光学模组及其测试方法以及点阵投影器技术

技术编号:18987930 阅读:50 留言:0更新日期:2018-09-22 00:11
本发明专利技术涉及一种光学模组及其测试方法以及点阵投影器。该光学模组,包括:光源组件;集光组件,设于光源组件上,并形成位于集光组件与光源组件之间的第一间隙;绕射式光学组件,设于集光组件的表面上,并形成位于绕射式光学组件与集光组件之间的第二间隙,第二、第一间隙正对设置;第一导电层,设于光源组件上;第二导电层,设于集光组件上,且与第一导电层正对设置;第三导电层,设于绕射式光学组件上,且与第二导电层正对设置;相邻两导电层用于连接至电容侦测电路。从而可以通过检测第二、第一导电层之间的第一电容以及第二、第三导电层之间的第二电容,通过比对监测电容和预设电容,即可获得光学模组的性能。

Optical module and its testing method and dot matrix projector

The invention relates to an optical module, a test method and a dot matrix projector. The optical module comprises: a light source module; a light collecting module arranged on the light source module and forming a first gap between the light collecting module and the light source module; a diffraction optical module arranged on the surface of the light collecting module and forming a second gap between the diffraction optical module and the light collecting module; and a second and a first gap between the diffraction optical module and the light collecting module. The first conductive layer is arranged on the light source assembly, the second conductive layer is arranged on the light collector assembly and is positively arranged on the first conductive layer, the third conductive layer is arranged on the diffraction optical assembly and is positively arranged on the second conductive layer, and the adjacent two conductive layers are connected to the capacitive detection circuit. The performance of the optical module can be obtained by detecting the first capacitance between the second and the first conductive layers and the second capacitance between the second and the third conductive layers, and by comparing the monitoring capacitance and the preset capacitance.

【技术实现步骤摘要】
光学模组及其测试方法以及点阵投影器
本专利技术涉及光学
特别是涉及一种光学模组及其测试方法以及点阵投影器。
技术介绍
3D人脸识别(FaceID)替代触摸式指纹解锁(TouchID),革新了消费电子产品的用户交互界面。其中,FaceID主要用到点阵投影器以及红外镜头,点阵投影器可以向外投射出3万个肉眼不可见的红外点光源至人脸上,由红外镜头拍摄一张红外照片,根据照片上的位移变形情况,分析出人脸的景深信息,并由此合成相应的人脸3D模型。如图1所示,点阵投影器的光学模组10包括依次间隔设置的光源组件12、集光组件14以及绕射式光学组件16,其中,绕射式光学组件16包括间隔设置的第一光学元件16a与第二光学元件16b。光源组件12发出的红外光10a经集光组件14扩束、准直后形成横截面较大且均匀的准直光束,然后再经绕射式光学组件16形成点阵图案,再投射出去。光源组件12与集光组件14之间的间隙为第一间隙(Airgap)13,集光组件14与绕射式光学组件16之间的间隙为第二间隙15,第一光学元件16a与第二光学元件16b之间的间隙为第三间隙17。其中,第一间隙13、第二间隙15以及第三间隙本文档来自技高网...
光学模组及其测试方法以及点阵投影器

【技术保护点】
1.一种光学模组,其特征在于,包括:光源组件;集光组件,设于所述光源组件的出光线路上,并形成位于所述集光组件与所述光源组件之间的第一间隙;绕射式光学组件,设于所述集光组件远离所述光源组件的表面上,并形成位于所述绕射式光学组件与所述集光组件之间的第二间隙,所述第二间隙与所述第一间隙正对设置;第一导电层,设于所述光源组件上;第二导电层,设于集光组件上,且与所述第一导电层正对设置;以及第三导电层,设于绕射式光学组件上,且与所述第二导电层正对设置;其中,所述第一导电层、所述第二导电层及所述第三导电层中相邻的两者用于连接至电容侦测电路,以形成互电容控制回路。

【技术特征摘要】
1.一种光学模组,其特征在于,包括:光源组件;集光组件,设于所述光源组件的出光线路上,并形成位于所述集光组件与所述光源组件之间的第一间隙;绕射式光学组件,设于所述集光组件远离所述光源组件的表面上,并形成位于所述绕射式光学组件与所述集光组件之间的第二间隙,所述第二间隙与所述第一间隙正对设置;第一导电层,设于所述光源组件上;第二导电层,设于集光组件上,且与所述第一导电层正对设置;以及第三导电层,设于绕射式光学组件上,且与所述第二导电层正对设置;其中,所述第一导电层、所述第二导电层及所述第三导电层中相邻的两者用于连接至电容侦测电路,以形成互电容控制回路。2.根据权利要求1所述的光学模组,其特征在于,所述第一导电层集成于所述光源组件内,且与所述第一间隙正对设置;或者,所述第一导电层集成于所述光源组件内或设于所述光源组件靠近所述集光组件的表面上,且环绕所述第一间隙设置;所述第二导电层集成于所述集光组件内,且与所述第二间隙正对设置;或者,所述第二导电层集成于所述集光组件内或设于所述集光组件靠近所述绕射式光学组件的表面上,且环绕所述第二间隙设置。3.根据权利要求1所述的光学模组,其特征在于,所述第一导电层及所述第二导电层均呈环形,且环绕所述第一间隙设置;或者,所述第一导电层包括多个第一导电块,多个所述第一导电块环绕所述第一间隙间隔设置,所述第二导电层包括多个第二导电块,多个所述第二导电块环绕所述第二间隙间隔设置,所述第二导电块的数目与所述第一导电块的数目相同,且一一正对。4.根据权利要求1所述的光学模组,其特征在于,所述绕射式光学组件包括第一光学元件及第二光学元件,所述第一光学元件设于所述集光组件远离所述光源组件的表面上,并形成位于所述第一光学元件与所述集光组件之间的所述第二间隙,所述第二光学元件设于所述第一光学元件远离所述集光组件的表面上,并形成位于所述第二光学元件与所述第一光学元件之间的第三间隙,所述第三间隙与所述第二间隙正对设置,所述第三导电层设于所述第一光学元件上;所述光学模组还包括第四导电层,所述第四导电层设于所述第二光学元件上,且与所述第三导电层正对设置,所述第四导电层用于连接至电容侦测电路,以形成互电容控制回路。5.根据权利要求4所述的光学...

【专利技术属性】
技术研发人员:魏福呈廖致霖
申请(专利权)人:业成科技成都有限公司业成光电深圳有限公司英特盛科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:四川,51

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