一种测距方法及设备技术

技术编号:18970499 阅读:30 留言:0更新日期:2018-09-19 02:50
本发明专利技术公开了一种测距方法及设备,所述测距方法包括步骤:以测距设备为计量点E,分别测量计量点E到第一测量点A的距离SAE和计量点E到第二测量点B的距离SBE;测量直线EA与直线EB的夹角α;以及根据SAE、SBE以及α计算得到第一测量点A到第二测量点B的距离SAB。本发明专利技术所述测距方法能够克服现有测距设备存在的测算值不准确或无法测算的问题,采用本发明专利技术所述测距方法及设备,能够高效准确的测量出物体上任意两点间的直线距离。

A ranging method and equipment

The invention discloses a ranging method and equipment. The ranging method comprises the following steps: taking the ranging equipment as the measuring point E, measuring the distance from the measuring point E to the first measuring point A and the distance from the measuring point E to the second measuring point B, measuring the angle between the straight line EA and the straight line EB, and calculating the first according to SAE, SBE and alpha, respectively. Measure point A to second the distance B of measuring point SAB. The distance measuring method can overcome the problem of inaccurate or unable to calculate the measuring value existing in the existing distance measuring equipment. By adopting the distance measuring method and equipment, the linear distance between any two points on the object can be measured efficiently and accurately.

【技术实现步骤摘要】
一种测距方法及设备
本专利技术涉及测距
,尤其涉及一种测距方法及设备。
技术介绍
现有激光测距设备一般使用脉冲法测量设备所在点到目标点的距离(D=ct/2),而要测某一物体长度或两点之间的直线距离时使用勾股测量法,而勾股测量时需要测量测试点到目标物所在直线或两点连线的垂直距离,当垂直点与目标物两端不在同一个平面,或理论垂直点处于悬空时,最终测算值将会不准确或无法测算出。例如,如图1所示,目标物与c的交线是虚线,也就是测距仪与目标物的垂直交点不在目标物上,无法测算出c,如图2所示,测出的c值与实际值不符。因此,现有技术还有待于改进和发展。
技术实现思路
鉴于上述现有技术的不足,本专利技术的目的在于提供一种测距方法及设备,从而克服现有的测距设备存在当垂直点与目标物两端不在同一个平面时,测算值不准确或无法测算出的问题。本专利技术的技术方案如下:本专利技术提供了一种测距方法,其中,包括:步骤S100、以测距设备为计量点E,分别测量计量点E到第一测量点A的距离SAE和计量点E到第二测量点B的距离SBE;步骤S200、测量直线EA与直线EB的夹角α;以及步骤S300、根据SAE、SBE以及α计本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测距方法,其特征在于,包括:步骤S100、以测距设备为计量点E,分别测量计量点E到第一测量点A的距离SAE和计量点E到第二测量点B的距离SBE;步骤S200、测量直线EA与直线EB的夹角α;以及步骤S300、根据SAE、SBE以及α计算得到第一测量点A到第二测量点B的距离SAB。

【技术特征摘要】
1.一种测距方法,其特征在于,包括:步骤S100、以测距设备为计量点E,分别测量计量点E到第一测量点A的距离SAE和计量点E到第二测量点B的距离SBE;步骤S200、测量直线EA与直线EB的夹角α;以及步骤S300、根据SAE、SBE以及α计算得到第一测量点A到第二测量点B的距离SAB。2.根据权利要求1所述的测距方法,其特征在于,所述步骤S100中,通过激光分别测量计量点E到第一测量点A的距离SAE和计量点E到第二测量点B的距离SBE。3.根据权利要求1所述的测距方法,其特征在于,所述步骤S200中,通过陀螺仪测量直线EA与直线EB的夹角α。4.根据权利要求1所述的测距方法,其特征在于,所述步骤S300中,第一测量点A到第二测量点B的距离SAB的计算方法为:SAB=SQRT(SAE*SAE+SBE*SBE–2*SAE*SBE*COS(α))。5.根据权利要求1所述的测距方法,其特征在于,所述步骤S300之后还包括:步骤S400、显示第一测量点A到第二测量点B的距离SAB。6....

【专利技术属性】
技术研发人员:岑亮陈海彬
申请(专利权)人:深圳市朗恒电子有限公司
类型:发明
国别省市:广东,44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1