区域块所呈现的质量情况基本一致。大玻璃基板在ARRAY、CELL工序中因使用的工艺设备如曝光机、蒸镀机、切本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提升显示面板质量的方法,其特征在于,包括以下获取CODE初值的步骤:步骤1:将大玻璃基板样板划分为m*n块区域,分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn,其中,i、j、m、n均为大于0的正整数;步骤2:对该大玻璃基板样板进行切割,获得与该m*n块区域一一对应的m*n块显示面板样板;步骤3:分别对该m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作,获得一组与该m*n块显示面板样板一一对应的第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据;步骤4:将该组第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、I...

【技术特征摘要】
1.一种提升显示面板质量的方法,其特征在于,包括以下获取CODE初值的步骤:步骤1:将大玻璃基板样板划分为m*n块区域,分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn,其中,i、j、m、n均为大于0的正整数;步骤2:对该大玻璃基板样板进行切割,获得与该m*n块区域一一对应的m*n块显示面板样板;步骤3:分别对该m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作,获得一组与该m*n块显示面板样板一一对应的第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据;步骤4:将该组第一gamma寄存器值、和/或第一Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定,作为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值。2.根据权利要求1所述的提升显示面板质量的方法,其特征在于,还包括在Array和/或CELL工序中标定的步骤:对曝光机、和/或蒸镀机、和/或切割机进行标定,分别记为Ex、和/或Ty、和/或Cz;并将Ex、和/或Ty、和/或Cz与该ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定。3.根据权利要求1所述的提升显示面板质量的方法,其特征在于,还包括以下步骤:依据该m*n块区域对大玻璃基板切割获得m*n块显示面板,分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn;分别将ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值设定为对应的显示面板的CODE初值。4.根据权利要求3所述的提升显示面板质量的方法,其特征在于,分别对该m*n块显示面板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作,获得一组与该m*n块显示面板一一对应的第二gamma寄存器值、和/或第二Mura修复数据;将该组第二gamma寄存器值、和/或第二Mura修复数据分别与对应的ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn进行绑定,作为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn的CODE初值。5.一种提升显示面板质量的方法,其特征在于,包括以下获取CODE初值的步骤:步骤1:将大玻璃基板样板划分为m*n块区域,分别标定为ID11、ID12、…、IDij、…、IDmn,其中,i、j、m、n均为大于0的正整数;步骤2:对N块大玻璃基板样板进行切割,获得N组m*n块显示面板样板;步骤3:获取该N组m*n块显示面板样板的特征信息,并分别对该N组m*n块显示面板样板进行gamma调节操作、和/或Mura修复操作,获得该N组m*n块显示...

【专利技术属性】
技术研发人员:花华妹郑增强
申请(专利权)人:武汉精测电子集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖北,42

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